Способ автоматического централизованного контроля процессов, описываемых множествомпараметров

Номер патента: 177174

Авторы: Дысса, Темников

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Реслублин177174 авт. свидетельства Л виси мое явлено 05.Х.1964 ( 924415/26-24) Кл. 42 п,соединением заявки М Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР. Дысса явител СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОГО ЦЕНТРАЛИЗОВАННОГО КОНТРОЛЯ ПРОЦЕССОВ, ОПИСЬВАЕМЫХ МНОЖЕСТВОМ ПАРАМЕТРОВл, "-х,30 уппа174 одпис Известны способы автоматического централизованного контроля,Предложенный способ д(онтроля, включающий операции сравнения с уставками, нормализации н индикации отличается тем, что при его использовадпш формируют групповую контрольную характеристику в виде текущего статистического распределения отклонений параметров от нормы для чего измеряемые параметры сравнивают с уставками, отклонения 10 норм ируют, полученные результаты суммируют по знаку и величине дискретной шкалы отклонений, результаты суммирования запоминают и подают на индикатор, а по виду полученной характеристики судят о поведении 15 контролируемого процесса.Это облегчает наблюдение за характером протекающих процессов.Способ формирования указанной характеристики состоит из следующих этапов.1. Последовательный опрос датчиков, выходная информация которых характеризует текущие значения параметров х определяющих поведение контролируемого процесса.2, Определение отклонений параметров от 25 нормы,. - значения параметра относительно принятого начала отсчета; х,. - текущее значение параметра;Ж, - технологическая норма.Эта операция осуществляется сравнениесигналов датчиков Х Х., . Хс сигналамтой же физической природы, получаемымиуставок. Каждый датчик имеет индивидуальную установку, равную нормальному значению измеряемой величины У,.Это позволяет свести значения параметровк едддному началу отсчета.3, Нормирование отклонений параметровх; - Жд г - отклонение параметра;- нор мирующий коэффициент, позволяющий выразить отклонение параметра от нормы в относительных единицах и дискретной форме,4. Группирование отклонений -у, по дискретным уровням.Для этого нормированные значения параметров, представленные в дискретной форме (с учетом знака) подают на входы дешифратора для перехода от двоичного хода к унитарному. Импульсы с выходов дешддфратора направляются на накапливающие счетчики.5. Индикация получешдой дднформацддн на одной общей шкале.Заказ 3882/16 Тираж 975 Формат бум, 60 К 90/з Объем 0,1 изд. л. Цена 5 коп,ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, д, 2 В конце цикла опроса накопленная совокупность значений параметров +у, индицируется в выходном устройстве в виде гистограммы распределения отклонений,Полученная таким образом групповая контрольная характеристика дает качественно обобщенную картину по всему множеству параметров, контролируемых в ходе технологического процесса. Предмет изобретенияСпособ автоматического централизованного контроля процессов, описываемых множеством параметров, включающий операции сравнения с уставкаыи, нормализации и индикации, отличаюиийся тем, что, с целью облегчения наблюдения за характером протекающего процесса, формируют групповую контрольную ха рактеристику в виде текущего статистическогораспределения отклонений параметров от нормы, для чего измеряемые параметры сравнивают с уставками, отклонения нормируют, полученные результаты суммируют по знаку и 10 величине дискретной шкалы отклонений, результаты суммирования запоминают и подают на индикатор, а по виду полученной характеристики судят о поведении контролируемого процесса.

Смотреть

Заявка

924415

Ф. Е. Темников, О. Ф. Дысса

МПК / Метки

МПК: G06C 25/00, G06F 9/00

Метки: множествомпараметров, описываемых, процессов, централизованного

Опубликовано: 01.01.1965

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-177174-sposob-avtomaticheskogo-centralizovannogo-kontrolya-processov-opisyvaemykh-mnozhestvomparametrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ автоматического централизованного контроля процессов, описываемых множествомпараметров</a>

Похожие патенты