Способ измерения толщины изделий из низкомодульных материалов

СООЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 015 Я В 5/06 ОБРЕТЕН 0 М ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ УНТ СССР У СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Новосибирский институт инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии(56) Авторское свидетельство СССР В 86455, кл, С О 1 В 5/06, 949.Авторское свидетельство СССР Р 363855, кл, С 01 В 5/06, 1969, (54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ТОЛИНЫ ИЗДЕХП ИЗ НИЗКОИОДУЛЬНЫХ ИАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к иэмери тельной технике, а именно к механическим контактным средствам измерения толщины иэделий иэ полимерных м териалов, например пленок, Цель 2изобретения - повышение точности при воздействии на изделие 1 сферического индентора 3, что достигается дополнительным воздействием на инден тор 3 второй заданной силы, превышаннщей первую, и измерением дополнительного перемещения индентора 3, а при определении толщины изделия 1 - учетом упругой деФормации иэделия 1 от действия первой силы, Толщину иэделия 1 определяют по формуле Н = Н, - Н, (Р /Р )- 11 , где Н - толщина иэделия; Н - расстояние от индентора 3 до основания 2 при действии силы 1,; Н, - перемещение индентора 3 при увеличении силы от Рдо Г . Способ позволяет повысить точность измерения толщины тонких пленок полимерндх материалов, 1 ил, 1601503Изобретение относится к измерительной технике, а именно к механи ческим контактным средствам измерения толщины изделий, и мржет быть использовано при измерении толщины изделий из полимерных материалов, например пленок.. Цель изобретения - повышение точности измерений при воздействии на .изделие сферического индентора, чтодостигается дополнительным воэдейст;вием на индентор второй заданной си.,лы, превышающей первую, и измерением .,дополнительного перемещения инденто;ра, а при определении толщины изделия - учетом упругой деформации из.делия от действия первой силы.На чертеже представлена схема наг:,ружения индентора при осуществлении .способа,Способ осуществляют следующим об;:разом.Контролируемое изделие 1 из ниэкомодульного материала, например полимерную пленку, помещают. на жесткое основание 2 и .воздействуют приложенной к сферическому индентору 3 ,заданной силой Р 1 на противоположную основанию поверхность, Измеряют расстояние от индентора до основаник :с помощью какого-либо измерителя 4 перемещения, например, с помощью часового индикатора, шкала которого предварительно настраивается на нуль при упоре шдентора 3 закрепленного на конце штока индикатора, в жесткое основание 2. Затем увеличивают нагрузку на индентор 3 до величины, соответствующей второму значению заданной силы, и убеждаются в том, что нагружение материала происходит в зоне упругих деформаций, о чем свидетельствует повторение показаний при возврате к нагружению первой силой. При несовпадении этих показаний уменьшают значения первой и второй заданной силы до уровня, соответствующего упругим деформациям.При воздействии на индентор 3 большец заданной силы Р измеряют перемещение индентора 3, соответствующее увеличение силы от значения Р, щину иэделия 1 определяют по Формуле 2 Ра 3 5 Н=Н-Н ( - ) -12 Ргде Н - толщина изделия;Н - расстояние от индентора дооснования при действии силыР,;Н, - перемещение индентора при уве.увеличении силы от Рдо РФ Р, и Р - большее и меньшее значениязаданной силы,Способ позволяет повысить точность измерения толщины полимерных материалов типа пленок, так как их упругая деформация под действием сферического индикатора может составлять 20- 507. измеряемой толщины, Он может оказаться полезным и в других случаях при измерении размеров легко деформируемых тел. 10 20 25 Формула изобретенияСпособ измерения толщины изделийиэ низкомодульных материалов,заключающийся в том, что изделие помещают на жесткое основание, воз"30 действуют приложенной к инденторузаданной силой на противоположнуюоснованию поверхность и измеряют расстояние от индентора до основания,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности при воздействии на изделие сферического индентора, дополнительно воздействуют на индентор большей заданнойсилой, измеряют дополнительное пере 40 мещение инденторау а толщину иэделияН определяют с учетом упругой деформации изделия по ФормулеН = Н, - Н (Р,/Р, ) - 145где Н - расстояние от индентора дооснования при действии силы РН - перемещение индентора при50увеличееИи силы От Рдо Р 1Ри Р 1 - большее и меньшее значениязаданной силы,