Устройство для испытания образцов при низких температурах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 9) 01) 1 М 3 18 ГОСУДАРСПО ИЗОБ ГЕ 71,чТ,. ОБРЕТЕНИ ПИСА АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТ-28 енега Сб. ста 1983,АЗ спыта по прочно ние то емпера тоян ры п ТВЕННЫЙ КОМИТЕТРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ СССР(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯЦОВ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ(57) Изобретение относится ктельной технике, к испытаниясть. Цель изобретениячности за счет обеспечной площади контакта и три растяжении образца,го, расширение диапазона скоростейзахолаживания и упрощение монтажапри смене образца. Образец 6 устанавливают в захваты 4 и 5, помещают вкриостат 1, охлаждают через контактвыступов 7 и буртика 8 и растягивают.Наличие постоянного теплового контакта выступов 7 и буртика 8, а также зазоров 9 обеспечивает постоянство температуры на образце. Выполнение днастакана в виде герметичной сьемнойкрышки обеспечивает удобство монтажапри смене образца, а выполнение захвата сменным " воэможность охлаждатьобразец с различными скоростями эахолаживания. 2 з.п. ф-лы, 1 ил .1516840 Изобретение относится к испытательной технике, в частности к испытаниям на прочность.Цель изобретения - повьппение точности эа счет обеспечения постоянной 5 Формула изобретения Составитель В. ЛазареваТехред Л.Олийнык Корректор М. Пожо Редактор С. Пекарь Заказ 6380/42 Тираж 789 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям н открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,10 площади контакта и температуры при растяжении образца и, кроме того, расширение диапазона скоростей эахолаживания, а также упрощение монтажа при смене образца.На чертеже представлена схема предлагаемого устройства .Устройство содержит криостат 1, размещенные в нем соосные активную 2 и пассивную 3 тяги, связанные с соответствующими тягами активный 4 и пассивный 5 захваты для образца 6. Пассивная тяга 3 выполнена в виде стакана, на внутренних стенках которого выполнены выступы 7, а на наружной поверхности пассивного захвата 5 выполнен буртик 8, размещенный меяду дном стакана и выступом, пассивный захват 5 установлен с зазором 9 относительно два и стенок стакана.Дно стакааа выполнено в виде съем" ной полой крышки 10, герметизирующего ,1 уплотнения 11 и накидной гайки 12.Образец 6, установленный в захватах 4 и 5, помещают в криостат 1, в который подаютхпадагент, Образец 6 охлаядается посредством теплопередачи через тепловой мост выступов 7 и буртика 8. После подачи усилия от нагружающего механизма (не показан) к образцу 6 прикладывается растягивающее усилие. При этом при деформации образца от приложения механической нагрузки величина площади контакта буртика 8 пассивного захвата 5 и выступа 7 пассивной тяги 3 сохраняется постоянной при любых нагрузках, а следовательно, и температура, до которой охлаядается образец, также будет постоянной.Такое постоянство обеспечивается за счет наличия гарантированного заэора между захватом и стенками н дном стакана.Выполнение дна стакана в виде герметичной съемной крьппки 10 обеспечивает удобство монтажа при смене образца.При этом пассивный захват выполнен сменнйм.Возможно выполнение захватов с различной площадью поперечного сечения и иэ материала с различной теплопроводностью, что обеспечивает воэможность охлаядать образец с различными скоростями,Устройство для испытания образцов при низких температурахсодержащее криостат, размещенные в немсоосные активную и пассивную тяги исвязанные с соответствующими тягамиактивный и пассивный захваты для об 25разца, пассивная тяга выполнена в виде стакана, дно которого расположеносо стороны связанного с ней захвата,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, сцелью повьппения точности эа счетобеспечения постоянной площади контакта и температуры при растяженииобразца, на внутренних стенках стакана выполнены выступы, на наружной поверхности пассивного захвата выполнен буртик, размещенный между дном35 стакана и выступами и предназначенныйдля взаимодействия с последними, апассивный захват установлен с зазоромотносительно дна и стенок стакана2. Устройство по и. 1, о т л и 40 ч а ю щ е е с я тем, что, с цельюрасширения диапазона скоростей захолаживания, пассивный захват выполненсменным,3Устройство по пп. 1 и 2, о т -45 л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения монтажа при смене образца, дно стакана выполнено съемным.
СмотретьЗаявка
4008462, 06.01.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4126
ДУБРОВИН ЛЕОНИД ЛЕОНИДОВИЧ, ДЕНЕГА МИХАИЛ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 3/18
Метки: испытания, низких, образцов, температурах
Опубликовано: 23.10.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1516840-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-obrazcov-pri-nizkikh-temperaturakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания образцов при низких температурах</a>
Предыдущий патент: Установка для исследования физико-механических свойств материалов
Следующий патент: Устройство для испытания эластомера на сжатие при низких температурах
Случайный патент: Машина для уборки корнеклубнеплодов