Способ измерения упругих деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Ленинградское производственное электромашиностроительное объединение(56) Авторское свидетельство СССРМ 706691, кл. 6 01 В 11/16, 1979,(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УПРУГИХ ДЕФОРМАЦИЙ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций крупногабаритных обьектов.Цель изобретения - расширение класса исследуемых объектов за счет плит прессформ, имеющих технологические отверстия.Способ осуществляют следующим образом.На поверхность плиты пресс-формы наносят центральную и две боковые метки: центральную - на донную часть технологического отверстия, а боковые - на торец плиты пресс-формы. С помощью оптической системы, имеющей центральный и два боковых канала, фиксируют положение меток, нагружают объект и регистрируют смещения меток,Регистрацию смещения центральной метки ведут в инфракрасном излучении с помощью электронно-оптического преобразователя, оптически связанного с централь.Я 2 1610254 А 1 измерении деформаций крупногабаритных объектов. Цель изобретения - расширение класса исследуемых обьектов за счет плит пресс-форм, имеющих технологические отверстия. На поверхность плиты наносят центральную и две боковые метки: центральную - на донную часть технологического отверстия, а боковые - на торец плиты. Фиксируют положение меток, нагружают объект и регистрируют смещение меток, Регистрацию смещения центральной метки ведут в инфракрасном излучении. По смещениям меток определяют деформации,ным каналом оптической системы, Электронно-оптический преобразователь преобразует инфракрасное излучение в видимое и направляет его в центральный канал. Изображение центральной метки проецируется на вход электронно-оптического преобразователя с помощью объектива, выполненного из материалов, прозрачных для инфракрасного излучения, По смещениям меток определяют деформации.Формула изобретения Способ измерения упругих деформаций, заключающийся в том, что на поверхность исследуемого объекта наносят центральную и две боковые метки с помощью оптической системы, имеющей центральный и два боковых канала, фиксируют положение меток, нагружают обьект, регистрируют смещения меток и по смещениям определяют деформации, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения класса исследуемых объектов за счет плит пресс1610254 Составитель В.КостюченкоТехред М.Моргентал Корректор С.Шекмар Редактор А.Огар Заказ 3728 Тираж 492 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 форм. имеющих технологические отверстия, центральную метку наносят на донную часть отверстия, регистрацию смещения метки ведут в инфракрасном излучении, которое преобразуют в видимое и направляютв центральный канал оптической системы.
СмотретьЗаявка
4322687, 24.08.1987
ЛЕНИНГРАДСКОЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ЭЛЕКТРОМАШИНОСТРОИТЕЛЬНОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ЭЛЕКТРОСИЛА" ИМ. С. М. КИРОВА
ПРОХОРОВ ЕВГЕНИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, РЫЖИКОВ ЛЕВ ЗЕЛИКОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, упругих
Опубликовано: 30.11.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1610254-sposob-izmereniya-uprugikh-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения упругих деформаций</a>
Предыдущий патент: Растровая решетка
Следующий патент: Фотоэлектрический датчик угловых перемещений
Случайный патент: Устройство для регулирования ярости изображения