Способ обработки графитно-эпоксидным компаундом металлических ржавых форм

Номер патента: 448347

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы

...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...

Номер патента: 724248

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Дронзиков, Наговицын

МПК: B21D 37/12

Метки: инструмент, конической, поверхностью, сложной, торцевой, формы

...15 го элемента 3 наклонена относительно оси5 нижнего валка 1 на угол у = 2 б, где 4 -угол при основании рабочей конусной поверхности верхнего деформирующего элемента,20 Инструмент работает следующим образом.В матрицу 2 укладывается заготовка 6,приводится во вращение нижний валок 1,после чего верхний деформирующий эле 25 мент 3, имеющий возможность вращениявокруг своей оси 4, вводят в матрицу 2 досоприкосновения с заготовкой 6 и, осуществляя осевое сближение валков, деформируют заготовку. Благодаря равенству радиу 30 сов г, и гз от произвольной точки А до осей724248 Рог. 7 аказ 364/13ираж 995НПО ПоискГосударственного комитпо делам изобретений и13035, Москва, Ж, Рауш204 исное ета СССР открытий ская наб., д. 4г,2 Типография, пр....

Номер патента: 894892

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Изотов, Толкачев

МПК: H05K 13/02

Метки: контактными, металлизированными, ориентированной, поверхностями, подачи, полупроводниковых, приборов, сортировки, формы, цилиндрической

...5,которое приподнимает шток 1.В испытательную камеру проникает диод 15 и замыкает контактные элементы 20,Одновременно имаульс мультивибратора попадает на линию 30 задержки и через нее на реле 26, реле срабатывает и.через его нормально разомкнутые контакты 27,двигатель 4, съемные кольца 9 и 12 подается напряжение на диод 15,Если через диод ток не идет,т.е. диод подключается к источнику питания в обратном направлении и не пробитl то устройство остается в статическом состоянии вплоть до Прихода от мультивибратора отрицательногб импульса, который также дифферинцируется конденсатором 23 и через съемное кольцо 8 и диод 25 подается на электромагнит 7, который, срабатывая, поднимает шток 2, одновременно шток 1, опускаясь своим выступом,...

Номер патента: 929059

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Гришко, Медзерян, Павлин

МПК: A61B 5/10

Метки: поверхности, подошвенной, размеров, стоп, формы

...ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Иосква, 1-35, Раушская наб., д, 4/ лиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная 3 9290фигурные скобы 7, в которые входятрукоятки 8, связанные с прижимнойплитой 9.Устройство работает следующим об"разом,Для определения формы и размеровподошвенной поверхности стоп всеизмерительные стержни 4 должны бытьвыдвинуты на поверхность основания2, что соответствует исходному по Опожению прибора, Это достигаетсяподнятием прижимной плиты 9 посредством рукояток 8 до соприкосновенияс нижним краем основания 2. Испытуемый становится обоими стопами на Иоснование 2 с равномерной нагрузкойна обе стопы. Под действием давления,оказываемого весом тела человека наопорную...

Номер патента: 951067

Опубликовано: 15.08.1982

Автор: Тищенко

МПК: G01B 5/20

Метки: оси, отклонений, поверхности, расположения, формы

...профилей сечений контролируемой детали плоскостями, перпендикулярйыми к ее оси, В зависимости от значения полученных координат то чек, от требуемой точности измерений и от размеров макета устанавливают масштаб моделирбвФЙМщ фспроиэводят полученное множество точек в заданном масштабе.на цМФийрИческом маке те, например, накрдниками радиаль но закрепленных микрометрических винтов, оси которых лежат в плоскос тях, перпендикулярных к оси макета и отстоящйх друг от друга на расстояниях, пропорциональных расстояниям между плоскостями сечений детали, моделируя тем самым измеренную поверхность.В случае измерения внутренней по верхности детали отклонение формы равно наибольшему расстоянию от точек реальной поверхности до вписанного в нее...