Номер патента: 204013

Авторы: Дошлов, Матвеев, Поль, Хмельницкий

ZIP архив

Текст

204013 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АатОРСКОМ СВИДВЕЛЬСтВЬ 1 Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства Кл. 421, 3 явлено 05.Ч 11,1966 (Эй 1096468/26-25) исоединением заявкиМПК 6 01 п1 УД 1 543.51(088.8) ит Комитет по делам обретений и открытийта опубликования описания 3,1,19 б 8 Авторыизобретения Е. Л, Матвеев, А. А, Полякова, О, И. Дошлов Р. А. Хмельницкий ефтеперерабатыва есоюзный научно-исследовательский инстит щей промышленностиаявитель ННЪй ИСТОЧНИК МАСС-СПЕКТРОМЕТР модействии электронов дом б, с исследуемым в ются из ионизационной ванный пучок ионов отк ющим электродом б на с которой ток стекает ч противление и затем из измерительной схемой.Предлагаемое устройс О полнено на химико-аналрометрах с несложной п м э итируемых катоеществом, выталкивакамеры. Сформиролопяется корректируапертурную линзу 2, ерез высокоомное сомеряется подходящей во может быть вытических масс-спектеределкой последних ре Ионныи истожащий камеруэлектрод и апетем, что, с цельизмерения полния пределов игиях ионизируустройства длятока использовненная с измер одерющий ииися ности шире- энерестве нного оедиое устапертурт с выб, корное устПри масс-спектрометрических исследованиях индивидуальных соединений и анализесложных смесей необходимо измерение полного ионного тока, которое осуществляетсяизмерением общего количества ионов, образующихся в камере ионизации, Известныйионный источник масс-спектрометра содержиткамеру ионизации, корректирующий электроди апертурную линзу.Предлагаемый источник отличается от известных тем, что в качестве устройства дляизмерения ионного тока использована апертурная линза, соединенная с измерительнойсхемой. Это позволяет повысить чувствительность и расширить пределы измеренияНа чертеже изображено описываемрой ство,Оно содержит выходную щель 1,ную линзу 2, ионизационную камеруталкивающим электродом 4 и катодомректирующий электрод б и измерительройство 7.Положительные ионы, полученные при взаимет изобретения чник масс-спектрометра, сионизации, корректиру ртурную линзу, отличаю ю повышения чувствитель ного ионного тока и рас змерения при различных ющих электронов, в кач измерения полного ио ана апертурная линза, с ительной схемой.Составитель Н. В. Катинова Редактор Н. А, Джарагетти Техред Л. Я. Бриккер Корректоры: Е. ф. Полионова и И. Л, Кириллова Заказ 3883/2 Тираж 535 ПодписноеЦИИИПИ Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4Типография, пр. Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

1096468

Всесоюзный научно исследовательский институт нефтеперерабатывающей промышленности, ИОННЫЙ источник

Е. Л. Матвеев, А. А. Пол кова, О. И. Дошлов, Р. А. Хмельницкий

МПК / Метки

МПК: G01N 27/70, H01J 49/14

Метки: масс-спектрометра

Опубликовано: 01.01.1967

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-204013-mass-spektrometra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Масс-спектрометра</a>

Похожие патенты