Солнечная экспериментальная установка

Номер патента: 440215

Опубликовано: 25.08.1974

Авторы: Аликулов, Одесский, Фикс-Марголин

МПК: B23B 1/00

Метки: вершины, оси, расстояния, резца, станка, центров

...плоскость А линейки проходила через ось конусной оправки корпуса устройства 1. На станке корпус устройства 1 закрепляется неподвижно в передней или задней бабке таким образом, чтобы поворотная линейка 5 была обращена в сторону резцедержателя. Перемещением суппорта в радиальном на 440215правлении вводят в контакт ,вершину резца с плоскостью А линейками 5. Величина смещения вершины резца относительно оси центров станка определяется по показаниям индикатора 4 при перемещении резца в направлении стрелки Б. При совпадении вершинины резца с осью центров станка плоскость А поворотной линейки 5 принимает положение, параллельное направлению движения резца, и, поэтому, при перемещении резца в радиальном на правлении стрела индикатора 4 не...

Номер патента: 454514

Опубликовано: 25.12.1974

Авторы: Абрамов, Баржин, Елдышев

МПК: G01S 3/78

Метки: датчик, нутационный, оптической, позиционно-чувствительный, системы, слежения

...пьезоэлектрическими свойствами и располагаются по окружности 5 под углами в 120 друг относительно друга.Напряжение и пим подводится от трехфазного источника 7. Сдвиг между фазами 120.Каждому пьезоэлектрическому столбику соответствует своя фаза источника питания.10 Датчик работает следующим образом,Амплитуда напряжения на выходе источника 7 постоянная и подбирается в соответствии с требованиями, предъявляемыми к размеру развертки и габаритам датчика, так как от 15 напряжения зависит амплитуда колебанийпьезоэлектрических столбиков и, в конечном счете, отражающего зеркала б. От частоты входного напряжения зависит скорость колебаний отражающего зеркала 6, т. е. скорость 20 развертки, которая может быть получена значительно большей...

Номер патента: 1561062

Опубликовано: 30.04.1990

Авторы: Голуб, Карпеев, Сисакян, Сойфер

МПК: G02B 27/48

Метки: выравнивания, гауссова, интенсивности, коллимации, лазерного, оптическая, пучка, расширения

...6(может быть положена ной О). азовые корректирующ и 6 могут быть выполнплоских оптических элементов, синтезируемых при помощи ЭВМ. При этомфазовая функция рассчитывается наЭВМ по формулам (1) и (2) и приводится к интервалу (0,2 к ), в результатечего корректирующая пластинка разби,вается на эоны, Затем пластинка из"готавливается из прозрачного материала с показателем преломления и, причем высота Фазового рельефа Ь(г) вкаждой зоне меняется от 0 до где той(г) = г - 12 тп пр При расчеТе системы расстояния от лазера 1 до микрообъектива 2 (й), а также фокусное расстояние микро- объектива (г) и коэффициент диафрагмирования гауссова пучка (К) выбирают исходя из необходимых габаритных размеров, а также характеристик точности изготовления...

Номер патента: 1629031

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Балишанская, Волосов, Дыскин, Каган, Кацнельсон, Морсков, Наумов, Родин, Розенфельд

МПК: A61B 3/10

Метки: глаза, интенсивности, исследования, оптических, продольного, распределения, сред, флюоресценции

...6 перемещения 20относительно исследуемого глаза 7и регистратор 8 информации. Областью9 измерения является часть пространства глаза общая для пучка возбуждающего излучателя и поля зрения 25Фотоприемной части устройства (нафиг, 1 заштриховано).Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1, пройдячерез блок 2, преобразуется в узкийпучок, который направляется череззрачок внутрь глаза и вызывает Флюоресценцию по пути своего распространения, Блок 3 создает изображениефлюоресцирующей области в плоскостиполевой диафрагмы 4, которая "вырезает" из него узкую область и пропускает излучение на фотоприемник,Фотоприемник 5 преобразует оптический 40сигнал в электрический, который после обработки направляется на однуиз координат...

Номер патента: 1242780

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Великотный, Калинин, Потапова, Прохорова

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических, поверхностей

...светового потока,рассеянного дефектами, соответству ющего участка поверхности, котораяпропорциональна площади дефектов на.данном участке поверхности, а значит - и удельной плотности дефектовна данном участке, если площадь 40 участков одинакова. Исходя из этогоможно определить пороговые значенияамплитуд сигналов фотоприемника 10,соответствующие границам классовчистоты поверхностей оптических де талей по формуле ную оптическую систему на фотоприемник 10. Диафрагма 8 установлена в приемной оптической системе для того, чтобы исключить возможность попадания на фотоприемник 10 световых лучей, рассеянных дефектами на нижней поверхности и внутри контролируемой оптической детали, Чтобы обеспечить прохождение светового потока в осветительной и...