Способ томографии

Номер патента: 1049039

Опубликовано: 23.10.1983

Авторы: Беликов, Новиков, Чикирдин

МПК: A61B 6/00

Метки: панорамных, тест-объект, томографов

...слое необ ходимо повторить несколько раз при точ ном соблюдении и учете пространственног расположения тест-объекта, Это приводи к значительным затратам времени к фотома;териалов,Цель изобретения - ускорение контр ля и экономия фотоматериалов,Поставленная цель достигается тем, чт тест-объект для контроля панорамных т:мографов, содержащий рентгенопрозрачны носитель с рентгеноконтрастными меткам выполнен многослойным с метками, расп ложенными в каждом слое по кривым ли ниям одинаковой конфигурации, радиус крвизны которых пропорционально увеличива ется от основания к вершине, причем лини меток среднего слоя соответствует линии ко тура выделяемой томографом поверхност Э соответствующие метки всех слоев ра049039положены на одной линии с...

Номер патента: 780245

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Курыло, Рагульскис

МПК: H05K 13/02

Метки: объектов, ориентации, плоскости

...содержит основание 1,каретку 2 и пьезокерамические преоб-,разователи 3, подключенные к генератору при помощи фаэосдвигающих схем(на чертеже не показано). В основании 1 выполнено центральное прямоугольное отверстие 4 и четыре продолговатых отверстия 5, образуя четыре деформируемые; элемента в видеребер б, расположенных.в форме пря780245 Формула изобретения НИИ 348/2ное Заказ 885 ПодпАР 2 моугольника. К ребрам 6 прикрепленыпьеэокерамические преобразователи 3не менее трех на каждой стороне.Пьеэокерамические преобразователи 3,прикрепленные на одной стороне реб ра 6, подключены к генератору со сдвигом по фазе на 360 О (и - числопьезокерамических преобразователейна одной стороне ребра), Пьезокерамические элементы 3, прикрепленные к...

Номер патента: 1290063

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Константинович, Хорошев

МПК: G01B 11/26

Метки: изменений, координаты, объекта, плоскости, угловой

...4, зеркала 5 ипрохождения зеркала 4. За последним два пучка взаимодействуют и образуют интерференционную картину, положение интерференционных полос в которой зависит от положения источника относительно приемныхзеркал 1 и 2. Если объект смещается.от первоначального положения, то перемещаются и полосы в плоскости анализа, что можно зафиксировать и получить информацию о его угловом положении. Аналогично работает второй канал, где первый пучок проходит тот же путь, а второй отражается от приемного зеркала 3, а затем также проходит путь аналогичный первому каналу, но отражаясь от других участков зеркал 4 и 5. В плоскости анализа образуются и регистрируются две интерференционные картины. Угловая ширина интерференционных полос в каждой из...

Номер патента: 1332342

Опубликовано: 23.08.1987

Автор: Латышев

МПК: G06K 9/00

Метки: объекта, плоскости, расположения

...координат положения, причем первый 2 ивторой 7 АЦП, светодиодная матрица3 и управляемый транспарант 4 связаны с блоком 8 определения координатс помощью линии 9 сопряжения в стандарте КАМАК,Способ осуществляют следующим образом. Поле зрения фотоприемника на некоторой плоскости равномерно освещается источником света. Рассеянный световой поток создает на входной апертуре Фотоприемника изображение этого поля, Если объект отсутствует, 35 то световой поток является однородным, Если объект находится в поле зрения, то за счет неравномерного рассеяния возникает модуляция интенсивости светового потока, воспроизводящая на 40 входной апертуре фотоприемника изображение объекта, как показано на фиг. 1.Координаты смещения центра тяжести изображения х...

Номер патента: 1174726

Опубликовано: 23.08.1985

Автор: Никулин

МПК: G01B 5/00

Метки: глубины, нарушенного, никулина, обработанной, объекта, поверхности, слоя

...определения глубины нарушенного слоя обработанной поверхности объекта, заключающемуся в том, что делают секущий шлиф объекта, проводят трав ление поверхности шлифа, находят границу нарушенного слоя и по ее положению определяют глубину нарушенного слоя, перед получениемшлифа записывают профилограмму 50 поверхности, перед травлениемзаписывают профилограмму поверхности шлифа в направлении, которое является проекцией первой профилограммы на поверхности шлифа в той же 55 системе координат, травление осуществляют изотропным травителем, после травления записывают профилограмму поверхности протравленного шлифа в том же направлении и в той же системе координат, что и в предыдущие профилограммы, и находят на третьей профилограмме границу...