Устройство для прямого наблюдения за структурой

Номер патента: 178549

Автор: Лозинский

ZIP архив

Текст

О Л И С А Н И Е 78549ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства Заявлено 24.Х 1.19932191/25-2 хл. 421 с, 34 вки,1 о присоединением МПК СО Комитет по деламобретений и открытийри Совете МинистровСССР ПриоритетОпубликовано 22 ДК 620 173.251,2(088.8) 620.175.251,2 (088.8) 1966, Бюллет 11,196 а опубликова ия описания 10 Авторизобретени, Лозинский Заявите УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРЯМОГО НА ОБРАЗЦОВ ТУГОПЛАВКИХ М ДО ВЫСОКИХ Тмет изобретения 15 Известные устройства для прямого наблюдения за структурой образцов материалов, нагретых до высокой температуры, содержат камеру, в которой испытывается образец, оптическую систему с кинокамерой, механизм нагружения образца и осветитель высокой яркости.При температуре 3300 С и выше из-за высокого значения яркости свечения испытываемых материалов, прямое наблюдение становится затруднительным, так как яркости осветителя нехватает для освещения образца.В описываемом устройстве для расширения диапазона температуры (3300"-С и выше) применен осветитель высокой яркости, спектральная характеристика которого отличается от спектральной характеристики испытываемого образца,На чертеже изображено описываемое устройство.Образец 1 помещают в камеру 2 и нагружают при помощи механизма 3 (который создает растяжение, сжатие, изгиб или кручение образца). За структурой образца наблюдают через смотровое стекло 4 и устройство 5, предохраняющее стекло от напыления на него частиц, испаряющихся с поверхности образца.аь.г.,; 7"БЛЮДЕНИЯ ЗА СТРУКТУРОЙАТЕРИАЛОВ, НАГРЕТЫХЕМПЕРАТУР Для освещения образца применяют осветитель высокой яркости, который содержит ртутную лампу 6 типа ДРШ-2 и монохроматический светофильтр 7, спектральные ха рактеристики которого подобраны таким образом, чтобы через него могли проходить лучи только той части спектра, которые отсутствуют в спектре излучения образца.Это позволяет вести наблюдение за образ цом при любой температуре. Визуальное наблюдение за образцом ведут с помощью оптической системы 8,Устройство для прямого наблюдения заструктурой образцов тугоплавких материалов, нагретых до высоких температур, содержащее камеру, в которую помещается образец, оптн ческую систему с кинокамерой, осветительвысокой яркости и механизм нагруження образца, отличаощееея тем, что, с целью расширения диапазона температур при испытании материалов, осветитель высокой яркости 25 имеет спектральную характеристику, не совпадающую со спектральной характеристикой испытываемого образца.Заказ 4148 Тираж 1350 Формат бум. 6 ЭХ 90/з Объем 0,1 изд. л. ПодписноеЦНИИП 1 Комитета по делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

932191

М. Г. Лозинский

МПК / Метки

МПК: G01N 3/18

Метки: наблюдения, прямого, структурой

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-178549-ustrojjstvo-dlya-pryamogo-nablyudeniya-za-strukturojj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для прямого наблюдения за структурой</a>

Похожие патенты