Интерференциональный микроскоп

Номер патента: 1809298

Автор: Ситник

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИсоиидлистичесРЕСПУБЛИК А АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ТЕЛЬСТВУ АВТОРСКОМУ С%14 НЦИОННЫЙ МИКРО е: для исследовани настей предмета. С 5 ОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕДОМСТВО СССРОСПАТЕНТ СССР)(57) Испол ьзованианализа неодноро ф Э. Основы оптики, М,389, УФИ, 1953, с. 50; вып. 2 55 б 01 В 9/02, 6 02 В 27/ ность изобретения: в интерференционный микроскоп введена маска 3, расположенная в плоскости изображения 4 и выполненная в виде последовательности прозрачных и непрозрачных полос 5, совпадающих по форме и размерам с интерференционными полосами 6 от предмета без неоднородностей и совмещенных с полосами интерференционной картины от исследуемого предмета 7, изображение которого находится в плоскости изображения 4. 1 ил.)31;Эз 17 Ч 1 ИТ)а)к Т 10 рписнулВГ)ИИ)ЛИ Государственного комитета по изобгетениям и открытиям при ГКНТ СССР11303)Я, МоскВЯ, Ж,".3, РкРушская наб,. 4.3 1 роизвохСтверО-издательггЙ комбинат "1 Ятент", Г, Ужгород, ул.Гагарина, 1 О 1 Изобретение относится к об асти огники, В частности, к интерфяренци)иным уст" ройствам и может бьть исг)оль":оЯ 10 для исследований и анализа материало",Цялр,)О ИЗОбретдН 1 я яяляятея умеНЬ 1 лз- НИЕ ТР 1 гДОЕР 4 КОС 3 И КОНТРОЛЛ НЕОДНОРОДНО стей предр 18 та в пределах щиоины одной интеос)еренццонр)ой Г)олось 1,НЯ ЧЕРТЕже ПРЯДСГЗЯЛЕНЯ СКЕМЯ гРЕДЛ ъГЯЕМОГО ТЕХН 1 1 ЧЯСКО РЯШ зНИЛЦРР У и РЯЯМ г ф 11 Л С 1 )ДЕгг. НТЯР фЕООМЕТС С ")И г,:1;Х:Дмет 2, маску 3, ряс- П 3 Л 1 Т)КЕР 1 НУРО В Г 1 г Име)ОУ 10 СИС ГЯРгУ ПОЛОСГ)г)ичер П;)Л) ",ЬСОВПЯДЯ)от С Ц , б полученными г)т предмета без неодрОродНОРГЯЙ ГРО фГГ.8 :. С.ГГ,18 ЩЕНЬ 1 С НИМИ, ФЗО 0 1 уЕге г)Гг: мст " г;. иУ,")ДИТСЛ В Т 111 г 1 г 1с гоойство раас г:;ет;г 1 ДуОщим обра- ЗОМ.1 ЛНТЯГЯ;,800)ие -.Дает изобрарконие ;э)ОЛМА)Я 7 " Д г)гтРЯЗОЯЯ 111.1 ЫМИ ПОЯДМЯ ТОМ 2 И 3 Ь" В г)1 ПЙ 4, ЫЯСКЙ 3 С ПОЛОСЯМИ 3 ОсгтаВЛЯ:ат ВЦДИМ),РИ ЛИЦ 1 фП КОТО 1 ЫЯ ВЦ- лвлярот ."11(. г="ели 1-редмт 2 не имеет неоднородностей, то поле зрения б)грет О)1.10 РОДНЬ)М, а ЕСЛИ ПРЯДМЕТ 2 Имгеет НЕГ- г 3 НГродно" И П) Г 111 На г 18 г)Л 1 уЭГ"Г)Г 1 И возник,ет градиент яркости, причем чем больше цеоднородносгь тем сильнее будет Градиент яркости пг)и достаточно высокой ВИД.0;:ти ИГ 3,"- Таким образом, Я ИПКЫ повыц)аегсл ИК изображе 11 я с сохранением ОДнОООДности ПОЛЯ ЗГ)ЯНИЯ В Отг УтГ тВИИ НЕОДНОРОД;10 с.гей на прядмота исследования,Формула изоб)рет 811 ИЯ ИнтегфЯРЯН 1 ИОННЫй МИКРЗСКОП, СОДЯРЖЭЩИЙ ОСВЯТИТСЛЬНУГО СИСТЯМУ, ОПТИЧ 8- ску:о систему, форр 1 груащуО в плоскости ИзобрВЖЯНИЛ ИрТеофег)ЯН 1 ИО)1 НЫ 8 ПОЛОСЫ 1От ПРЕДМЕТЯ С )ЧЯОДНОРОДР)ОСТЯМИ И 810 ИЗО,бра)кение, и Окулвт), О т л и: 3 О 1 д и 11 с й ТЯМ, )гто, С ЦЯЛЬ)О ЧИе)1 ЬШЯНИЯ т РУДОЯМКОСТИ контроля н 8 однород)гостей прэдр 48 та В пре,ггялак ширины одной интерАеренциор)ной 21) ПОЛОСЫ Я НЕГР;ЕЯЛЕНЯ МЯСКЯ РЯЗР 4 ЯЦЯ 1 Я)г)в плоскости изобоэккенил и эыголреннай В Виде гсследовятельности прозрачньх и непрозрачныу, полОс, сояГЯдаГ 11 ик по форме и разме)ям с полосами интерференционной кЯрпЛны От предмйга без НЯОДнороДностей, пТ)ичям пОЙОсы на магко соймящер)ьр с пото сами интярФяренцио 1)10 й картиньь

Смотреть

Заявка

4915527, 01.03.1991

Ю. И. Ситник

СИТНИК ЮРИЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 9/02, G02B 27/50

Метки: интерференциональный, микроскоп

Опубликовано: 15.04.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1809298-interferencionalnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерференциональный микроскоп</a>

Похожие патенты