160859
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 160859
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИКОПИСАНИЕ ИЗОБ РЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИЬБТЕЛЬСТВУ Ло 160859Класс 426, 20 од МПК О 02 д 1 Заявлено 24.Х.1962 ( 800034/26-10) 10 СУДАРСТВЕННЫИКОМИТЕТ ПО ДЕЛАМи,дОБРетеыи 11 и ОткРытийСССР УДК Опубликовано 26.11.1964, Бюллетень6 Подггисная грунгга1 б 8 Н. В. Королей ТИддЕСКИЙ ЭМИССИОННЪ 1 Й МИКРОАНАЛИЗАТОИзвестные приборы для эмиссионного микроанализа не позволяют достаточно надежновыделить нужную зону из анализируемой пробы.Предложенный прибор отличается от известных тем, что в нем оптическая системамикроскопа проектирует изображение искрына зеркальную щель спектрального прибора.Кроме того, для контроля при совмещенииспектральных линий с входными щелямиспектрального прибора в нем система поджигаискры подключена к блоку строчной разверткителевизионной трубки.На чертеже изображена оптическая схемаэмиссионного микроанализатора,Свет от источника 1 через систему 2, 3, 4 опакиллюминатора, отражаясь от кварцевой пластинки 5, попадает на объект б исследования вотраженном свете либо на электроды 7 и 8 приконтроле их установки,Контроль осуществляется через оптическуюсистему, состоящую из микрообъектива 9, наклонной кварцевой пластинки 5, ахроматического кварц-флюоритового блока линз 10, наклонного плоского зеркала 11, вогнутого кварцевого зеркала 12, объектива И зрительнойтрубки, проектирующего изображение с поверхности зеркала 12 в окуляр 14 с увеличением 1:1,Узкая щель, прорезанная в слое алюминия зеркала 12, является щелью спектрального прибора с оптическими деталями 15, 1 б, 17, 18, после которых интенсивность выбранных аналитических линий через прорезь в зеркале 18 регистрируется фотоумножителем 19, а лучи, отраженные от зеркала 18 с помощью деталей 20, 21, проектируются на экран передающей телевизионной трубки 22 либо при выведенном зеркале 21 через зеркальную щель коллекторной линзы 23 свет попадает на катод фотоумножителя 24.Предмет изобретения1. Оптический эмиссионный микроанализатор, содержащий микроскоп для исследований в отраженном свете, спектрограф и аппаратуру для фотоэлектрической регистрации, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения локальности и абсолютной чувствительности эмиссионного микроанализатора, в пем оптическая система микроскопа проектирует изображение искры на зеркальную щель спектрального прибора.2. Микроанализатор по и. 1, отл и ч а ющ и й с я тем, что в нем, для контроля при совмещении спектральных линий с входными щелями спектрографа система поджига искры подключена к блоку строчной развертки теле. визионной трубки.
СмотретьЗаявка
800034
МПК / Метки
МПК: G01J 3/00, G01J 3/04, G01N 21/67, G02B 21/00
Метки: 160859
Опубликовано: 01.01.1964
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-160859-160859.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">160859</a>
Предыдущий патент: 160858
Следующий патент: Устройство для временной развертки спектра
Случайный патент: Устройство для обработки внутренних канавок