Способ диагностики плазменных струй
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
322706 Соки Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельствал. 6 01 п 23/02 Н 05 Ь 1/02 Заявлено 31 Л 11.1970 ( 1420931/26-25) иоритет Комитет по делом зобретвний и открытийата опубликования описания 10.Х 1.19 вторыобретения Л, Н. Пятницкий и В. В. Кржижановског аявитель ЫХ СТРУЙ СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗ рования помешен дополнительныи электромагнит 3 с перемененным магнитным полем. На дополнительный электромагнит лодают перемененный тоот, в результате чего,происходит смещение плазменной струи 4 в положении б и б попеременно, Для измерения параметров плазмы по всему выбранному сечению напряженность магнитного поля дополнительного магнита подбирают таким образом, чтобы струя,в исследуемом сечении смещалась в каждом направлении на расстояниеравное ее радиусу. гных ль они осуществлении даи ния параметров плазьне препятствуют иэм гия,параметров по сесоответствующим обр ту колебаний напря поля дополнительног ктерное время измен мы струи т, то частот 5- обеспечит достато мене мени деле чего часто ного ха,ра плаз времени, ендрие заапример, ия луча быть дсизмененииПри этомвисит стпри исполлазера маведен до -ров струи во ственное разреш ющего луча. Н для зондирован решения может парагмепространзондирузованииштаб раз10- с,тт. рисоединением заявкиергетический институт им Изобретение относится к способам ди ностики;плазменных струй с помощью з дирующего, излучения.Известен способ диапностити плазмен струй, в,котором для определения радиа ного распределения парагметров плазмы з дирующий луч смещают поперек струи Однако в известном способе механические перемещения зондирующих систем, р або тающих с,высокой точностью, приводят к возникновению нестабильностей частоты и интенсивности зондирующего излучения, которые искажают результаты измерения и ограничивают их точность. Кроме того, из мерение радиального распределения параметров плазменной струи известныгм способокг занимает много времени, (и поэтогму,возможности его применения для диагностики плазмеовных струй ограничены. 2Цель изобретения - обеспечить определение параметров плазмьг по сечению, струи,Это доствгается тем, что взаимное перемещение зондирующего луча и плазменной струи осуществляется путем смещения по следней. На чертеже изображена схема одного из ариантов реализации, данного способа.Между источником плазмы 1 (с продольым магнитяным полем) и сечениегм 2 зсндиного способа изты струи во вре. ерениям распречению струи, дл азом подбираю г женности магнит.о магнита, Есл . ения парагметроп а этих колебаний чное разрешение322706 Предмет изобретения Составитель Е, Алешин Техред Т. КурилкоКорректор Г. Запорожец Редактор Ю. Полякова Заказ Зб 92/б Изд.1579 Тираж 406 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 Способ диапностики,плазменных струй, заключающийся в пропускании,зондирующего излучения через плазму, отличающийся тем, что, с целью определения параметров,плазмы по сечению струй, плазменную струю смещают в попаречном направлении с помощью магнитного поля.5
СмотретьЗаявка
1420931
Л. Н. тницкий, В. В. Коробкин Энергетический институт Г. М. Кржижановского
МПК / Метки
МПК: G01N 23/02, H05H 1/02
Метки: диагностики, плазменных, струй
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-322706-sposob-diagnostiki-plazmennykh-strujj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ диагностики плазменных струй</a>
Способ измерения локальных параметров плазмы
Номер патента: 1066446
Опубликовано: 15.10.1984
Авторы: Марголин, Полыновская, Пятницкий, Эдельман
МПК: H05H 1/00
Метки: локальных, параметров, плазмы
...сигналов, принципиальная схема которого приведенана фиг. 2, содержит триггер 10, входкоторого соединен с выходом Фотодетектора 5, а управляющий вход соединен с выходом опорного фотодетектора107, линию 11 задержки, вход которой .соединен с первым выходом триггера10, дифференциальный усилитель 12,суммирующий вход которого соединенс выходом линии 11 задержки, а разностныйвход соединен с вторым выходомтриггера 10, при этом выход дифференциального усилителя 12 соединен с вто рым входом двухканального обращающего усилителя.20Описанное устройство для реализации предложенного способа работаетследующим образом.еСформированный лазером 1 импульсрезонансного излучения модулируетсяпрерывателем 2 излучения, выполненным в виде электрооптического...
Способ определения параметров плазмы
Номер патента: 488124
Опубликовано: 15.10.1975
Авторы: Душин, Скибенко, Степанов
МПК: G01N 23/24
Метки: параметров, плазмы
...с помоц 1 ью схемы, представленной на чертеже,Ввиду того, что изменение рабочей частоты можно производить импульсным образом, то измерение изменения фазового сдвига от частоты можно выполнить, например, методом сравнения определенного изменения фазового сдвига с калиорованным фазовым сдвигом. В схеме сигнал от генератора 1 СВЧ - колебаний по прямоугольным волноводам 2 через ферритовый вентиль 3 и регулируемый аттешоатор 4 поступает в плечо Е двойного тройника 5, затем делится и поступает в симметричные плечи тройника. Сигнал, распространяющийся в одном плече, через антенное устрой тво 6 попадает на плазму с неизменным во времени профилем плотности, отражается от ее критического значения для мгновенного значения частоты и возвращается...
Способ измерения параметров плазмы в магнитном поле
Номер патента: 1072635
Опубликовано: 07.03.1988
Автор: Жуковский
МПК: G21B 1/00
Метки: магнитном, параметров, плазмы, поле
...и широко применяетснв диагностике высокотемпературнойплазмы на установках "Токамак", таккак позволяет достаточно просто инадежно определять поведение в пространстве и во времени одного иэ важнейших параметров плазмы - ее плотности.Однако известный интерферометрический способ не позволяет измерять 45другой важный параметр плазмы, аименно величину и распределение впространстве полоидального магнитного поляили, что то же самое, распределение тока в плазме. Это являет" 5ся следствием того, что используетсяэлектромагнитная волна только с одйой поляризацией, и обычно точностьизмерения сдвигов фаз невысока.Целью изобретения является осуществление измерений попоидальногомагнитного поля в плазме. Для этогов способе измерения параметров плазмы в...
Способ определения параметров плазмы
Номер патента: 586779
Опубликовано: 23.12.1980
Авторы: Гоцубанов, Летучий, Павличенко
МПК: H05H 1/00
Метки: параметров, плазмы
...10 сканирующая система. Интенсивное излучение плазменногофокуса вызывает резонансный переходатомов водорода с невоэбужденного со стояния 15 на уровень 2 р, с последующим спонтанным распадом возбужденногоуровня. Распад вынужденного возбужденного состояния атомов водорода сопровождается излучением электромаг нитной волны на длине волны Х1216 А, причеА интенсивность этогорезонансного излучения пропорциональ;на концентрации атомов водорода в облучаемой точке плазменного объема.25 Йзлучение атомов водорода принимается при помощи фотодетектора, соединенного с плазменной установкой вакуумированным каналом. Нижний предел,измерения концентрации нейтральных 30 атомов водорода составляет 10 см. В. Д. Коцубанов, А. Н. Летучий и О. С....
Способ измерения параметров плазмы в токамаке
Номер патента: 1150663
Опубликовано: 15.04.1985
Авторы: Карулин, Путвинский
МПК: G21B 1/00
Метки: параметров, плазмы, токамаке
...распределенных по поверхности стенкидатчиков и по цвум распределениямпотоков частиц по поверхности судято распределении плотности плазменного тока на поверхности стенки и распределении давления плазмы. 63 аобъема плазменного шнура, включаяокрестность магнитной оси,При таких значениях тока полныйкоэффициент удержания К-частицдостаточно большой (например, при12 МА К, = 953) и поэтому этотдиапазон токов представляет интерескак для реакторных приложений, таки для будущих экспериментов, рассчитанных на исследование плазмы в режиме термоядерного горения. При15,4/А частицы, рождающиеся вокрестности магнитной оси, не выходят на стенку камеры и, следовательно, можно восстановить параметрыплазмы только на периферии плазменного шнура,В дальнейшем...
Предыдущий патент: Эталон для спектроскопии электронного парамагнитного резонанса
Следующий патент: 322707
Случайный патент: Устройство для наполнения шин сжатым воздухом