Способ определения прозрачности атмосферы

(я)5 6 01 й 21/5 САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЬСТВ К АВТОРСКОМУ СВИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(71) Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (72) Ю,О,Дуновский, В,И.Икконен и Ю.Д,Копытин(56) Авторское свидетельство СССР Ь 1286905, кл, 6 01 М 21/47, 1987,Авторское свидетельство СССР й. 1155922, кл. 6 01 й 21/59, 1985.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОЗРАЧНОСТИ АТМОСФЕРЫ(57) Изобретение относится к области измерений потоков. радиации и может найти применение при определении прозрачности атмосферы или энергетического ослабления излучения на различных высотах, Целью Изобретение относится к области измерений потоков радиации и может найти применение при определении прозрачности атмосферы или энергетического ослабления излучения на различных высотах,На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ.Устройство содержит источник 1 питания, излучатель 2, приемный оптический тракт 3. фотодетектор 4, размещенные на едином основании, а также усилитель 5 и осциллограф 6.Устройство размещается на метательном аппарате, например вертолете. изобретения является повышение точности способа. Способ определения прозрачности атмосферы заключается в том, что измеряют через атмосферы яркость участка поверхности на одном расстоянии от нее до точки измерения, Затем измеряют яркость того же участка поверхности, освещенного дополнительным источником света, Далее на другом расстоянии от участка поверхности до точки измерения осуществляют те же операции. Вычисляют разность между яркостями участка поверхности, измеренными на первом расстоянии от точки измерения, вычисляют разность между яркостями участка поверхности, измеренными на втором расстоянии от точки измерения, и по отношению разностных сигналов яркости определяют прозрачность атмосферы, 1 ил. В процессе реализации способа из точки измерения на высоте Н 1 в момент време- О ни т 1 приемным оптическим трактом 3 Оф принимается излучение участка подстилаю- С щей поверхности, которое преобразуется 0 фотодетектором 4 в электрический сигнал и усиливается усилителем 5. Напряжение 01, измеряемое на осциллографе 6, соответствует сигналу яркости, зависящему от яркости участка поверхности, обусловленной солнечным излучением, прозрачности исследуемого слоя атмосферы и собственной яркости атмосферы.ркости участка дополнительного, на одномточки иэмереЗатем иэ той же точки испускается импульс излучения излучателем 2, и в момент времени т приемным оптическим трактом 3 принимается отраженный импульс от подстилающей поверхности, Напряжение 02. измеренное на осциллографе 6, соответствует сигналу яркости, зависящему так же от яркости участка поверхности, обусловленной освещением излучателя 2,Раэностный сигнал 0-01 пропорционален интегральной прозрачности атмосферы.Затем те же операции повторяют иэ другой точки на высоте Н 2 и также получают разностный сигнал, пропорциональный интегральной прозрачности атмосферы. Разница между ними происходит за счет изменения точки излучения и длины трассы, Коэффициент ослабления я излучения слоем атмосферы, который характеризует ее прозрачность, при этом определяется выра- жением где Л В 1 и Л В 2 - разность яркости участка подстилающей поверхности, дополнительно освещенного и не освещенного, на одном и другом расстояниях от него точки измерения; Л Н - разность высот точек измерениянад подстилающей поверхностью. Формула изобретения5 Способ определения прозрачности атмосферы путем измерения через ее исследуемый слой яркости участка подстилающей поверхности на двух расстояниях от него 10 точкиизмерения, отлич а ющий ся тем,что, с целью повышения точности, дополнительно участок подстилающей поверхности освещают импульсным световым излучением, измеряют яркость участка из обеих то чек измерения при одном и том же углевизирования для всех измерений и искомую прозрачность определяют по коэффициенту епослабления излучения, вычисляемому извыражения20 где Ь В 1 и Л Вг - разность я5 подстилающей поверхности но освещенного и не освещен и другом расстояниях от него ния соответственно,30 Л Н - разность высот точек измерения над подстилающей поверхностью,