Угломер-уровень

Номер патента: 117782

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Янсон

МПК: G01J 1/00, G02B 27/32

Метки: изображений, контролирования, оптических, плотностей, полутоновых, точечная, шкала

...и равномерную плотность. От одного поля к другому плотность пропорционально изменяется.Изменение плотности точек схематично представлено на фиг. 2. Здесь изображены в большем увеличении точки отдельных полей шкалы (по одной точке из каждого поля). Плотность точек условно показана штриховкой различной частоты, Гри этом плотест 1 Р 1, Р.;, Р, Р, и Р 5 точек 7 подчинены зависимости Р, сРз Рз - Р.1:;. Р,.-,117782 Оптическая плотность фона б одинакова на всей шкале,В зависимости от свойств контролируемых копировальных слоев разницу в величине оптической плотности точек от одного поля контрольной шкалы к другому выбирают в пределах от 0,015 до 0,15. При этом минимальная плотность точек выбирается порядка 0,4, а максимальная - 2,0.В...

Номер патента: 1059528

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Агеев, Анаскин, Токарева

МПК: G02B 5/32

Метки: изображения, коррекции, микроскопе, светооптической, фазовых, фильтров, электронном

...величины дефокусировки электронного микроскопа необходимо изготовление отдельного фильтра.Бель изобретения - расширение корректирукщих возможностей Фильтров путем получения Филвтров с непрерывньм сдвигом фазы. Поставленная цель достигается тем, что в устройство для изготовления Фазовых Фильтров для светооптической коррекции изображения в электронном микроскопе, содержащее .когерентный источник света, полупроз.55 рачное зеркало, коллиматор, две диафрагмы и фотопластину, расположенные соосно, а также систему формирования опорного пучка, состоящую иэ второго .коллиматора и поворотного зеркала, 60 введена положительная линза, установленная между диафрагмами, причем коэффициент сферической аберрации положительной линзы определяется из...

Номер патента: 119630

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Верцнер, Воробьев, Оксман, Ченцов

МПК: H01J 31/38, H01J 37/26

Метки: изображения, контраста, микроскопе, повышения, электронном, яркости

...4 передающей трубки типа Видикон, которая соединена телевизионным каналом с кинескопом о. Посредством оптики электронного микроскопа 3 на мишень проектируется изображение исследуемого объекта 6, что приводит к возникновению проводимости в слое полупроводника. Кроме того, мишень облучает,"я сканируьощим электронным пучком, создаваемым системой 4. Одновременное воздействие обоих пучков вызывает образование на поверхности мишени потенциального рельефа, который считается системой 4, аналогично тому, как это происходит в передающих телевизионных трубках типа Видикон.Выделяющийся на сопротивлении 7 сигнал используется позле усиления в усилителе 8 для модуляции пучка кинескопа 5, на экране которого, ведется наблюдение изображения, Развертка...

Номер патента: 197001

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Зорин, Эскин

МПК: G01R 35/00

Метки: автоматической, поверки, приборов, электроизмерительных

...при поверке на постоянном токе, устройство время-импульсного преобразователя, осуществляющее преобразование напряжения разностного сигна 25 30 35 40 45 50 55 60 65 ла в интервале времени, заполняемом импульсами образцовой частоты, количество которых в этом интервале пропорционально измеряемому разностному сигналу,Управляющий импульс с выхода устройства 2 регистрации совмещений поступает также на коммутатор б источника опорного сигнала 7 через цепь задержки 5. Через время задержки, определяемое необходимым временем для измерения погрешности, коммутатор б подключает к разностному устройству 9 опорный сигнал, соответствующий второй поверяемой отметке шкалы, При этом ключевая схема уже закрыта, и разностный сигнал не проходит на...

Номер патента: 366512

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Грачев, Коноваленко, Кулак, Лко, Турин

МПК: H01J 37/26

Метки: изображения, микроскопе, формирования, электронном

...расстоянии от средних плоскостей объективной линзы и вто рой щели короткофокусной конденсорной линзы, а размер щели полюсного наконечника длицнофокусной линзы совпадает с внутренним диаметром полюсного наконечника длинцофокусной линзы.20 В результате изменения конструкции кондецсорного блока достигается наименьшее сечение электронного пучка в плоскости объекта объективной линзы с диаметром менее 1 л 1 к и плотностью тока 3 асл-.25 На чертеже схематически представлен каскадный конденсорный блок предлагаемого устройства,Конденсорцый блок сокусную двухщелевую линз30 2 и 3. Первая коцденсорц366512 Предмет изобретения Составитель Т. ГорчаковаТехред Т, Курилко Корректоры: В, Петрова и Е, ДавыдкинаРедактор А, Батыгин Заказ 480/10 Изд. М 113...