Устройство для обнаружения дефектов поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
) (1) КНТ СССР,ЗОБРЕТЕНИ ОПИСАН К АВТОРСКОМУ ИДЕТЕЛ ЬСТВ ническии институт.Клусов, В,С,Котляровистяков и С.В,Федоро М 135 ритан 74, тельс й 21/ ДЛЯ ХНОС носит нике и тво СССР 47, 1988.ОБНАРУЖЕНИЯ ТИся к конрольноможет быть исИзобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на деталях с оптически грубой поверхностью.Целью изобретения является повышение надежности обнаружения дефектов.На чертеже представлена схема устройства.Устройство для обнаружения дефектов поверхности состоит из излучателя 1, создающего световой поток, формирующий диафрагмы 2, оптического выравнивателя (поляризатора) 3, расположенного по ходу зеркально отраженных лучей зеркала 4 для отклонения зеркально отраженного светового потока, фотоприемника 5, расположенного в точке пересечения диффузно-отраженных еломленных зеркальных лучей, усили и корректовая диафрагма 2 и контролируемоку, Зеркально оти выравниваются мощью обеспечитных мгновенных Излучатель 1 иформируют на повего изделия 8 световраженные световыеполяризатором 3, Свается равенство а щеле хност ю мер поток его по бсолю и пер теля 6 СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ 21) 4624498/25(5)5 6 01 й 21/47, 21 пользовано для обнаружения механических дефектов на изделиях с оптически грубой поверхностью. Изобретение позволяет повысить надежность контроля. Устройство для обнаружения дефектов поверхности содержит излучатель, формирующую диафрагму, фотоприемник и усилитель. С целью упрощения конструкции и повышения быстродействия контроля устройство снабжено оптическим выравнивателем например, поляризатором) и корректором, расположенным по ходу зеркально отраженных лучей, а фотоприемник расположен в пересечении диффузионных и переломленных зеркальных лучей. 1 ил,С помощью оптического выравнивателя (в качестве которого может быть использован поляризатор света), управляемого кор ректором, добиваются того, что .при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные значения амплитуд перемен н ь 1 х составляющих оптических сигналов, определяемые рельефом контролируемой поверхности, равны между собой, При отсутствии автоматического устройства корректором является оператор-контролер.Устройство работает следующим образом.1659796 2 значений флуктуаций интенсивности зеркальной и диффузной составляющих светового потока, подающих на фотоприемник, Выравненные зеркально отраженные световые потоки зеркалом 4 подаются на вход фотоприемника 5, расположенный в ходе лучей диффуэно-отраженного светового потока. С помощью выравнивателя (поляриза. тора) 3 добиваются того, что при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные многвенные значения амплитуд переменных составляющих оптических сигналов, определяемые рельефом контролируемой поверхности, равны между собой. При отсутствии дефектов переменные составляющие оптических сигналов находятся в противофазе, так как их фазы определяются соответственно зеркальным и диффузным характером отражения света и после сложения фотоприемником взаимно компенсируются,При наличии на поверхности детали дефектов, не нарушающих микрорельеф поверхности (посторонние включения в структуру материала, неодинаковая цвет- ность участков поверхности и т,п.), импульсы оптических сигналов от дефектов синфазны, так как не происходит изменения характера индикатриссы рассеивания света, и интенсивность света, отраженного как зеркально, так и диффуэно, изменяется синфазно. В зависимости от коэффициента отражения участка детали и после сложения фотоприемником 5 вырабатывается сигнал, 5 который подается на усилитель 6, где формируется импульс на разбраковку,Формула изобретения Устройство для обнаружения дефектов 10 поверхности, содержащее излучатель, оптически связанный через формирующую диафрагму с фотоприемником, а также соединенный с фотоприемником усилитель, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью 15 повышения надежности обнаружения дефектов, устройство дополнительно содержит оптический выравниватель и корректор, соединенный входом с фотоприемником, а выходом - с оптическим выоавнивателем, 20 при этом фотоприемник оптически связан соптическим выравнивателем, оптические оси излучателя и оптического выравнивателя пересекаются в плоскости установки контролируемой детали, а проходящая через 25 точку их пересечения и фотоприемник оськанала диффузно-рассеянного излучения не совпадает с биссектрисой угла между оптическими осями излучателя и оптического выравнивателя.30
СмотретьЗаявка
4624498, 26.12.1988
ТУЛЬСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
СОРОКИН ПАВЕЛ АЛЕКСЕЕВИЧ, КЛУСОВ ИГОРЬ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КОТЛЯРОВ ВЛАДИМИР СТЕПАНОВИЧ, ТРИФОНОВ ХРИСТО ТРИФОНОВ, ЧИСТЯКОВ ВИТАЛИЙ ЛЕОНИДОВИЧ, ФЕДОРОВ СЕРГЕЙ ВЯЧЕСЛАВОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/47, G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
Опубликовано: 30.06.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1659796-ustrojjstvo-dlya-obnaruzheniya-defektov-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для обнаружения дефектов поверхности</a>
Предыдущий патент: Фотометр для сканирования небосвода
Следующий патент: Способ определения концентрации хлорофилла и устройство для его осуществления
Случайный патент: Вязально-прошивная машина