Способ определения концентрации водородсодержащих примесей в ионных кристаллах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
, (5 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ески 1963,ы и с- ИФи7.ПТРЬЦИИИОННЫХ 1 з бретен химии относится к аналионных кристалло итико-. унда- тве ческоиторыементалдисперскопииядерньЦелние чсоба. зуются дляаний в качеентов ИК-спед, детекто широко испол ьных исследо ктр гирующих элелазерных см излученийью изобретенвствительнос т дая являеи и точ я повыш сти сло е электсталлауществляют следую Спосазом. омкон б ванииКрис15 мм ставолитического окрашива ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВ(56) Вц 11. Ашег. Рйуз. Бос.,Бег. 11, ч. 8, У 3, р. 230,Закис 10.РПроблемы чистотвершенства ионных кристалловАН ЭССР, Тарту, 1969, с. 28-3(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕЕ 1 ИЯ КОНЦЕВОДОРОДСОДЕРИАГЯХ ПРЖ 1 ЕСЕИ ВКРИСТАЛЛАХ П р и м е р 1. Для определения центрапии водороцсодержащих ионов ыл взят монокристалл бромистого цея с введенной в шихту при выращигидроокисью цезия (0,005 мольн.талл диаметром 16 мм и длинойпомещали в ячейку для элект 2(57) Изобретение относится к области аналитической химии ионных, кристаллов, которые широко используются для фундаментальных исследований, в качестве лазерных сред, детекторов ядерных излучений и т.д. Целью изобретения является повышение чувствительности и точности способа, Сущность изобретения заключается в том, что в кристалл вводят электронные центры окраски, взаимодействующие с водород- содержащими примесями с образованием гидрид-ионов, а затем проводят спектрофотометрию на полосе поглощения гидрид-иона. 1 табл. ляющую собой плоский и острийныйэлектроды, помещенные в нагревательное устройство. После выдержки кристалла в течение 15 мин при 550 Счерез него пропускали электрическийток, равный 10 мА, в течение 5 мин,при этом отрицательный потенциал подавали на острийный электрод. По истечении 5 мин острийный электрод заменяли на плоский и избыточныронные центры выводили из крипри визуальном наблюдении в течение130 с. Затем кристалл охлаящали до к натной температуры. Концентрацию об" , разовавшихся гидрид-ионов определяли спектрофотометрически по полосе поглощения 248 нм.Результаты определения приведенытаблице.1539609 Результаты определения концентрации ОН -ионов (кол-во ионов/смэ ) 10 Концентра- Определенция вве- ная конценденной при- трациямеси ОН" Пример Материал образца Р об- разца 1 СзВг (0,005 мольн.Ж СзОН) 6,0 5,8 6,0 2КВг 1 2 3 0,34 0,32 0,34 3 СзВг 1(0,005 моль.Е 2 СвОН и 0,001 мольн.Ж 3 ВаВг) 6,0 6,0 6,0 5,8 5,8 5,9 ружено не было. Аналогично примеру 1бьцти получены гидрид-ионы, результаты определения которых приведены втаблице Формула изобретения ности путем устранения влияния примесных ионов, спектрофотометрическиеизмерения проводят в кристалле послевведения злектроннык центров окраски,взаимодействующих с водородсодержащими примесями с образованием гидридионов, в полосе поглощения гидридионов. Составитель И. Зубов Редактор А. Маковская Техред Л.Олийнык Корректор М. КучеряваяЗаказ 211 Тираж 504 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 11 11Производственно-издательский комбинат Патент , г.Ужгород, ул. Гагарина,101 П р и м е р 2. Для определения концентрации водородсодержащих ионов был взят бромистый калий в виде моно кристалла размером 80 100 100 мм, из которого получали образцы размером 15 1520 мм,-подвергали электролитическому окрашиванию по примеру 1 при 580 С. Концентрацию гидрид-ионов оп .ределяли, спектрофотометрически по полосе поглощения 228 нм, В исходном кристалле полос поглощения в УФ- и ИК-области спектра не обнаружено.Результаты определения приведеныв таблице.П р и м е р 3Для определения был взят монокристалл бромистого цезия с введенными в шихту при выращивании О, 005 мольн. 7. СзОН и 0,001 мольн. Е,40 ВаВг 2 диаметром 15 мм и длиной 15 мм., В исходном кристалле полос поглощения в УФ" и ИК-области спектра обнаСпособ определения концентрации водородсодержащих примесей в ионных кристаллах путем спектрофотометрических измерений, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью повьппения чувствительности способа и повьппения точ
СмотретьЗаявка
4337712, 04.12.1987
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. ЛЕНСОВЕТА
ШАПУРКО АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, СИГАЕВ ВЯЧЕСЛАВ ЯКОВЛЕВИЧ, ШТАНЬКО ВИКТОР ИВАНОВИЧ, ГРОМОВ ЛЕОНИД АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/33
Метки: водородсодержащих, ионных, концентрации, кристаллах, примесей
Опубликовано: 30.01.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1539609-sposob-opredeleniya-koncentracii-vodorodsoderzhashhikh-primesejj-v-ionnykh-kristallakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения концентрации водородсодержащих примесей в ионных кристаллах</a>
Предыдущий патент: Способ измерения дифференциальных спектров пропускания на двухлучевых спектральных приборах
Следующий патент: Способ измерения дисперсии оптических материалов
Случайный патент: Способ изготовления спеченных изделий