Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки по

Номер патента: 172374

Авторы: Вайварс, Карп, Францис, Якубайтис

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликГосударственныйкомитет по делаизобретенийи открытий ССС бликовано 29.И,1965. Бюллетень1 У,:1,К 621.317.333: ; 621.382,2 (088.8 ания 31 Х 11.19 та опуоликовапия оп АвторынзобретешяЗаявитель Инс А, Якубайтис, М. П. Вайварс, Т. А. Францис ут электроники и вычислительной техники А ТРОИСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОБИВНОГО ПРЯЖЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ В процессе измерения блок 7 измерения величины производной ооратного тока контролирует отношение приращения тока через диод к приращению напряжения на нем, т. е, вели чину производной. Если величина производнойменьше предельного значения, с блока 7 на шаговый искатель подается управляющий импульс, и шаговый искатель производит очередное изменение всличпны сопротивлений. Если 10 величина производной болипе пли равна за-,данному предельному значению, автоматически включается измсрптсльный прибор 8, по которому отсчи гывается величина пробивного напряжения. и управляемый шаговым искате лем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделпощуюся на диоде прп пробивном напряжении. г пзоор едм тенпя 20 Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодов, содержащее подключенные к диоду блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряже нпя, снабкенный набором коммутируемыхсопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, от,ггчаощееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из строя в процессе измерений, последовательно 30 с каждым из сопротивлений блока ступенчатой регулировки напряжения включен стабил п трон. дпасная грпаа Л" 89 В известных устройствах для определенияпробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих олок ступенчатой регулироьки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые в режиме пробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р - г-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя,В предложенном устройстве для предотвращения выхода диодов из строя в процессе изерения последогательно с каждым пз сопротивлений блока регулировки напряжснпя включен стабил.трон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и независимо от вольтамперной характеоистики мощность диода неизменна.Схема устройства изображена на чертеже.Последовательно с испытуемым диодом 1включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. Блок 2 содержит сопротивлениями.коммутируемые шаговым искателем 5. К каждому из сопротивлений подключено по стабплитрону б, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характеристики диода с гиперболой. с" ;И. С. Карп ЕБ,",..;.4 Латвийской СС 7

Смотреть

Заявка

838869

Институт электроники, вычислительной техники Латвийской

Э. А. Якубайтис, М. П. Вайварс, Т. А. Францис, Ю. С. Карп

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: блок, диодов, диодовв, известных, мощных, полупроводниковых, пробивного, регулировки, содержащих, ступенчатой, устройствах

Опубликовано: 01.01.1965

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-172374-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-probivnogo-napryazheniya-poluprovodnikovykh-diodovv-izvestnykh-ustrojjstvakh-dlya-opredeleniya-probivnogo-napryazheniya-moshhnykh-poluprovodnikovykh-d.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки по</a>

Похожие патенты