Способ исследования изменений при фазовых превращениях структурных характеристик компонентов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
,801434339 4 С 01 Н 25(02 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ гра о СССР 1973. ласти ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт проблем литья АН УССР(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ИЗМЕНЕНИЙПРИ ФАЗОВЫХ ПРЕВРАЩЕНИЯХ СТРУКТУРНЫХХАРАКТЕРИСТИК. КОМПОНЕНТОВ(57) Изобретение относится.к об физико-химического анализа, а именно к способу исследования изменений при фазовых превращениях структурных характеристик компонентов в композициях из огнеупорного зернистого наполнителя и связующего. Цель изобретения повышение точности и уменьшение трудоемкости определения структурных характеристик. Предварительно определяют изменение при нагреве теплопроводности контрольного образца, По точкам перегибов на графике температурной зависимости теплопроводности устанавливают количество исследуемых образцов, Образцы нагревают до температур точек перегибов и изготавливают с шанфы.1434339 в порядке увеличения Температуры нагрева,Формула изобретения Составитель С,Б еловодченкоРедактор М,Петрова ТехредА.Кравчук Корректор О, Кравцова Заказ 5549/46 Тираж 847 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж"35, Раушская наб д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к областифизико-химического анализа,Цель изобретения - повышение точности и уменьшение трудоемкости оп 5ределения структурных характеристик,Способ осуществляют следующим образом,Отвержденный образец из смеси огнеупорного зернистого наполнителя исвязующего подвергают нагреву и определяют зависимость изменения теплороводности от температуры, По графику температурной зависимости тепло,проводности определяют температуры15точек перегибов, по количеству которых устанавливают число исследуемыхобразцов и условия проведения последующих исследований. Последовательнопроводят нагрев образцов до температур точек перегибов, после чего изго,тавливают шлифы,Исследование изменения структурныххарактеристик компонентов в композициях проводят по шлифам, полученным 25 Способ исследования изменений при фазовых превращениях структурных характеристик компонентов в композициях из огнеупорного зернистого наполнителя и связующего, заключающийся в нагреве образцов после их отверждения и изготовлении шлифов, о т л и - ч а ю щ Й й с я тем, что, с целью повышения точности и уменьшения трудоемкости определения структурных характеристик, предварительна определяют изменение при нагреве теплопроводности контрольного образца, по точкам перегибов на графике температурной зависимости теплопроводности устанавли - вают количество исследуемых образцов а нагрев образцов осуществляют до температур, соответствующих точкам перегибов,
СмотретьЗаявка
4156496, 29.10.1986
ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ ЛИТЬЯ АН УССР
ГОРЕНКО ВАДИМ ГЕОРГИЕВИЧ, ЧЕРНЕНКО НАДЕЖДА ГЕОРГИЕВНА, СИНЧУГОВ АЛЕКСАНДР ЮРЬЕВИЧ, СОРОКИНА НИНА ГРИГОРЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 25/02
Метки: изменений, исследования, компонентов, превращениях, структурных, фазовых, характеристик
Опубликовано: 30.10.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1434339-sposob-issledovaniya-izmenenijj-pri-fazovykh-prevrashheniyakh-strukturnykh-kharakteristik-komponentov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования изменений при фазовых превращениях структурных характеристик компонентов</a>
Устройство для измерения магнитных характеристик замкнутых образцов
Номер патента: 1275339
Опубликовано: 07.12.1986
Авторы: Авраменко, Багмет, Бердичевский, Перельман, Себко, Финкельштейн, Харлан
МПК: G01R 33/12
Метки: замкнутых, магнитных, образцов, характеристик
...измерений на каркаснамагничивающей катушки 3 надеваютцентрирующее приспособление 6 и накладывают его на магнитопровод 1,Затем перемещают измерительную катушку 5 вдоль магнитопровода 1 ивводят ее в паз центрирующего приспособления 6, На приспособление 6надевают испытуемый образец 2 и накладывают его на магнитопровод, после чего перемещают прижимные приспособления 7 вдоль магнитопровода 1где С - постоянная веберметра;сС - отброс указателя веберметра;М - число витков одной иэ изме 40рительных катушек 4. или 5;Я - площадь поперечного сече"ния испытуемого образца.Напряженность магнитного поляв образце определяют из выражениягде 1 - величина намагничивающеготока,Ин - число витков намагничиваюшей обмотки",У - средняя длина образца.При...
Способ измерения структурной характеристики показателя преломления атмосферы
Номер патента: 1326961
Опубликовано: 30.07.1987
МПК: G01N 21/41
Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики
...и предварительного оборудования измерительной трассы специальными отражателями.На чертеже представлена схема взаимного расположения источника излучения, рассеивателя и приемников рассеянного излучения.Устроиство, с помощью которого осуществляют предлагаемый способ, содержит источник 1 расходящегося све тового пучка 2, зондирующего исследуемый слой 3 атмосферы, диффузный отражатель 4. При наличии неоднородностей в слое 3 возникает область пространства 5, в которой наблюдает- зо ся усиление интенсивности рассеянного излучения, область пространства 6, в которой наблюдается ослабление средней интенсивности рассеянного излучения, в область 7, в когорой средняя интенсивность рассеянного из - лучения не зависит от наличия неод -...
Устройство для определения магнитных характеристик замкнутых образцов
Номер патента: 1670638
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Авраменко, Себко, Сиренко
МПК: G01R 33/12
Метки: замкнутых, магнитных, образцов, характеристик
...как на постоянном, так и на переменном токе. При протекании токав намагничивающей катушке 2 устройства в магнитопроводе 1 создается магнитный поток Ф (фиг.З), разветвляющийся на рабочие потоки Ф, в двух половинах замкнутого образца 20 и ПОТОКИ РаССЕЯНИЯ Фрас 1, Фрас 2,ФрасЗ . ПО- ток Фрас 1 замыкается через торцы магнитопровода 1, пронизывая обе пары измерительных катушек 3 - б. Поток рассея- ниЯ Фрас 2 пРонизывает только паРУ измеРительных катушек 3, 4, а Фрасз - только пару КатУШЕК 5,6, ПРИЧЕМ ПОТОКИ Фрас 2 И ФрасЗ НЕ равны между собой из-за асимметрии образца 20. Неравенство этих потоков приводит к необходимости введения дополнительной пары измерительных катушек (5 и 6). Каждую пару измерительных катушек пронизывает...
Устройство для измерения характеристик сверхпроводящих образцов
Номер патента: 1675789
Опубликовано: 07.09.1991
Автор: Фенстер
МПК: G01R 19/00, G01R 33/035
Метки: образцов, сверхпроводящих, характеристик
...счетного триггера 50 через элемент И 55 и элемент ИЛИ 58 поступают на счетный вход реверсивного счетчика 61 с частотой, вдвое меньшей, чем частота тактовых импульсов. Момент, когда счетчик 61 переходит в нуль, считают моментом определения критического тока, 3 этот момент из сигнала переноса счетчика 61 формирователем 64 формируется импульс, который пройдя элемент И 62 (необходимый для блокировки возможного переноса в режиме сложения), подается в качестве строба занесения кода счетчика формирователя 1 постоянного тока в регистр 17 (фиг. 4 о), Код из регистра 17 через мультиплексор 12 подается для записи в ОЗУ 15. Этим же сигналом триггер 52 устанавливается в "1" (фиг. 4 к) и разрешает прохождение заданного количества тактовых импульсов на...
Устройство для измерения структурной характеристики показателя преломления атмосферы
Номер патента: 666498
Опубликовано: 05.06.1979
МПК: G01W 1/00
Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики
...системы вращающимся диском, в котором по окружностис центром на оси вращения равномернорасположены диафрагмы и чередующиесяс ними окна с нейтральными светофильтрами.На чертеже представлена блок-схемапредложенного устройства.Оно состоит из источника излучения1, модулятора 2, коллиматора 3, прием 10 ной фокусирующей системы 4, интерференционного фильтра 5, диафрагмы 6 иокна 7 во вращающемся диске 8, фотоприемного устройства 9, регистрирующего устройства 10 и нейтрального Филь 15 тра 11,Устройство работает следующим образом.Поток, собираемый приемной системой а, проходит через диафрагму 6,20 либо окно 7 полного потока во вращающемся диске 8, затем - через фильтр5 и попадает на фотоприемное устройство 10, где он подвергается дальнейшей...
Предыдущий патент: Способ определения параметров структуры твердого магнитоанизотропного вещества
Следующий патент: Способ определения концентрации паров над малыми частицами
Случайный патент: Процессор