Способ определения состояния хрупкости неоднородных хрупких, например, радиокерамических материалов и ферритов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 147352
Автор: Салитра
Текст
Класс 42 Збо Юо 147352 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУПодписная групг 1 а М 172 Д, Б. Салитра СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТОЯНИЯ ХРУПКОСТИ НЕОДНОРОДНЫХ ХРУПКИХ, НАПРИМЕР,РАДИОКЕРАМИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ И ФЕРРИТОВЗаявлено 24 мая 1961 г. за Мо 731634/25 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллстенс изобретений Ге 10 за 1962 г. Известны способы определения состояния хрупкости неоднородных хрупких, например, радиокерамических материалов и ферритов с использованием прибора типа Роквелла с идентером в виде алмазного конуса.В предлагаемом способе, с целью установления зависимости шлифуемости указанных материалов от состояния их хрупкости, прибором Роквелла определяют максимальную нагрузку для испытываемого материала, при которой происходит плавное вдавливание в него алмазного конуса,При осуществлении способа о плавности вдавливания судят по движению стрелки индикатора, являющегося принадлежностью прибора.Может также определяться минимальное время, необходимое для плавного проникновения алмазного конуса в образец при определенной для данной группы испытываемых материалов нагрузке, Для осуществления этого способа прибор оснащается дополнительным устройством для торможения вдавливания конуса. Этот прибор может быть выполнен или в виде гидравлического цилиндра с регулируемым размером отверстия для перетекания жидкости, или в виде кулачкового механизма с регулируемым числом оборотов кулачка, управляющего опусканием конуса.В имеющемся заключении указывается, что применение предлагаемого способа позволит путем предварительных испытаний технически правильно отработать технологический процесс шлифовки радиокерамических материалов, что особенно ценно при внедрении в производство новых материалов.147352П р едмет и зоб р етенияСпособ определения состояния хрупкости неоднородных хрупких, например, радиокерамических материалов и ферритов с использованием прибора типа Роквелла с идентером в виде алмазного конуса, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью установления зависимости шли. фуемости указанных материалов от состояния их хрупкости, прибором Роквелла определяют максимальную нагрузку для испытываемого материала, при которой происходит плавное вдавливание в него алмазного конуса,Составитель Е, С. БредельРедактор Е, Г, Манежева Техред А. А. Камыщникова Корректор Ю, М. федуловаПодп. к печ, 25,1762 г. формат бум. 70 Х 108/1 а Объем 0,18 изд. л.Зак. 3980 Тираж 850 Цена 4 коп,ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6,Типография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14,
СмотретьЗаявка
731634, 24.05.1961
Салитра Д. Б
МПК / Метки
МПК: G01N 3/44, G01N 33/20
Метки: например, неоднородных, радиокерамических, состояния, ферритов, хрупких, хрупкости
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-147352-sposob-opredeleniya-sostoyaniya-khrupkosti-neodnorodnykh-khrupkikh-naprimer-radiokeramicheskikh-materialov-i-ferritov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения состояния хрупкости неоднородных хрупких, например, радиокерамических материалов и ферритов</a>
Способ упрочнения поверхности детали из материала, образующего защитное оксидное покрытие
Номер патента: 2001966
Опубликовано: 30.10.1993
Авторы: Алексеев, Ашурлы, Нарусбек, Ямпольский
МПК: C23C 8/10
Метки: детали, защитное, образующего, оксидное, поверхности, покрытие, упрочнения
...ее коррозии, и последующего выхода иэ строя под действием неблагоприятных климати2001966 повысить механическую прочность и антикоррозионные свойства упрочненного слоя не менее чем в 2 раза при сохранении оптических свойств.Результаты испытаний предложенного способа упрочнения поверхности представлены в таблице.Все оптические элементы из одного материала имели одинаковый высокий первоначальный коэффициент отражения на длине волны 0,63 мкм, прочность оптической поверхности оценивали с помощью 5 10 прибора СМпо количеству циклических перемещений наконечника по оптической поверхности, при котором происходит визуально наблюдаемое нарушение оптической поверхности (появление царапин-следов от наконечника), Коэффициент отражения на длине...
Агрегат для непрерывного изготовления текстильных материалов из ватного настила различных волокон, прошиваемого нитями в виде основовязальных переплетений, например, цепочки, трико, двухигольного трико и т. п.
Номер патента: 114702
Опубликовано: 01.01.1958
Авторы: Зеленская, Иоффе, Кустанович, Лещенко, Савкин, Черномордик
МПК: D01G 23/00, D04H 1/46
Метки: агрегат, ватного, виде, волокон, двухигольного, например, настила, непрерывного, нитями, основовязальных, переплетений, прошиваемого, различных, текстильных, трико, цепочки
...валиков 36 и приводного товарного валика 37. Тамбурные иглы 31 снабжены закрывающими их подвижными шиберами 38 с пятками 39, взаимодействующими с приводной пазовой планкой 40.Привод игольницы 30 тамбурных игл состоит цз двух вращающихся эксцентриковых валов 41, приводящих в дижение игольницу посредством шатунов 42 и коромысел 43, соединенных со штоками 44 игольницы.Привод для перемещения игольниц 32 ушковых игл в поперечном направлении к настилу (на чертеже не изображен) осуществляется посредством обычных рисунчатых дисков, раоочцй профиль которых выполнен по закону синусоида для уменьшения возникающих динамических нагрузок,В целях сокращения габаритов агрегата, навои 34 для нитей 35 основ или заменяющие их шпулярники 34 а со...
Способ количественного исследования оптических неоднородностей при помощи теневого прибора
Номер патента: 122310
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Васильев
МПК: G02B 27/46
Метки: исследования, количественного, неоднородностей, оптических, помощи, прибора, теневого
...для осуществления указанного способа.В теневой прис 01) устанавливают ц 11 цекстс)Ом расстоя 111 ц От О- кальной плоскости 1 диафрагму 2 с ряда.;1 и точс 1 ных отверстий, образуя)1 цих в фокальцсй плоскости ряды дифракццсццых картин. 1 с.;:): е. цие этих картин изменяется при нал:1 чци неоднородностей а исследсмо. среде. По велич)ше и направлению смещен:1 я дифракцисццьх картин, проектируемых на экран 3 при помощи точечного источникаможно судить о направлении и величине влияния неоднородности и о месте ее нахождения. Параметры решетки и размер источника 4 выо:1- ра 1 отся в зависимости От измеряемого Ооъекта. При измесециях ца а- родинамических трубах берутся решетки с периодом 0,1 - 2 л 1 л и цсточ ник размером 0,02 - 0,4 л 1 л 1,...
Устройство для закатки в шарики свежесформованных цилиндрического или другого вида сырых гранул, например, катализатора
Номер патента: 148029
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Лаврентьев
МПК: B01J 2/00
Метки: вида, гранул, другого, закатки, катализатора, например, свежесформованных, сырых, цилиндрического, шарики
...воздух подхватывает цх и уцосбе 3 (резиновому шлангу), свернутой в восьмерку в несколЧерез открытый конец 4 трубы 3 полузакатанцая табледает в следуо 1 ци 11 инжектор 5, откуда таблетка поступаетсскц 111 о и окопфател 1 ъцо заката 11 пая пиносится в приемник бкрыт 11 конец трубы 7.Длина трубы в каждой секц 111 берется такой, чтивлеция движению гранул в цей была меньше, чесоздаваемый в инжекторах. Практически длина трции составляет около 5 м,Число секций прицимаелиндров. Скорость воздухапреодоления сопротивления рмпрованются в пн1 т по тру.ько шагов.тка попаво вторуюце 1 гез оттоб 11 сцл; совр и напор воа уб в каждой се симости от степени закаткц ци подбирается из расчета только тся в зави в трубахв трубах. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЗАКАТКИ В ШАРИКИ...
Устройство для электромагнитного каротажа
Номер патента: 998995
Опубликовано: 23.02.1983
МПК: E21B 47/00, E21B 47/12, G01V 3/18
Метки: каротажа, электромагнитного
...протекающих в катушках и представляющих собой балансно-моду" лированные колебания, изображены на Фиг.4. Каждый из токов будет созда- вать пульсирующее с частотой Я высо-кочастотное электромагнитное поле, вектор напряженности магнитной компоненты которого направлен вдоль оси своей катушки. Результирующий вектор напряженности такой системы катушек будет вращаться с частотой, равной .частоте й. изменения огибающей баланс- но-модулированного колебания, вокруг линии пересечения этих катушек в плоскости перпендикулярной этой линии, причем амплитуда напряженности результирующего поля остается неизменной по величине. В области расположения приемных катушек 3 и 17, Й и 18 будет создано электромагнитное поле, вектор горизонтальной составляющей...