Эмаль

Номер патента: 1068783

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Дыхнилкин, Конашенок, Погорелый, Романова, Шибаров

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, оптической, отражения, поверхности

...9 и 10, установленные перпендикулярно один другому и под угломо45 к оптической оси каналов, образующие уголковый отражатель, установочная плоскость держателя 11 образ.ца установлена перпендикулярно оптической оси каналов, фотометрические шары 12 и 13, в которые помещены фотоприемники 14 и 15 образующие фотоприемный блок, фотодиоды 16 и 17, установленные непосредственно за 10 диском модулятора 8 напротив лампочек18 и 19 и прорезей в диске соответственно А и В .(С), быстродействующий электронный ключ 20, усилитель 21,аналого-циФровой преобразователь 22,ЭВМ 23, считыватель 24, индикатор(показывающий прибор) 25, элементы16-19 образуют эптроннйе пары.Устройство работает следующим образом. 20Поток излучения от осветителя 1проходит через...

Номер патента: 1500920

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Воробьев, Груздев, Печенкин, Стерин

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...9 определяется формулой, в которую входит также коэффициент К, , пропорциональный коэффициенту зеркального отражения образца 12, т.е.ВКК К схр Ке К 1 К 9Таким образом, если вычислить отношение сигналов Б 1 и Б , то оно равноБ ВКК 4 К оК 11 3 Ф б 3 Ф 2(4)Поскольку по результатам выравнивания выходных сигналов фотоэлектриП ческих приемников - = 1, тоЦПКфФр фПри подключении фотоэлектрических приемников к измерителю отношений, последний измеряет значение коэффициента зеркального отражения образ-. ца К,р .1Зеркальный отражатель 5 вращается вокруг оси С, перпендикулярной плоскости чертежа. Поскольку аАСО = 4 АСО (по стороне ОС и прилегающим к ней углам), то СА = СА, т.е. точки А и А на отражателе 5 совпадают. Поскольку углы поворота...

Номер патента: 1662229

Опубликовано: 27.11.1995

Автор: Хотеев

МПК: G01N 21/55

Метки: высокотемпературных, зеркального, измерений, коэффициента, отражения, спектрального

...усилителем переменного тока приемно-измерительного блока установки. В качестве эталона может быть выбрано зеркало из платины или другого материала с известными характеристиками отражения, выдерживающего температурунагрева в ходе эксперимента. Эталон и образцы должны быть одинаковой толщины, Устанавливают их по разметке на поверхности столика, как показано на фиг.З,Нижние поверхности прозрачных образцов и эталона шлифуют во изображение направленного отражения от них, а верхние - полируют, При измерении коэффициентов отражения расплавов каждый образец помещают в свою керамическую кювету, состоящую из основания и бортиков, соединенных между собой жаропрочной обмазкой, наносимой с наружной стороны кюветы. Это позволяет выполнять...

Номер патента: 1167481

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Дубиновский

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, крупногабаритных, локализированных, отражателей, отражения, поверхности, участков

..., 4,жение точки 11 анализа, а ось 12анализа направлена параллельно осиотражателя,Относительное движение точки ана лиза и следа отраженного пучка наповерхности анализа возможно вдвух режимах: синфазный режимч,=ч х (ц=к, с);у И)у, ц,либо асинхронный режим .аь с отрЧ 7 Чгде Ч - линейная скорость перемеинщения точки анализа;Ч - линейная скорость перемещения следа отраженногопучка;нотр И 1(Ц - текущие координаты следа отротраженного пучка в плоскости анализа;Х (1)у (ц- текущие координаты точки ан ананализа.В синфазном режиме необходимо обеспечить синфазность текущих положений следа отраженного пучка в плоскости анализа и точки анализа. В том режиме выдается инфор-мация о КЗО по всей поверхности отраже.шя без пропусков.В асинхронном...

Номер патента: 1307314

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Вакив, Кушнир, Шпотюк

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...луч,сканируя пространство многократныхотражений, каядый раз отражаетсятолько от центрапьной части каждогорегистрирующего элемента фотодетектора, Это предполагает выполнениенекоторого геометрического соотношения между элементами оптической ахеОптимальный режим работы устройства соответствует коэффициенту отражения рабочей поверхности каядого фотоэлемента К=50%. При этом элемент регистрирует половину падающего нанего светового потока, а вторая половина направляется на исследуемуюповерхность, Такая отражающая способность может быть достигнута при высоком классе обработки рабочей поверхности или путем применения металлических отражающихпокрытий.Нижний предел отражающей способностиК определяется условиями и качеством обработки...