Способ получения пучка поляризованных ионов

Номер патента: 1580456

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Дацко, Земсков, Стукан, Шишленко

МПК: H01J 49/26

Метки: диагностики, заряда, ионных, компенсации, магнитного, пучках, сепаратора

...на это защитным увеличением потенциала, 15".) 5635 40 45 50 то зя счет отсоса электронов потенциал объема пучка достигнет значенийзондирующего импульса, т.е. 25 В. Ноэто кяк ряз тот максимальньп (пороговый) потенциал пространства пучка,который дает предел возможности использовать изотопные пучки в целяхкачественного разделения изотопов в магнитных сепараторах.Воздействие импульса осуществляют на пучок в его начальном участке с плотной пучковой. плазмой, Это обусловлено темчто, как показали первые испытания предлагаемого способа, в плотности тока и,токе быстрых ионов генерирует плотная пучковая плазма, сконцентрированная на его начальном участке (там, где пучок интенсивно ионизует неионизованный пар источника при выходе его...

Номер патента: 418206

Опубликовано: 05.03.1974

Авторы: Лебедев, Морозов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: i••, v•(•, ионных, массам, пучков, с»mm, сепарации, трубчатых

...системы к ого ферромаг е поле созд оля на нитные атушек нитного ается с изолятор 1, ферромагленоиды 3, цплиндри418206 Таким образом, в деазимутаторе вращательный момент, приобретенный в азимутаторе, компенсируется и ионы выходят из сепаратора без азимутальной скорости, но разделенные по 5 массам, При такой структуре полей сепараторобеспечивает фокусировку ионного пучка, имеющего расхождение в радиальном направлении. Кроме того, в сепараторе отсутствует хроматическая аберрация, связанная с на чальным разбросом угловых скоростей ов ионов, выходящих из источника.Существенной особенностью устройства является его транзитивность: оно работает как с компенсированнЬми, так и с некомпенсиро ванными пучками. Это связано с тем, что поля Е и Н...

Номер патента: 444101

Опубликовано: 25.09.1974

Авторы: Лебедев, Морозов

МПК: G01N 27/62

Метки: ионных, массам, пучков, сепарации

...д, , условия равновесия выполняться не будут, и. они будут смещаться в зависимости. от массы либо на большие, либо на меньшие радиусы.1 аким образом, осуществляется сепарация ионов по массам. датем для того, чтобы компенсировать закрутку, йриобретенную ионами в радиальном магнитном доле, их вновь пропускают через радиальное магнит. ное поле, равное первому по величине, но противополоао направленное. В результате получают ионы без азимутальной скорости, но уже разделенные по массам.При оолее точном РассмотренииСоставитель Г, Йв т Ро ВЗ.РедакторЗ 1 Ъердохлеоова ТехредА.Чавутньяк Корректор.11,6 елр 8 сор Изд Мй/2 Тираж Яф Заказ 5Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, 113 О...

Номер патента: 1123392

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Аруев, Байдаков, Мамырин

МПК: G01T 1/29

Метки: детектор, ионных, пучков

...тритий способны накапливаться на поверхностях по мере работы с ними, причем их удаление связано с большими трудностями. Таким образом, при работе прибора даже с минимальными количествами трития со временем происходит увеличение фона,Цель изобретения - обеспечение возможности измерений ионных токов при наличии в приборе-активной газовой компоненты.Цель достигается тем, что в детекторе ионных пучков для масс-спектрометра, включающем размещенные в вакуумной камере ионно-электронный преобразователь, анализатор энергий электронов, сцинтиллятор и регистрирующее устройство, сцинтиллятор выполнен в вице монолитного экрана из СаГ (Еи) с вакуумно-плотным защитным2слоем фоторезиста, а в качестве защитнбго слоя сцинтиллятора использован фоторезист...

Номер патента: 1685172

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Зуев, Севастьянов

МПК: G01T 1/29

Метки: ионных, плотности, потока, пучков, распределения

...ее поверхности на устанооке "ЧОБсептИс". Размер ионного пучка превышдег размер пластинки. Глубина внедрения ионов в 9 составляет - 600 А. Ток ионов 100 мкА, время имплантации 10з с, Определение концентрации внедренных ионов в кремний осуществляют на лазерной масс-спектрометрической устанооке, Луч лазера (АИГ;ЙО) фокусируетсл с помощью лазерного микроскопа от установки П 4 А(ГДР) нд поверхность образца, помещенного в вакуумную камеру с оптическим иллюминатором. Вакуумная камера соединяется с омегдтронным масс-спектрометром ИПД 0-2 А, Всл система откачиваетсл до даоленил 10 торр. Мдксимдльцдл энергия лазерного импульса о режиме свободной генерации 1 Дж. Под действием лазерного импульса происходит плдолецие и испарение микропробы...