Крочик

Устройство для измерения электрических параметров диэлектриков и полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 441525

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Крочик, Татаринов

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектриков, параметров, полупроводников, электрических

...электромагнитной волны, поляризованной по кругу, без наличия образца в межантейном пространстве выравниваются аттенюаторами, включенными в боковые плечибалайсной схемы фазового дискриминатора. Это открывает возможность к использованию эллиптическиполяризованных волн и не ухудшаетчувствительности устройства к измерению анизотропии. Производяизмерения разности з сигналовдвух антенн без и при наличииобразца, можно с большой точностьюизмерить абсолютную величину анизотропии диэлектрической или магнитной проницаемости образца вданной точке.Это позволяет с помощьв предлагаемого устройства исследовать новые свойства диэлектриков, полупроводников и ферритовв миллйметровом и субмиллиметровомдиапазонах длин волн,На чертеже изображена...