Бизеркальная оптическая система
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИСОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИК 20466 19) 11 2.В 5 ОМИТЕТОТНРЫТИЯМ ГОСУДАРСТВЕННЫПО ИЗОБРЕТЕНИЯМПРИ ГКНТ СССР ИЗОБРЕТЕНИЯДЕТЕЛЬСТВУ ПИСАНИ(088.8)США М 3140339,опублик. 1964. ков,еспечени Цель изобретенияозможности использоистеме контроля пов800. ания зеркала врота объекта на влена оптическая же На чертма систБизеркал дс мы еьная опя точно ческая система и поворота объе плоские зеркала для контрота на 180 ержит(54) БИЗЕРКАЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности ,к оптическим системам с отражающими поверхностями, и предназначено для автоколлимационного контроля точнос-,а ти поворота объекта на 180 , например, в устройствах контрольно-испы.тательной аппаратуры при метрологиИзобретение относится к оптическо му приборостроению, в частности к контрольно-испытательной аппаратуре при метрологической аттестации измерителей параметров движения, гравиметров, датчиков углового положения и т.п а также при изготовлении, сборке, монтаже изделий машинострое 2 ческой аттестации измерителей параметров движения, гравиметров, датчиков углового положения и т.п., а также изготовлении, сборке и монтаже изделий машиностроения. Оно позволяет повысить точность контроля, Это .достигается за счет того, что в каждом из плоских зеркал, присоединенных друг к другу отражакицими поверхностями, выполнено, по крайней мере, одно сквознае отверстие, смещенное относительно оси симметрии зеркала, совпадающей с осью поворота системы, а зеркала соединены так, что их отверстия не совпадают друг с другом и размещены симметрично относительно р оси поворота, а отражающие покрытия выполнены наружными. 1 ил.С: 1 и 2, плотно присоединенные друг к другу отражающими. поверхностями 3 и 4, на которые нанесены наружные отражающие покрытия 5 и 6, При этом их границы внешнего отражения находятся в одной общей стыковочной плоскости Р. Зеркала 1.и 2 симметрично смещены относительно оси поворота.Для проведения контроля поворота объекта на 180 бизеркальная система устанавливается на поворотном устройстве и ось совмещается своей осью, Х-Х с осью поворота устройства (достаточно выставить ось Х-Х параллельно оси поворота устройства). Контроль поворота может производиться, например, с помощью автоколлиматора типа АК.1 У. Затем аттестуемый объект,15204 бб ческого сигнала с аттестуемого прибора. Формула изобретения 20 Составитель Т.Гатилинаактор Н.Тупица ТехредК,Ходанич орректор О.Кравцов 753/47 Тираж 513 ПодГосударственного комитета по изобретениям и113035, Москва, Ж, Раушская наб. к ноерытиям при ГКНТ СССР4/5 В роизводственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул, Гагарина, 10 например измеритель параметров движения, устанавливается на поворотноеустройство и его чувствительный элемент выставляется в электрическийнуль. После этого бизеркальная оптическая система выставляется относительно луча автоколлиматора поворотом вокруг оси Х-Х в положение, при котором пбсланный и отраженный параллельные пучки света совмещены с точностью цены деления в поле зрения секундной шкалы. Это положение является исходным для начала аттестации прибора.15 Поворот производится с помощью, например, механизма грубой.и точной настройки позволяющего после дости 3жения 180 совместить посланный и отраженный параллельные пучки света с точностью цены деления в поле зрения секундной шкалы автоколлиматора. При этом производится измерение электри- Ф Бизеркальная оптическая система, содержащая плоские зеркала, присоединенные друг к другу отражающими поверхностями, о т л и ч а ю щ а я - с я тем, что, с целью обеспечения возможности использования зеркала в системе контроля поворота объектаона 80 , в каждом из зеркал выполнено по крайней мере одно, сквозное отверстие, смещенное относительно оси симметрии зеркала, совпадающей с осью поворота системы, а зеркала соединены так, что их отверстия не совпадают друг с другом и размещены симметрично относительно оси поворота, а отражающие покрытия выполнены наружными.
СмотретьЗаявка
4159028, 10.12.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1001
ГРИГОРЬЕВ ЛЕВ ПЕТРОВИЧ, СТРУЧКОВ ВИКТОР КОНСТАНТИНОВИЧ, ФАЛЕЕВ БОРИС ДМИТРИЕВИЧ, ЦАРЬКОВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G02B 5/08
Метки: бизеркальная, оптическая
Опубликовано: 07.11.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1520466-bizerkalnaya-opticheskaya-sistema.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Бизеркальная оптическая система</a>
Устройство для определения положения числа на числовой оси относительно двух других чисел
Номер патента: 955033
Опубликовано: 30.08.1982
МПК: G06F 7/06
Метки: двух, других, оси, относительно, положения, чисел, числа, числовой
...триггеры 73, выходы 74-77, входы 78 и 79,выход 80, выходы 81-83,Входы 78 и 79 подключены к выходам38 и 39 блоков 6 и 7 соответственно,выход 76 - к входам синхронизациитриггеров 8 и 9, выход 77 - к входамсдвига регистра 1-3, выход 75 - квходу 42 блока б и входу 44 блока 7,выход 74 - к входу 41 блока 6 и входу 43 блока 7. Выход 80 соединен свыходом признака окончания работы,вход 81 - с входом начальной установки, вход 82 - с входом пуска, вход83 - с входом внешней синхронизацииустройства.Работа устройства описывается наследующих соотношениях,Пусть У ху (или Уху ),где х и У(1 = 1,) - двоичные коды.Тогдах = хх х, Х= у ууи веса разрядов убывают в порядкевозрастания их номеров.Введем величины 31):1 х, Ц - х)Кх, ,) -х 1)дг= )(т 1) . (1 Г(1). х...
Оптико-электронное устройство для измерения скорости перемещения объекта относительно оптически неоднородной поверхности
Номер патента: 1350499
Опубликовано: 07.11.1987
МПК: G01B 21/00, G01H 9/00
Метки: неоднородной, объекта, оптико-электронное, оптически, относительно, перемещения, поверхности, скорости
...8 и 9. Сигнал с частотой 6, поступает на Фазовый детектор 11 и на один из входов бло 45 ка 16 вычитания частот, а сигнал с частотой Г - на другой вход блока 16 вычитания частот и на один из входов блока 17 вычитания частот. На другой вход блока 17 вычитания час 50 тот поступает сигнал опорной частоты 1:, , За счет отрицательной обратгсчной связи, которая осуществляется через фазовый детектор 11 и блок 12 управления скоростью вращения модулятора на выходе фотоприемника 6 и соответственно усилителя 8, поддерживается следующее равенство частотгро (1) При перемещении изображения оптически неоднородной поверхности в направлении, совпадающем с направлением вращения растрового модулятора 3, в плоскости анализа, согласованной с...
Пресс для изготовления объективов для микроскопов и других оптических линз
Номер патента: 33654
Опубликовано: 31.12.1933
Автор: Захаров
МПК: C03B 11/08
Метки: других, линз, микроскопов, объективов, оптических, пресс
...11, 11, пропускают сжатый газ аргон или СО. После продувания, не отнимая коробки 70, зажимают матрицы до величины, отсчитанной ранее на шкале Ы Затем, пустив в ход охладители 7 и 8 с помощью бунзеновской горелки 1 б с веерным пламенем, начинают накаливать место с шариком 20. Делая легкий нажим рукой на диск 2 в процессе нагрева, можно по отсчету уловить момент сжатия размягченного Iстекла и заполнения им поверхностиобеих матриц, Не давая окончательно расплавиться стеклу, удаляют пламя горелки и, проверив правильность показания шкалы, ждут момента почти полного остывания матриц, По остывании последних снимают цилиндрик 12 с содержимым и переносят его к токарному станку, на котором при помощи резца, зажав цилиндрик в. специальный...
Способ определения оптической и электрических осей кварца
Номер патента: 59684
Опубликовано: 01.01.1941
Автор: Шубников
МПК: G01N 31/00, G02B 1/02
Метки: кварца, оптической, осей, электрических
...применить микроскопические фигуры травления для ориентировки кварца при проиэвОдстве пьезокварцевых и оптических препаратов.Недостатком всех этих способов является малая точность ориентировки вследствие явлений дифракции света при отражении и преломлении света от фигур травления.Предмет изобретения предусматри-вает способ определения оптической и , электрической осей кварца, заключаю-щийся в том, что травлению подвергаются небольшие углубления, сделан-ные на поверхности кварца сверлом той или иной формы. Световые фигуры, получаемые от таких углублений в проходящем или отраженном свете,получаются более четкими и обладают новыми свойствами - прямыми линия. ми, отображающими главнейшие кристаллографические зоны, что г 1 озволяет значительно...
Способ выращивания дрожжей и других микроорганизмов, например, при производстве антибиотиков
Номер патента: 145875
Опубликовано: 01.01.1962
Метки: антибиотиков, выращивания, дрожжей, других, микроорганизмов, например, производстве
...бактерий или натуральный, приготовляют в виде 5 - 7",о-ного водного раствора и добавляют к нему формалин из расчета 40 г формалина на 1 кг сухого вещества картофельного сока. Полученную смесь интенсивно перемешивают и выдерживают около двенадцати часов. После этого раствор осветляют в отстойных центрифугах и используют для обогащения питательной среды дрожжей. Оптимальное количество смеси, добавляемой к основному сырью, определяют путем проведения лабораторных опытных брожений. При переработке, например, свеклосахарной мелассы в процессе производства хлебопекарных дрожжей, оптимальное количество добавляемой смеси клеточного картофельного сока и формалина составляет 2 - 121% по сухому веществу клет=чного картофельного сока от веса...
Предыдущий патент: Устройство для проведения геотермических исследований в донных илах акваторий
Следующий патент: Способ изготовления уголкового отражателя
Случайный патент: Цепной траншейный экскаваторв. д. девяткина