Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 138797
Автор: Чунин
Текст
Класс 49 Ь, 26 озСССР ПИЕЛНИЕ ИЗОЬР СТЕНИК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Лодпасная группа21Чун СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛ ПОЛИРОВАННЫХ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕВРАЩЕНИЯ Заявлено 22 мая 1959 г за628790/25 в Комитет по делам изобретений иоткрытий при Совете Министров СССРпубликовано в сБюллетене изобретений11 за 1961 г.Известны способы бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения по автоколлимационному или обычному отражению от них светового луча, однако с помощью таких способов невозможен контроль поверхностей с большим относительным отверстием.В описываемом способе для обеспечения контроля поверхностей с большим относительным отверстием проектирующий объектив поворачивают относительно его фокальной точки.На чертеже изображена схема устройства, предназначенного для осуществления способа.Способ бесконтрольного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения состоит в том, что луч света от источника 1 через конденсор 2 и щель 3 попадает на зеркало 4, отразившись от которого, он проходит через объективы 5 и б и, вторично отразившись от зеркала 7, дает в фокальной точке 8 полированной выпуклой поверхности 9, например гиперболоидной, изображение щели 3. Отраженное от поверхности изображение щели будет находиться в точке 10. При наличии на поверхности какого-либо дефекта отраженное изображение щели не попадет в точку 10, а окажется смещенным. Оценивая это сме 1 цение по шкале 11 при помощи окуляра 12, определяют величину дефекта. Зеркало 7 сделано полупрозрачным для того, чтобы исключить виньетирование отраженного пучка лучей.При контролировании поверхностей с большим относительным отверстием проектируюшую оптическую систему поворачивают относительно фокальной точки 8, при этом поверхность, шкалу и окуляр оставляют неподвижными. В этом случае оценку поверхности получают суммированием результатов измерения отдельных ее участков. Возможно примене138797 Пр едм ет из о бр етен и я Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения по автоколлимационному или обычному отражению от них светового луча, отличающийся тем, что, с целью обеспечения контроля поверхностей с большим относительным отверстием, проектирующий объектив поворачивают относительно его фокальной точки,Редактор А. И. Дышельман Текред А. Л. Сосина Корректор С, Ю. Цверина 11 одп. к пен. 17 Л" 11-6Лак. 6809 Формат бум. 70 К 108/ы Тираж 1360 ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М. Черкасский пер., д, 2/6.Объем 0,18 изд. л. Цена 4 коп. Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 4.ние нескольких проектирующих Оптических систем, при вращении кОтО- рых ведут одновременное или последовательное измерение нескольких параллельных сечений поверхности.При измерении вогнутых полированных асферических поверхностен источник света или щель помещают непосредственно в фокальную точку поверхности, которая в данном случае будет действительной, а не мнимой, и вместо автоколлимгционного отражения светового луча используют его действительное отражение,Описываемый способ позволяет повысить производительность труда при контроле, создать предпосылки для его автоматизации и получать Очень высокую точность измерений, достигающую 0,5 - 1,0 мк.
СмотретьЗаявка
628790, 22.05.1959
Чунин Б. А
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24
Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-138797-sposob-beskontaktnogo-izmereniya-profilya-polirovannykh-asfericheskikh-poverkhnostejj-vrashheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения</a>
Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения
Номер патента: 1348640
Опубликовано: 30.10.1987
Автор: Чунин
МПК: G01B 11/24
Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля
...Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения.Цель изобретения - измерение профиля поверхностей большой крутизны (50-60 , до 90), обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида.На чертеже изображена принципиальная схема реализации способа.Луч света от источника 1 проекционной системой (не показана) с объективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемой поверхности 3 ее первую фокальную точку 4. Отраженный от поверхности луч создает в ее второй фокальной точке 5 мнимое изображение, которое положительной линзой 6 переносится...
Устройство для шлифования и полирования асферической поверхности оптической детали
Номер патента: 151580
Опубликовано: 01.01.1962
МПК: B24B 13/02
Метки: асферической, детали, оптической, поверхности, полирования, шлифования
...абатываемой поверхпост аптной ей поверхностью на, отдача ющееся тем, чт ения образования волн аемой внутренней (вогну оверхности, на неподвин оис чес Кнусу 3.пленных на к , на одну из ная провол сти) или ка поверхности танавливаетс подоб онусе, котоока 7 проно). Обя на дист абло вращ тыв ой п Устроиства для шлифования и полирования асферической поверхности оптической детали путем подачи абразивного вещества в зазор между обрабатываемой поверхностью детали и эквидистантной ей поверхностью неподвижного шаблона известны.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что па неподвижный шаблон, введенный в полость детали, натянута калиброванная проволока или капроновая нить. В процессе обработки проволока или нить совершает...
Устройство для обработки асферических поверхностей
Номер патента: 589107
Опубликовано: 25.01.1978
Автор: Агашин
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, поверхностей
...выбор параметров настройки станка позволяет на ограниченном размерами детали участке, заменить заданную кривую профиля изделия эквидистантой к циклоидальным кривым с требуемой степенью точности.На фиг. 4 - 7 представлен вариант исполнения станка с поступательным движением стола инструмента.Станок имеет шпиндель 20 заготовки и привод 21 к нему, которые расположены на поворотном столе 22 и могут иметь установочное перемещение. Поворотный стол установлен в станине 23, например на подшипниках 24, 25. Установочное перемещение шпинделя 20 на заданную величину радиуса заготовки и ее толщину осуществляется с помощью салазок 26, установленных на плоскости стола 22. Стол 27 станка перемещается в направляющих 28 станины 23. На столе...
Устройство для обработки асферических поверхностей
Номер патента: 595073
Опубликовано: 28.02.1978
Авторы: Агашин, Балай, Горелик, Леушина, Наумов, Юдкович
МПК: B23B 5/40
Метки: асферических, поверхностей
...корпуса 1 шпиндельной бабки, величина осевого перемещения шпинделя 4, угол разворота инструментального приспособления 15 относительно планшайбы 14, величина эксцентриситета инструмента 16, величина и направление смещения шпинделя 20 изделия 19 относительно оси шпинделя 4.Производится пробная обработка детали, после чего профиль ее тщательно контролируется. По величине фактических отклонений профиля детали составляют программу, например в виде копира, для корректирующего устройства 18 и вводят ее в это устройство. Программа, с одной стороны, компенсирует погрешность подреза профиля, а с другой - обеспечивает получение поверхностей высших порядков, Цилиндр 17 поворота шпинделя 4 согласует подачу сигнала от корректирующего устройства...
Устройство для копирной обработки асферических поверхностей
Номер патента: 986737
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Кузнецов, Мельников, Русинов, Чебакова, Чунин
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, копирной, поверхностей
...типом копирного механизма.Рассмотрим, например, Формообразование глубокой асферической поверхности высшего порядка, симметричной относительно оси вращения ОХ и заданной следующим уравнением в меридиональном сечении У = 0 (вводим ортогональную систему координат х, у, г, начало которой - точка О - находится в вершине асферической поверхности): 21 /у игде Р(ХЬЕ:ах - полином и-ного по 5=1 рядка. Координатная ось ОХ совпадает с осью вращения (осью симметрии) детали 4 с асферической поверхностью 5 формообразуемой в процессе обработки. , Ось б цилиндрического шарнира 7, посредством которого осуществляется разворот рычага 8 в плоскости, параллельной плоскости УОХ, расположена между осью 9 цилиндрического шарнира 10, осуществляющего разворот...