Способ определения показателей преломления и дисперсий исследуемых тел
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
. ОПИСАНИЕ К АВТОРСКОМ СВИДЕТЕЛЬСТВ Чодписнпя группа Л 170. Брумберг и С. А. Ге горин СПОСОЕ 01 РЕДсЛЕНИЯ 1101(АЗА) ЕЛЕИ ИРЕЛОМЛЕН И ДИС 11 ЕРГИИ ИССЛЕДУЕМЫХ ТЕЛми)иистерство воорукеи влено 22 )ая 1951 ), за Я 059235788)1,2 иубликоваио в Б)оллетеие изобретений М 8 за 1961 г Известные спосооы определен:я показателей преломления н дисперсии нссле;уемых тел не обеспечивают исследования мелких кристал.юв и предметов с кривыми поверхностмн,Способ согласно изобретеншо лишен этого недостатка. Сущность изобретения закгночается в том, что определение показателей преломления дисперсии Осм 1 цествляется с помоць 0 Окмлярного микрометра и- тем измерения зон полного внутреннего отражения в коноскошгческой проекции, которая производится объективом микроскопа с предельной ашаратурой и линзой Ьертрана.Яикрорефрактометр для осуществления этого способа выполнен в виде обычного поляризационного микроскопа но типу Пульфриха, н тубус которого устанавливают иммерсионный объектив с фронтальной линзой из стекла с высоким показателем преломления.На чертеже показана схема осуществления способа при помощи такого мпкрорефрактометра в отраксном свете и в проходящем свете.Мекдм Ооъективом 1 и тбмсо 1 икроскопа вводтс 11 Опак-иломипатор с пластинкой Бека 2, через который производится освещение изу чаемого препарата 1 кристаллика) 3, находящегося в иммерсни 4, .Чикроскоп фокусируется на верхнюю грань кристаллика, после чего включается линза Ьертрана 5 и рассматривается выходной зрачок объектива микроскопа. Измеряя окулярным микрометром 6 диаметр темного кружка на етом фоне В зрачке ОоъектиВа, онределяот показатель прелом ления кристаллика (в этих условиях,.иаметры те.,:ньх кружков прямо 1 ропорциональны показателям преломления исследуемых объектов).В том случае, когда грань испытуемого объектива, от которой наблюдается отражение, не параллельна наружной поверхности фронтальнои линзы объектива, темный кружок в зрачке объектива сместится в сторону. В этом случае его возвращают в центральное положение, наклоняя препарат на соответствующий угол.Производя измерения при двух взаимно. перпендикулярных почоже.М: 137692 Предмет изобретения Способ определения показателей нреломлеия и дисперсии исследуемых тел с примененсм микрорсфрактометра типа Пульфрика, о - л и ч а юци йс я тем, чго, с целью Осцествления возможности исследоваИя мелких кристаллов и тел с кривымн поверхностямн, определение показатели преломлений и дисперсии производят путем измереш 1 я с)1;) ГярНЫМ МИКрОМЕтрОМ ЗОН ПОЛНОГО ВНутрЕННЕГО ОтражЕНИя В КОНО- скопической проекции, даваемой обьективом микроскопа с предельноиертурой и линзой Бертрана. Зслотарев Схред А. Й, 1 скер Корректор А, Горшунова п)кт)р 61 г. Формат бум. ОХ 108/)1 пр)и 700тете по делам изобретенийСовете .) ппистров ССС 1ентр, М, Черкасский пер 17 ел и и Цена Зкоп,дп, к пе ъе ак 1152 1 И)И п 1)и Ко) пр Мп)ск "а ц,и,(а)ская тпгография Отдела падательств и полиграфиеской иромыпленнос Дгдиппрского областного Управления культуры,ниях поляризатора, при соотвегству;Оней ориентировке кристалла, можно определить все показатели преломления анизотронных кристаллов.Производя измерения в монохроматическо)т свете разных дли волн, Определяот дисперсию кристалга,Аналогичным Ооразом поступают 11 ри изерениях в проходяпем свете, но в этом случае опак-илгиоминатор отсутствует, а под 1 репараом помешают высокоапертурный конденсатор с фронталыой линзой пз с 1 екла с высоким показателем преломления; при этом измеряют .и 1. метр светлого крукка в центре поля на темном фоне.Предметное стеклотакже должно иметь высокий показатель ирс . омленпя.
СмотретьЗаявка
576871, 22.05.1951
Брумберг Е. М, Гершгорин С. А
МПК / Метки
МПК: G01N 21/43, G02B 21/02
Метки: дисперсий, исследуемых, показателей, преломления, тел
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-137692-sposob-opredeleniya-pokazatelejj-prelomleniya-i-dispersijj-issleduemykh-tel.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения показателей преломления и дисперсий исследуемых тел</a>
Предыдущий патент: Микропрофилометр
Следующий патент: Преобразователь механического усилия в давление сжатого воздуха
Случайный патент: Состав для борьбы с паршой и щитовкой плодовых культур