Способ измерения кривизны поверхности

Номер патента: 557621

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Казанкова, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, поверхностей, радиуса, сферических

...поверхность с центром кривизны;5 - объектив; б - контрольный прибор. В качестве контрольного прибора, обеспечивающего формирование светящейся точки 1 и юстиронку схемы, используют .либо антоколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймана-Грина.Способ осуществляется следующим образом. При контроле вогнутых поверхностей голограмму 2 устанавливают на)5 расстоянии К от светящейся точки и наблюдают ее антоколлимациопное изображение .(фиг,1), При контроле выпуклых поверхностей голограмму 2 устанавливают на расстоянии В от изображения С светящейся точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2). Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производят первый отсчет, голограмму заменяют контролируемойповерхностью 4,...

Номер патента: 1412003

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Бойко, Красиленко

МПК: H04N 7/18

Метки: геометрического, декартовых, координат, пятна, светового, центра

...и равны трем. Значения и и пг однозначно соответствуют времени пребывания в возбужденном состоянии хотя бы одного элемента второй снизу строки и второго слева столбца. Значения пви и -1 однозначно соответствуют прогмежутку времени между моментом достижения изображением соответствующей оси и моментом перехода в невозбужденное состояние всех элементов второй снизу строки и второго слева столбца при их обратном переходе с возбужденного состояния. В нашем случае эти времена соответственно равны5 Т - ЗТ =- 2 Т;ее= 9 т - ЗТ = бт,Количество тактовых импульсов,соответствующих данным временным интервалам, равны в этом случае числувозбужденных строк и столбцов, принадлежащих иэображению, уменьшеннымна единицу (1), ге =2; г =6. Фиксируя таким...

Номер патента: 567947

Опубликовано: 05.08.1977

Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Максимова, Харионов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиуса

...интерферещионных колец иполе зрения.Из зависимостиг2 = 1 Ягде- величина смешения зеркала;У - зонаповерхности (пол= зренияинтерферометра)М - радиус контролируемой поверхности,К - количество интерференционныхколец в поле зренйя;Л - алина волны света,определяют радиус кривизны поверхности.На схеме показаны: точечный источниксвета 1, зеркальный интерферометр сдвига2, светоделитель 3, зеркала 4 и 5 интерферометра, контролируемая поверхность 6,эталонная линза 7,Способ осуществляется следующим образом, 25Световой пучок, отраженный от контролируемой поверхности 6, направляют в зеркальный интерферометр сдвига 2. Поворотомодного иэ .зеркал интерферометра, например5, осуществляют боковой сдвиг волновогофронта, отраженного от зеркала 4, В...

Номер патента: 238796

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Полунов

МПК: G01B 21/22

Метки: детали, контролируемой, координату, наведения, фотоэлектрическое

...фоторезистора сканатора 6.Последний представляет собой электромеханическую систему, состоящую из четырех электромапнитов 7 - 10, расположенных лод углом 90 один относительно другого, обмотки 1 Гь Тъ Вз, 1 т 4 которых питаются токами, сдвинутыми на 90 эл. град. В зазоре между полюсными наконечниками магнитопровода симметрично установлен якорь 11, одвн из торцов которого закреплен неподвижно, а на незакрепленном торце смонтирован фоторезистор 12.Устройство содержит также усилитель- ограничитель 13 импульсов, поступающих с фоторезистора, дифференцирующий усилитель 14, формирователь 15 импульсов, триггер 16 и стрелочный,прибор 17, включенный между плечами триггера.Принцип работы устройства заключается в следующем.При пересечении линией...

Номер патента: 356452

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Губчик, Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: волны, кривизны, световой

...волны, затем выводят нить из фокальной плоскости (расфокусируют) . Расфокусировку производят при измерении положительной кривизны (сходящаяся волна) против хода лучей, при измерении отрицательной кривизны (расходящаяся волна) - по ходу лучей. Фотографируют теневую картину от расфокусированной нити (решетки) и на полученной фотографии находят вершины5 теней от нитей: точки, в которых прямые, перпендикулярные нити, касательны к середине тени.В точках, совпадающих с вершинами теней,определяют кривизну сечения поверхности 10 световой волны плоскостью, перпендикулярной нити.Для теневого прибора с зеркально-менисковой системой (серийный теневой прибор ИАБ) кривизна К определяется по фор муле: где- второе фокусное расстояние...