Способ определения пористости твердых тел

, 1520 01 М 15/ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯН АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ь стосажущейс и. ГОСТ(54) СПОСОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОРИСТВЕРДЫХ ТЕЛ(57) Изобретение относится кконтроля качества твердых телизобретения - упрощение иэмер с Я тодам ий пр Изобретение относится к неразрушающим методам определения параметров твердых тел и может быть использовано в керамической, радиоэлектронной и других отраслях промышленнос и для контроля качества твердотельныхразцов, изготовленных с помощью орошковой" технологии.Целью изобретения является упрощение измерений при сохранении точности.На чертеже показана схема зависи-, мости полной пористости образцов Оп от фототермической пористости ВСпособ осуществляют следующим образок.Исследуемый образец помещают в измерительную ячейку и облучают светом, модулированным по интенсивности,об11 Я - чувствительнтеля; 1 - интенсив(21) 423 (22) 19. (4 б) 07. (72) А.И и В.Ю. Р (53) 539 (56) Грэ удельная М.: Мир,Метод 957/24-253. 871.89. Бюл. В 41Морозов, С.Н. Новикоевский217.1(088.8)С. и Синг К, Адсорбцповерхность, пористос1984 ь 294 с.определения водопоглоплотности и общей по2400-80. сохранении точности, Для этого измеряют фототермические отклики от испытуемого образца и эталонных образцов сравнения, которые изготовлены из материалов с известной пористостью, После измерения фототермических откликов от эталонных образцов ф, с известной пористостью Оп, строят калибровочную зависимость О, " Аф,+ + В, из которой находят величины А и В, Пористость испытуемого образца Онаходят иэ отношения И = Аф и +пи+ В, где фп - фототермический отклик от испытуемого образца, В диапазоне пористости О, 05В пь Д ис О, 13 пористость определяют из соотношения О,= (ф /Ф, ) С, где С = В(1 При этом возникает фототермический эффект, т.е. нестационарный и неоднородный нагрев образца, приводящий к возбуждению и распространению в нем тепловых волн. Тепловые волны можно различным образом зарегистрировать, При этом полная пористость образца В оказывается связанной с нормированньм фототермическим откликом преобразователя ф Ч 1-Кь где Ч - электрическое напряжение преобразователя; К - коэффициент оптического отражения поверхности образца, следующей общей зависимостью9 п й( ф, М, х ь Р С, м , К), (1) где М = Б 1остьпреобразова ность(2) Составитель П. Петротор Н. Лазаренко Техред Л.Олийнык орректор М. Ма Заказ 6749/44 Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 ательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина,оиэводственноЫ - круговая частота модуляции оптического изучения; д = теплопроводность; г С - тепловая масса материала образца; К - коэффициент, учитывающий конструктивные особенности измерительной ячейки.В случае малых изменений величи" ны 8 выражение (1) существенно упро- щается где величины А и В зависят от параметров М,Ж,уС, ы, К,Величины А и В можно найти, измерив калибровочные фототермические отклики от эталонных образцов Фи,с известной пористостью 6 ., и построивкалибровочную зависимость В " А Ф ++ В. Для нахождения пористости испытуемого образца 8проводят измерение его фототермического отклика Фи,а пористость определяют по формулепи= Афин + ВЭкспериментально подтверждено, чтов диапазоне пористости 0,05 4 Впи,6, 0,13, для определения пористости испытуемого образца можно воспользоваться более простым соотношением2Фпи изС, где СФпэиэП р и м е р. Для измерений выбранапартия из 21 образца, изготовленнаяиз пьезоэлектрической керамики ЦТС с типоразмером ф 10 х 1. Образцы поочередно помещают в фотоакустическую 20398 4ячейку, для каждого иэ них опре,т;л; -ют фототермический отклик Ф, а также полную пористость О, полученнуюв результате обмера и взвешивания 5образцов. Результаты измерений приведены на чертеже, Видно, что величины полной пористости образцов 6 ифототермической пористости 8 совпапдают с точностью в среднем 10-157 Формула изобретения Способ определения пористости твердых тел основанный на сравнении физических характеристик эталонных образцов и испытуемого образца, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения измерений при сохранении точности, измеряют фототермические отклики от эталонных образцов Ф, с известной пористостью В иэ, строят калибровочную зависимость В = А Ф , + В с определением величин А и В, измеряют Фототермический отклик от испытуемого образца Ф и его пористость допределяют из отношенияАФ+ В.2, Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что в диапазоне пористости 0,05 4 Ощ , Вп 4 0,13 измеряют фототермические отклики от одного эталонного образца и иснытуемого образца, пористость определяют из отношениягде СВи /1 - Вф