Способ исследования характеристик материалов

Номер патента: 1698831

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Зуев, Полыгалов, Фельдман

МПК: G01N 22/00, G01R 27/26

Метки: диэлектрических, измерительная, исследования, образца, параметров, ячейка

...образцов во временной области, содержащая предлагаемую ячейку, основывается на принципах метода сосредоточенной емкости, Он прост в реализации, перекрывает широкий диапазон частот, позволяет измерять комплексную диэлектрическую прони цаемость я(а) с достаточно высокойточностью. Метод сосредоточенной емкости является однойиз немногих модификаций метода временной диэлектрической спектроскопии (ВДС), которая позволяет 10 получать информацию непосредственно вовременной области в виде функции диэлектрического отклика р(с), однозначно свяэаннойс еФ(в) соотношением)(т)=3 1( е(Я)/Я) (1) 15 где . - символ оператора обратного преобразования Лапласа;а(5) - предельное значение я(в)при в -+ со, Я= у + в;Я - обобщенная комплексная...

Номер патента: 920661

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Науменко, Орыщенко, Пальц

МПК: G05D 23/30

Метки: атомном, образцов, реакторе, температуры

...потока по высоте экспериментальных каналов реактора носит косинусоидальный характерСГ 7,Целью изобретения является повышение точности устройства путем уменьшения изменений нейтронного потока, действуюшего на образцы.Поставленная цель достигается тем, что устройство для регулирования температу. ры образцов в атомном реакторе, содержащее цилиндрический корпус в виде стакана с расположенной в нем ампулой с образцами, на одном из которых установлен датчик температуры, связанный с приводом перемещения ампулы с образцами, в котором стенки стакана выполнены переменной толщины в плоскости, перпендикулярной оси стакана, тем, что стенки стакана выполнены по эвольвенте.При этом образцы перемещаются в горизонтальной плоскости реактора: могут...

Номер патента: 951938

Опубликовано: 15.12.1993

Авторы: Биленко, Лясковский

МПК: G01J 5/60

Метки: образцов, полупроводниковых, температуры

...меньшей погрешностью. В этих случаях, поскольку РД (Т - То)1, можно получить выраже ния для температуры ТТо соответственно ДоТ=Т. +о.Поскольку и ив фазовом набеге равноправны, а рефракцией на температурныхнеоднородностях мы пренебрегаем, так какрасстояние от неоднородностей до плоскости выходной грани образца мало ( 100мкм), то можно приписать все температурлное изменение фазы показателю преломления и считатьФ(Т) аЬп,ф = поф ЬТ,35Следовательно,Т(х,у,г, х ) = Т + 40, и,Из этих формул видно, что можно динамически измерить распределение температуры в образце, зная его начальную температуру и пространственно-временное эффективное изменение показателя преломления Ьп,ф (х, у, г, х), вызванное неоднородным нагревом. Начальную тем-....

Номер патента: 87669

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Роктанэн

МПК: E01B 1/00, G01N 15/08

Метки: воздушного, исследования, образцов, пористых, почв, прибор, режима

...почвенных образцов в пределах природных колебаний атмосферного дагления применен видоизменен. ный прибор, показанный на фиг. 2.Г 1 риоор имеет ту же изолированную ст внешней атмосферы камеру 1 с почвенным образцом, сое.гнненную патрубком 7 с мерной труб кои 2. ганометрггческая трубка 4 отсоединена от мерной трубки 2 и гпдравлическп, через резервуар 3, соединена с параллельной контрольной трубкой 8, Трубка 8 соединена патруоком 7 с камерой 1 н служит показателем давления в этой камере. Чтобы доводить давление в камере до нужного предела, мерная и манометрическая трубки снабжены воздушнымп камерами 9 и 10.Краны 11 и 12 служгт для ТОГО, чтосы заряжать прибор расочей жидкостью, а краны 13 и 14 необходимы для изоляции резиновых...

Номер патента: 121269

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Орлов, Чулошников

МПК: G01J 1/52

Метки: контактной, образцов, сварке, температуры

...температурных полей производится следующим образом, В нужном масштабе изготавливаются плоские модели сечений свариваемых изделий. Для изделий толщиной до 2 мм, масштаб выбирают с 8 - 20-кратным увеличением. Длина пластин произвольная, порядка 100 - 150 мм, Ширина каждой пластины соответствует реальной толщине свариваемых изделий, увеличенной в соответствии с выбранным масштабом, Сварочные ролики изготавливаются с реальной формой электродов, а размеры увеличиваются в соответствии с масштабом,Режим сварки выбирается таким образом, чтобы сохранилась удельная плотность тока, имеющая место при реальной сварке. Удельное давление на электроды должно быть равно удельному давлению при реальной сварке. Время сварки изменяется пропорционально...