Способ определения толщины тонких пленок

Номер патента: 1736667

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Аникеенко, Артеменко, Сочан

МПК: B21H 8/00

Метки: переменной, прокатки, толщиной, тонких, ширине

...валках с формой калибра, соответствующей готовой детали, В результате получают оковку лопасти вертолета, Ширина детали 116 мм, толщина кромки 0,4 мм, толщина средней части 1,5 мм.Использование способа прокатки тонких деталей с переменной толщиной по ширине позволяет экономить до 40% материала, повысить производительность процесса в 2 раза Формула изобретения1. Способ прокатки тонких деталей спеременной толщиной по ширине, при котором заготовку прокатывают в профильных5 валках, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения коэффициента использования металла и производительности, прокатку заготовки осуществляют за двапрохода, в первом из которых формообразу 10 ют крайние участки заготовки до получения,по меньшей мере, на их...

Номер патента: 1768026

Опубликовано: 07.10.1992

Автор: Удо

МПК: B29C 63/02, B29C 65/64

Метки: бумаги, виде, нанесения, пленки, плиты, покрытия, пропитанной, смолами, тонкие

...к продольной оси ветви плит,На фиг.1 показана часть кашировальной установки с ленточным прессом в схематическом изображении и частичном разрезе; на фиг,2-6 - различные возможности соединения между двумя соседними плитами; на фиг.7 - ветвь плит в перспективном изображении. Изображенный на фиг.1 ленточный пресс 1 оснащен бесконечной лентой 2 пресса, рабочая ветвь которой ограничивает с одной стороны прессовую щель 3 и вместе с валиком 4 и роликом 5 роликового транспортера 6 образует челюсти для ввода ветви плит, а также пленки, Рабочее давление в прессовой щели 3 достигается нажимной подушкой 7, которая по отношению к ленте пресса 2 герметизирована вращающимся уплотнением 8,Ветвь плит 8 состоит из отдельных плит 10 и 11 одинаковой...

Номер патента: 1347054

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Алексеев, Левин, Мордвинцев, Папорков

МПК: G01R 33/02

Метки: анизотропии, магнитной, пленки, тонкой

...гармоники, должно составлять2максвеличину порядка -(20 1 р) дБ.а3 да.,максПолагая а г а, для ай =- 0,01получают, что вторая гармоника должна ослабляться на 30 дБ, Это можетбыть осуществлено с помощью промышленных приборов.Таким образом, измерение поля анизотропии с помощью третьей гармоники позволяет уменьшить погрешность до 1 Х и менее,Однако формулы (1) и (2), а следовательно, и (5) и (6) получены в .". предположении, что ОТН совпадает с направлением поля. Если пленка устанавливается так, что между ОТН и направлением поля существует некоторый уголи вектор поля лежит в плоскости пленки (ОТН пермаллоевых пленок тоже лежит в плоскости пленки)при перемагничивании пленки можетвозникнуть гистерезис, и в зависимости а (Н,Н,Н),...

Номер патента: 1187707

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Герд, Герхард, Хартмут

МПК: B29C 47/90, B29C 47/92

Метки: выдувания, методом, пленки, толщины, установке, экструдером

...измерительной линии 17 (последняяимеет петлю 17 , которая позволяетвыполнять реверсивное движение) вприборный шкаф 18 для вывода показаний профиля толщин и регистрации ихна диаграмме 19.Электрический измерительный сигнал по линии 20 может вводиться вмикропроцессор 21, который соответ.ствующим образом преобразует этотсигнали по соединительным линиям22 22" 22 Хф направляет командуна перемещение испольнительных органов 23, , 23"и в секторах охлаждения ХПосле того, (фиг. 3) как измерительная головка 14 сделает один оборот, образуются в соответствии счислом секторов охлаждения Х пленочКные,секторы Х, и для каждого пленочного сектора определяется среднее значение толщины 5 " . Эти средХние значения. толщиныи определяют3 1187 параметры...

Номер патента: 1836487

Опубликовано: 23.08.1993

Авторы: Витторио, Джанфранко, Джованни

МПК: C23C 14/00

Метки: вакууме, гидрида, металла, металла,полученной, нанесения, пленки, пленкой, пленок, полученной, применение, способом, субстрата

...образец4 +с энергией 2,2 МеЧ и под углом 750. Как известно, эти два метода позволяют 50 определить концентрацию атомов в см, в результате чего можно сразу подсчитать стехиометрию гидрида, В данном случае получили величину соотношения Н/Т в интервале от 1,7 до 2. 55Анализ пленки при помощи малоуглового рентгеновского излучения подтвердил присутствие одной фазы гидрида титана, тогда как негидрированный титан имеет гексагонал ьную кристаллическую решетку. Анализ с помощью Оже-спектроскопиипоказал, что кислород содержится только ввиде примеси с концентрацией менее 1 ф,П р и м е р 2. На субстрат, представляющий собой стеклянную пластину размерами 5 х 5 см, была осаждена пленка гидрида титана при помощи того же оборудования и тем же...