Способ определения плотности заряда в диэлектриках

Номер патента: 1471152

Автор: Алейников

ZIP архив

Текст

ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЛЬСТ СКО КА да диэлектрика,разца и зности о ени по о ояннойах ко л т о с ер нденсатора, ре конденсат ендикулярном а, в новом и на обклад образец в правлении кам коНце образца, денсаторе значения а в обк ионпер лож сато н егулируя напряже добиваются перво ка, измеряют нап ого нача яжениеконечплотнос ют по аль ным расстояни разца, а е вычисл иям по заряда в диэлекформуле ГОСУДАРСТВЕННЪЙ КОМ ИТЕПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЪТПРИ ГКНТ СССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА В ДИЭЛЕКТРИКАХ(57) Изобретение относится к электроизмерениям и предназначено для определения величины заряда . диэлектрических образцов, Изобретение позволяИзобретение относится к электроизмерениям и предназначено для определения величины заряда диэлектрических образцов.Цель изобретения - повышение точности определения плотности заряда в плоских диэлектриках.Поставленная цель достигается тем, что в известном вибрационном компен-. сационном способе измерения плотности заряда в диэлектрике, включающем помещение исследуемого плоского диэлектрического образца в зазор конденсатора с вибрирующим электродом, подключение к конденсатору, регулирование и измерение внешнего постоянного напряжения, измерение тока виб-, рационного конденсатора, измеряютток вибрационного конденсатора в исет повысить точность измерения заряда в плоских диэлектриках в результате снижения величины постоянного напряжения на обкладках вибрационного измерительного конденсатора. Исследуемый образец помещают в зазор конденсатора с вибрирующим электродом, измеряют ток в цепи конденсатора, изменяют положение образца в перпендикулярном обкладкам конденсатора направлении, приложением постоянной разности потенциалов к обкладкам конденсатора добиваются первоначального значения тока в цепи конденсатора и по величине приложенного постоянного напряжения и по величине переме- с щения образца судят а величине заря 1 =8,85 10 Ф/м - электрическаяпостоянная;напряжение, н обхоцимое дляЗаказ 1605/48 Тираж 711 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 значения тока;1 - расстояние меж 5ду начальным и конечным поло.жениями образца,Определение плотности заряда диэлектрика осуществляется следующим . образом.В зазор плоского конденсатора параллельно его обкладкам помещают исследуемый плоский .диэлектрик. Один иэ электродов заставляют вибрировать. Возникающий в цепи конденсатора пульсирующий ток измеряют, например, при помощи осциллографа. Изменяют положение диэлектрика в зазоре конденсатора. Подавая и регулируя внешнее на.-. пряжение,добиваются первоначального значения амплитуды тока. Измеряют расстояние 1 между начальным и конечным положениями. образца, а также 25 напряжение О, которое потребовалось для восстановления амплитуды тока до исходного значения. Величину плотности заряда определяют по формулеЬ=г, - .ЗООтсутствие необходимости в компенсации тока путем подачи высокого постоянного напряжения в начальном по- ложении.образца обеспечивает проведение измерений при относительно низком35 постоянном напряжении, что уменьшает вероятность перераспределения заряда диэлектрика и сохраняет его величину Формула изобретенияСпособ .определения плотности заряда в диэлектриках, заключающийся в том, что размещают плоский диэлектрический образец в зазоре конденсатора с вибрирующим электродом, измеряют ток конденсатора, подают на конденсатор и изменяют постоянное напряжение, измеряют величины постоянного напряжения до и после изменения взаимного расположения электродов конденсатора и образца, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, перед измерением тока подают на конденсатор нулевую разность потенциалов, перемещают образец в зазоре конденсатора перпендикулярно электродам, изменяют постоянное напряжение на конденсаторе до достижения первоначального значения тока, а пЛотность заряда в диэлектрике 6 вычисляют по формулеЬ =огде Е=8,851 О Ф/м - электрическая по"стоянная;11 - напряжение, необходимое для достижения первоначальногозначения тока;1 - расстояние между .начальным и конечным положениями об

Смотреть

Заявка

4302559, 01.07.1987

ВОРОНЕЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. ЛЕНИНСКОГО КОМСОМОЛА

АЛЕЙНИКОВ НИКОЛАЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 29/12

Метки: диэлектриках, заряда, плотности

Опубликовано: 07.04.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1471152-sposob-opredeleniya-plotnosti-zaryada-v-diehlektrikakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения плотности заряда в диэлектриках</a>

Похожие патенты