Тест-объект для контроля панорамных томографов

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 09) 9039 А е 1 А 61 В б/00 Т У39В. Я. Но к ствеин объединение птег 1.пеаг1 птегрге - Аяег 062. авподгар 6 у 1 оп о 1 Нв Йоеп 1 реп,ССР ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗО К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬНИЯ ".," ., .Ь ";:.1,57) ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ КОНТРОЛЯ РАМНЫХ ТОМОГРАФОВ, содержаентгенопрозрачный носитель с рентге. трастными метками, отличающийся тем, целью ускорения контроля и зкономии атериалов, он выполнен многослоиметками, расположенными в каждом по кривым линиям одинаковой конфиии, радиус кривизны которых пропор. льно увеличивается от основания к не, причем линия меток среднего слоя тствует линии контура выделяемой то. фом поверхности, а соответствуюшие всех слоев расположены на одной лиодинаковым расстоянием между ниПАНО шнй р покои что,с фотом ным с слое гурац цнона верши соотве могра метки нии с.1 Изобретение относится к медицинской рентгенотехнике, а именно к устройства для определения технических характерксти пан амных томографов,звестен тест-объект для контроля томо графов, содержащий рентгенопрозрачный н ситель с рентгеноконтрастными метками, Но ситель выполнен в виде наклонной плоско сти, а метки - в виде двухпараллельных пр волок и,шкалы 111. Наиболее близким по технической сущ ности к изобретению являетя тест-объек для контроля томографов, содержащий рент геноирозрачнмй носитель с рентгеноконтрас ными метками, Тест-объект выполнен в вид линейки с вмонтированными в нее шарика ми, центры которых расположены на прямо линии, Линейка помещается нод углом к в деляемой плоскости. так, что центр среднег шарика совпадает с выделяемой плоскостью Для определения толщины выделяемого сло по полученной томограмме визуальноопре деляют и подсчитывают количество шариков в изображении которых имеются участк полной тени, размеры которых не превышаю диаметр шарика; находящегося в центре в деляемого слоя (т.е, шарика, изображени которого получилось .наиболее четким), бо лее чем в два раза 12 Однако известные устройства не позво ляют определить толщину слоя, выделяемо го панорамными томографами, а предназна чены только для контроля плоскостных то мографов, у которых толщина выделяемог слоя постоянна по всему сечению. При использовании таких, тест-объекто, для контроля панорамных томографов,. гд толщина выделяемого слоя является функ цией координат сечения, измерения для по лучения представления о всем слое необ ходимо повторить несколько раз при точ ном соблюдении и учете пространственног расположения тест-объекта, Это приводи к значительным затратам времени к фотома;териалов,Цель изобретения - ускорение контр ля и экономия фотоматериалов,Поставленная цель достигается тем, чт тест-объект для контроля панорамных т:мографов, содержащий рентгенопрозрачны носитель с рентгеноконтрастными меткам выполнен многослойным с метками, расп ложенными в каждом слое по кривым ли ниям одинаковой конфигурации, радиус крвизны которых пропорционально увеличива ется от основания к вершине, причем лини меток среднего слоя соответствует линии ко тура выделяемой томографом поверхност Э соответствующие метки всех слоев ра049039положены на одной линии с одинаковым расм стоянием между нкмк.кНа чертеже изображен предлагаемый тесобъект, общий вкд.Тест-объект остокт кз набора несколь.с 5 ких,например семи жестко соединенных между собой пластин 1 толщиной 1 мм, Пластины выполнены кз рентгекопрозрачного ма.териала, например оргстекла. В средней пла-.стине 2 на. кривой, соответствующей линииконтура расчетной выделяемой панорамным1 О томографом цилиндрической поверхности,например кривой Хаулея, закреплены рентге.- коконтрастные метки 3. В качестве рентгееноконтрастных меток используются металлические шарики. Количество меток определяется степенью точности, необходимой для1 получения информации о толщине выделяеымого слоя в различных его участках (но неменее семи).В остальных пластинах метки распоя лагаются на подобных кривых с радиусамикривизны, уменьшающимися от основания .20 к вершине тест-объекта. Радиус кривизнын кривых расположения меток ка каждой пот следующей аластнне соответственно уменьы- шается или увеличивается, например, нае 1 мм от радиуса кривизны крквой расположения меток предыдущей пластины.Метки в пластинах располагаются тавримобразом, что проекции меток на горизонтальную плоскость находятся на прямых, совпадающих с радиусами кривизны расчетнойвыделямой поверхности.Устройство используют следующим обраЗО зомДля определения технической толщинывыделяемого слоя тест-объект устанавливают в панорамный томограф на позицию съемки так, что положение кривой, обозначенной метками ка средней пластине, соответЗ 5 ствует положению выделяемой томографомповерхности. Затем делают снимок и получают панорамную томограмму тест-объекта.т Расчет технической толщкны выделяемого слоя в различных направлениях, количество которых соответствует числу метокв, слое, проводят по выражениюТ = (Е - 1),где У, - , количество меток, в изображении которых имеются полные тени;н -, ь -расстояние в плане. между соответствующими метками в соседних план 45остиках.и. Изобретение позволяет ускорить процессконтроля томографов к сэкономить фотоматериал за счет сокращения количества исян пытакий, Прк этом тест-объект позволяети, получить высокую точность определения толс- . шины выделяемого томографом слоя.Составитель А, Вахрушев Техред И. Верес Корректор Г, Решетник Тираж 713, Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений н открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патенте, г. Ужгород, ул. Проектная, 4