Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1427167
Авторы: Моисеев, Померанцева
Текст
)4 СО ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ЕНИЯ ПИСАНИЕ ИЗ К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 28 ам к спос(54) МАЦИИ ГРАД ЗОБАЛ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРУИРОВОЧНОЙ КОНСОЛЬНОЙ ТЕН ГО СЕЧЕНИЯ(57) Изобретение относитсяградуировки тенэорезисторовизобретения - повышение точмерения деформаций консольной тебалки равного сечения в зоне,наклки тензорезистора. Для этого днагружают тенэобалкудо полученодного и того же прогиба Г сначалв конечной точке д, а потом в друфиксированной точке с, регистрирукаждый раз изменения в показанияхтензореэистора. 1 ил.Заказ 4841/35 Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва Ж, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике, в частности к спос.обам градуировки тензореэисторов.Цель изобретения - повыщение точности измерения деформаций консольной тензобалки равного сечения в зоне наклейки градуируемого тензорезистора.На чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа, 1 ОНа чертеже обозначено: 1 - градуировочная консольная тензобалка равного сечения; 2 - градуируемый тензореэистор; Р - воздействующая нагрузка;1 и Ь - длина и толщина тензобалки; Г " прогиб тензобалки в точке Й при нагружении 1 и в точке с при наГружении 11; а-координата фиксированной точки с.Способ осуществляют следующим образом.Измеряют длину 1 и толщину Ь не- нагруженной балки с наклеенным тенэореэистором 2, Затем балку 1 дважды нагружают: первый раз - до получе ния прогиба Г, которыи измеряют, в точке д, а второй раз - до получения такого же прогиба Г в фиксированной точке с, отстоящей от конечной точки Й на расстоянии а. При первом и втором нагружениях фиксируют соответственно изменения сопротивления градуируемого тензорезистора ЬН, и ЬК.Градуировочную деформацию Е, балки в зоне наклейки тензорезистора при первом нагружении определяют по фор- муле Точность определения Е, повышается примерно в 2 раза благодаря исключению из, расчетной формулы значения координаты х места наклейки тензорезистора, которая при изгибе балки изменяется и не может быть надежно Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения, заключающийся в том, что измеряют длину и толщину балки, иэгибают балку нагружением ее свободного конца и измеряют ее максималь ный прогиб в конечной точке, а по результатам выполненных измерений опре" деляют деформацию балки в месте наклейки градуируемого тенэорезистора, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, дополнительно нагружают балку до получения измеренного прогиба в точке, отстоящей от конечной на фиксированную величину, и в каждомслучае нагружения измеряют изменение сопротивления тензорезистора.
СмотретьЗаявка
4130543, 07.07.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2942
МОИСЕЕВ ЛЕОНИД ФЕДОРОВИЧ, ПОМЕРАНЦЕВА ИРИНА ИННОКЕНТЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: градуировочной, деформации, консольной, равного, сечения, тензобалки
Опубликовано: 30.09.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1427167-sposob-opredeleniya-deformacii-graduirovochnojj-konsolnojj-tenzobalki-ravnogo-secheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения</a>
Предыдущий патент: Тензометрическое устройство
Следующий патент: Интерферометр
Случайный патент: Многодорожечный блок магнитныхголовок