Способ определения направления волокнистой структуры
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1529911
Авторы: Огородников, Тюнькин
Текст
(51) 5 С 01 К 19/08 ИЗОБРЕТЕНИЯДЕТЕПЬСТВУ ВТОР СКОМУ 46) 21) 22) Бел. 1" 178 07.05.934373570/229.12.87В,А.Огородни Е.С,Тюнькинрхнос (разшенне по типуние волокнисто рав- пада структуры со осью образола имеет ч Еслишуйчатый ове ность о разруше то направтуры перпенЕсли же потруктурныео волокнисд угло СОВХОЗ СОВЕ ТСНИХс1", ")1 - СОЦИАЛИСТИЧЕСНИ 1ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОЧНРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРВОЛОКНИСТОЙ СТРУКТУРЫ МАТЕРИА.(57) Изобретение относится к Изобретение относится к материаловедению и предназначено для определения направления волокнистой структуры материала связанной с направлением прокатки, при откольиом разрушении образца,Цель изобретения - снижение трудоемкости эа счет исключения необходимости физико-химической обработкиповерхности,Образец исследуемого материалаподвергают динамическому нагружениюс помощью подрыва на его поверхностизаряда взрывчатого вещества или нагруаению с помощью ударника, разогнанного до высокой скорости. Толщинузаряда взрывчатого вещества или скорость ударника задают достаточнойдля создания откольного разрушенияв исследуемом образце. 801529911 А 1 ловедению. Пель изобретения - снижение трудоемкости за счет исключениянеобходимости физико-химической обработки поверхности. Способ определениянаправления волокнистой структуры материала состоит в том, что образецисследуемого материала подвергают динамическому нагрукению создающемуоткольное разрушение, и производятоптическое исследование поверхностиотколаСпособ не требует разрезкиобразца в двух взаимно перпендикулярных направлениях, шлифовки и полировки поверхностей среза и травлениядля получения в дальнейшем качественной фотографии микрошпифа,Затем с помощью оптических срили визуальным осмотром аналиэирхарактер поверхности откольногорушения, на основании которого делвывод о направлении волокнистой сттуры. е, если характер пов имеет игольчатый видотрыва), то на ние по типу расслоения) ление волокнистой струк дикулярно оси образца. верхность откола имеет элементы обоих видов тая структура располоке к оси образца.1529911 Изобретение сниждет трудоемкость, тдк кдк не требуется специальной физико-химической обработки поверхности (получение мнкровпифд и его травление). Ф о р м ул а и з о б р е т е н и я Составитель В.ПастушинТехред И,Ходанич Корректор О, Краемвд Редактор Н,федорова Заказ 1972 Тираж ПодписносВНИИЛИ Государственного комитета по изобретениям н открытиям прн ГКНТ СС113035, Иосква Ж, Раушскдя нзб ц, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород ун. дгдр.,1 н Способ определения направления во Олокнистой структуры материала путем оптического исследования нов рхнос 1 иобрдзца материалао т л и ч д ивщ н й с я тем, что, с налью снижения трудоемкости зя счет нскяючениянеобходимости физико-хилической обработки поверхности, образец поджргают динамическому нагружеине создающему откольное разрушение, д рдправление волокнистой структурн ои"ределяют по поверхности откола.
СмотретьЗаявка
4373570, 29.12.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4665
ОГОРОДНИКОВ В. А, ТЮНЬКИН Е. С
МПК / Метки
МПК: G01N 19/08
Метки: волокнистой, направления, структуры
Опубликовано: 07.05.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1529911-sposob-opredeleniya-napravleniya-voloknistojj-struktury.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения направления волокнистой структуры</a>
Устройство для очистки поверхностей металлических изделий с помощью направленных
Номер патента: 170847
Опубликовано: 01.01.1965
Автор: Аристов
МПК: B24C 3/20
Метки: металлических, направленных, поверхностей, помощью
...стола осуществляется через цепную передачу б, редуктор 7 от электродвигателя 8.Внутренняя полость стола является емкостью для чугунной дроби 9. Для предотвращения попадания дроби в полость неподвижной тумбы служит лабиринтное уплотнение 10 и неподвижная крышка 11.Через крышку проходит трубчатая стойка кронштейна 12, закрепленная на крестовине 18. Внутри трубчатой стойки проходят и выводятся через крышку 11 воздухопроводы 14, которые идут от коллектора сжатого воздуха к воздушным соплам. На коллекторе 15 пульта управления установкой имеются вентили 1 б, манометр, продувной вентиль.На трубчатой стойке закреплен горизонтальный неподвижный кронштейн 17, к которому крепятся наклонные лопатки 18 и 19 для подачи чугунной дроби к воздушным...
Устройство для очистки поверхностей металлических изделий с помощью направленных аэрозольных струй
Номер патента: 591310
Опубликовано: 05.02.1978
Автор: Пономарев
МПК: B24C 3/20
Метки: аэрозольных, металлических, направленных, поверхностей, помощью, струй
...22, редуктором 23 и электродвигателем 24, Неподвижный вал 15 выполнен с внутренней полостью К, которая через фланцевое соединение 25 соединена с магистральным воздухопроводом 26, снабженным вентилем 27 и манометром 28 давления.Устройство работает следующим образом.От включения вентиля 27 воздухопровода26 и вращения вала 8 с укрепленными лопатками 18 и воздушными соплами 19 через приводную звездочку 21, цепную передачу 22, редук тор 23 от электродвигателя 24 находящаяс врезервуаре дробь приходит в направленное движение аэрозольных струй к укрепленным на крышке-кассете 6 изделиям 14, Углы наклона лопаток подобраны таким образом, что при своем врагцении все четыре сопла закрыты слоем чугунной дроби, а углы наклона осевых 5 линий сопл...
Способ определения электронной структуры поверхности твердого тела
Номер патента: 1436037
Опубликовано: 07.11.1988
МПК: G01N 23/22
Метки: поверхности, структуры, твердого, тела, электронной
...получалась картина, отображающая зависимость интенсивности максимума ПТ (на которой была произведена предварительная настройка) от направления падения первичного электронного пучка, т,е. картина фигур эжвиинтенсивности. На фиг.З представлена характерная фигура эквиинтенсивности, полученная для исследуемого монокристапла никеля. Приведенная фигура обладает симметрией квадрата. Для гранецентрированной кубической рещетки симметрией квадратахарактеризуется плоскость (100), следовательно исследуемьй монокристапл имеет ориентацию (100). Формула из обретения Способ определения электронной структуры поверхности твердого тела, медленных электронов, изменение энергии электронов пучка, регистрацию тока в це" пи образца, нахождение спектральной...
Извитое волокно из ароматического полиамида, волокнистая структура и способ их получения
Номер патента: 1838472
Опубликовано: 30.08.1993
Авторы: Бавенеш, Вернон, Дэвид, Фрэнсис
МПК: D02G 1/00
Метки: ароматического, волокнистая, волокно, извитое, полиамида, структура
...нелинейные волокна 10 имеют, в основном, отношение остаточнойдеформации и обратимой деформации более, чем 1,2;1, а предпочтительно 2:1 (при комнатных температурах), величину деформации изгиба менее 50 О, а предпочтитель но менее 30 ф(и при этом не имеют изгибовЧ-формы и/или фибриллярности.Волокна-заготовки могут быть подвергнуты процедуре по приданию извитости или нелинейной конфигурации с одновремен ной тепловой обработкой при температуре,превышающей 200 С с целью получения волокон со значительной остаточной деформацией, Предпочтительно, если термофиксация проводится в безводной атмосфере.Конкретными примерами ароматических полиамидов могут служить полипарабензамид и полипарафенилантерефталам ид. Другими пол н остью а ромати 30 ческими...
Прибор для измерения зернистости, шероховатости и структуры матовых поверхностей
Номер патента: 38801
Опубликовано: 30.09.1934
Автор: Бурмистров
МПК: G01B 11/30
Метки: зернистости, матовых, поверхностей, прибор, структуры, шероховатости
...от требующегося рода освещения. В боковой трубке Т имеются два щелевых выреза, в первый из которых вставлен диференциальный растр Й так, что его плоскость параллельна оптической оси объектива О и находится в фокальной плоскости оку ляра Ок, лучи в который от растра попадают благодаря отражению от зеркальца Яр. Поэтому глаз наблюдателя одновременно видит сетку растра, освещенного лампочкой Ь через серый нейтральный клин К, вставленный во второй щелевой вырез боковой трубки Т, н в середине поля сетки растра изображение поверхностного слоя или поверхностиПодбирая теперь одинаковую освещенность центра и периферии рассматриваемого поля при помощи перемещения серого нейтрального кли. на К, можно диференциальный растр Я подвести, перемещая...