Патенты с меткой «микроотверстия»

Устройство для измерения неперпендикулярности оси микроотверстия к оси детали

Загрузка...

Номер патента: 333393

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Изо, Карпов, Ленинградский

МПК: G01B 5/245

Метки: детали, микроотверстия, неперпендикулярности, оси

...призмой, а угломер имсет размещенные на основании угловую шкалу и поворотную стрелку, и в качестве калибра используется помещасмая в полость детали жидкость.Это позволяет измерять неперпсндикулярность оси микроотверстия к оси полой детали.На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство в двух проекциях; на фиг. 2 - разрез по А - А на фиг. 1.Устройство содержит основание 1, установленный на основании ползун 2 с двумя направляющими стержнями т и 4, скрспленными траверсои 5, подвижную вдоль спланку б с каналом 7 для подводабазирующуо призму 8, закрепленнуюзунс,5 Угломер имеет размещенные на основанииугловую шкалу 9 и поворотную стрелку 10.В качестве калибра используется помещаемаяв полость детали 11 жидкость,Деталь 11 с микроотверстием...

Устройство для измерения длины микроотверстия кондуктометрического импульсного датчика

Загрузка...

Номер патента: 1226180

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Ватмахер, Рабинович

МПК: G01N 15/12

Метки: датчика, длины, импульсного, кондуктометрического, микроотверстия

...и других отраслях промьппленности.Цель изобретения - повьппение оперативности контроля путем непрерывного измерения средней длительности 10импульсов датчика,На чертеже представлена структурная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит кондуктометрический импульсный датчик 1, усилитель 2 импульсов, дискриминатор 3,.первый интенсиметр 4, второй интенсиметр 5, блок 6 деления и индикатор 7.Устройство работает следующим 20образом.При прохождении частицы черезмикроотверстие кондуктометрическогоимпульсного датчика 1 генерируетсяэлектрический импульс. Этот импульс 25усиливается усилителем 2 и поступает на вход дискриминатора 3, Импульсы на выходе дискриминатора имеютпрямоугольную форму, они стандартизованы по амплитуде и их...