Патенты с меткой «томографов»

Тест-объект для контроля панорамных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1049039

Опубликовано: 23.10.1983

Авторы: Беликов, Новиков, Чикирдин

МПК: A61B 6/00

Метки: панорамных, тест-объект, томографов

...слое необ ходимо повторить несколько раз при точ ном соблюдении и учете пространственног расположения тест-объекта, Это приводи к значительным затратам времени к фотома;териалов,Цель изобретения - ускорение контр ля и экономия фотоматериалов,Поставленная цель достигается тем, чт тест-объект для контроля панорамных т:мографов, содержащий рентгенопрозрачны носитель с рентгеноконтрастными меткам выполнен многослойным с метками, расп ложенными в каждом слое по кривым ли ниям одинаковой конфигурации, радиус крвизны которых пропорционально увеличива ется от основания к вершине, причем лини меток среднего слоя соответствует линии ко тура выделяемой томографом поверхност Э соответствующие метки всех слоев ра049039положены на одной линии с...

Устройство для контроля метрологических характеристик вычислительных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1072853

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Блинов, Игнатов, Лейченко, Шенгелия

МПК: A61B 6/02

Метки: вычислительных, метрологических, томографов, характеристик

...заполненную тканеэквивалентной жид.костью полость, в которой расположены вставки из материала, отличного по плотности отукаэанной жидкости, вставки выполнены иэпластмассовых сцинтилляторов и состыкованыпо меньшей мере, с одной стенкой полости,которая по меньшей мере в зоне стыковкивыполнена прозрачной, и в устройство введены 55средства раздельной регистрации свечениясцинтилляторов через соответствующие участкистенки полости. При этом вставки из пластмассовых сцинтилляторов снабжены отражающими покрыгиями со всех сторон, за исключением зон стыковки со стенками полости.На чертеже показан один из возможных вариантов выполнения предлагаемого устройства.Устройство для контроля метрологических характеристик вычислительных томографов...

Устройство для контроля метрологических характеристик вычислительных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1072854

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Блинов, Игнатов, Лейченко, Попов

МПК: A61B 6/02

Метки: вычислительных, метрологических, томографов, характеристик

...жидкости, вставки выполнены ввиде заполненньк газом под давлением емкостей со стенками из материала, плотностькоторого равна плотности заполняющей жид.кости, и в устройство введены средства регулирования давления газа в укаэанных емкостях,На чертеже показана схема предлагаемогоустройства.Устройство дпя контроля метрологическиххарактеристик вычислительных томографов со.держит полость, образованную корпусом 1 скрышкой 2, заполненную жидкостью 3, Крышка 2 и корпус 1 могут соединяться друг сдругом с помощью уплотняющего винтового 55соединения для удержания жидкости 3 приполном заполнении ею полости в вертикаль.. ном положении. В соответствии с обычной 54 2 схемой работы имеются вставки в виде емкос-, тей 4 со стенками 5 из...

Фантом для контроля метрологических характеристик рентгеновских вычислительных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1390549

Опубликовано: 23.04.1988

Авторы: Блинов, Волосюк, Игнатов, Лейченко, Яковлев

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительных, метрологических, рентгеновских, томографов, фантом, характеристик

...зависимости рентгеновской плотности материала тела фантома и вставок от высокого напряжения на рентгеновскойтрубке томографа.Фантом для контроля рентгеновскихвычислительных томографов представляет собой дискообразное тело иэ полистиролас пазами, в которые введены вставки 2 иэ полистирола с добавкой, в качестве которой использованпорошкообраэный графит,Вставки 2 с добавкой различныхколичеств порошкообразного графитаимеют аналогичную полистиролу энергетическую зависимость рентгеновскойплотности (фиг. 2), что позволяетосуществлять простой контроль метрологических характеристик вычислительных томографов во всем рабочем диапазоне высоких напряжений.Таким образом, использование порошкообразного графита полностьюсохраняет полезную...

Устройство для контроля характеристик панорамных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1593629

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Бардина, Рабухина, Смехов, Чикирдин, Ярославский

МПК: A61B 6/02

Метки: панорамных, томографов, характеристик

...фиксируются следы от пучков излучения, попадающих на пленку через щели диафрагмы. Эти следы указывают на направление пучков излучения в разных точках рабочей области томографа и могут быть использованы для точной установки тест-объектов устройства.Для этого на втором этапе исследования кассету с диафрагмой снимают с основания без изменения положения последнего, а на его рабочем участке с помощью фиксирующего приспособления 4 укрепляют пленку, полученную на первом этапе. При этом положение пленки на рабочем участке, точно соответствует положению пленки на первом этапе. Вследствие этого имеющиеся на ней следы точно отражают направление распространения рентгеновского излучения в разные моменты томографического исследования,Под основание...

Фантом для контроля метрологических характеристик рентгеновских вычислительных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1704045

Опубликовано: 07.01.1992

Автор: Гребенкин

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительных, метрологических, рентгеновских, томографов, фантом, характеристик

...паглащс цд упсглцтого мариала, указанные заы еыцалняются путем набора цз слоев с различными значениями коэффициента поглощения, причсм границы раздела указанных слоев ;аспаложены вдоль плосасти среза цри томсграфировании,Дастц,;масть положительного эффекта в предлагаемом устройстве обеспечивается тем, что при томаграфирооании происходит усреднение аэффициента поглощения по толщине среза, поэтому при перемещении границы раздела указанных слоев относительно плоскости среза эффективный коэффициент поглощения вставки будет плавно изменяться в пределах, определяемых применяемыми глатериалами слоев,Таким образом, в отличие от известного фантома, регулировка контраста вставки проиэоодится не путем ее замены, а путем соответствующего...