Индикатор распределения плотности энергии электромагнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 19) (11 504 С 01 К 29 тд ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЕТЕЛЬ К АВТОРСКОМУ С(5) Изтехнике ИКАТОР РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО бретение относится к Цель изобретения - у ЛОТНОСОЛЯ ад нь шире- а. Ин ра и рас диапазон ние габ ние его итов индикинамическо икатор одержит диэл одложку 1, ктрическуюгистрирующую нов ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ:1978, Ф 4, вып. среду, выполненную в виде слоя халькогенидного стеклообразного полупроводника (ПП) 2 .и слоя нихромового проводника (П) 3. В слое П 3 происходит преобразование плотности. энергии электромагнитного поля в плотность тепловой энергии. Возникший в слое П 3 тепловой рельеф фиксируется слоем ПП 2, что проявляется в изменении его оптической плотности. Количественное измерение распределения плотности энергии электромагнитного поля производят сканированием оптического изображения электромагнитного поля, зафиксированного регистрирующей средой, с использованием микроден- д.Я ситометра.Цель достигается за счет выполнения регистрирующей среды, позволившей исключить из индикатора систему термостатирования. 1 ил .1363090 2нитного поля производят сканированием оптического изображения электромагнитного поля, зафиксированного5регистратором распределения плотности электромагнитного поля, с использованием микроденситометра,Использование предлагаемого регистратора позволяет исключить систему10 термостатирования, что позволяетуменьшить габариты. Кроме того, повышаются показатели качества: динамический диапазон увеличивается, с7 до 11 дБ; разрешающая способность1 Г увеличивается с 3 до 8-10 лин/мм. Формула изобретения 20 30 Составитель Л.ЛысовТехред И,Дидык Корректор И.Демчик Редактор Н.Швыдкая Тираж 730 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Заказ 6400/35 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к радиотехнике, а именно к устройствамрегистрации электромагнитных полей.Целью изобретения является уменьшение габаритов, а также расширение динамического диапазона.На чертеже изображен индикатор распределения плотности энергии электромагнитного поля.Индикатор содержит диэлектрическую (лавсановую) подложку 1 толщиной 50 мкм, регистрирующую среду, выполненную в виде халькогенидного стеклообразного полупроводника 2 системы Ав-Зе"Те толщиной 1,7 мкм и слоя проводника (нихрома) 3 толщиной 0,06 мкм.Индикатор распределения плотности электромагнитного, поля работает следующим образом.В процессе регистрации распределения плотности энергии электромаг" нитного поля в слое нихрома 3 происходит преобразование плотности энергии электромагнитного поля в плотность тепловой энергии. Возникший в слое нихрома 3 тепловой рельеф фиксируется слоем халькогенидного стеклообразного полупроводника 2, что проявляется в изменении его оптической плотности. Количественное измерение распределения плотности энергии электромаг Индикатор распределения плотности энергии электромагнитного поля, со; держащий диэлектрическую подложку, на которую нанесена регистрирующая среда, отличающийся ,тем, что, с целью уменьшения габари-тов и расширения динамического диапазона, регистрирующая среда выполнена в .виде слоя из халькогенидного стеклообразного полупроводника толщиной 0,1-10 мкм, на который нанесен слой проводника, удельная теплопроводность которого не превышает 10 Вт/градм, а толщина не превышает значения 0,1 Ъ, где Ъ - минимальная возможная длина волны регистрируемого электромагнитного поля.
СмотретьЗаявка
4107280, 26.05.1986
МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
НОВИКОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, УСАЧОВ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 29/08
Метки: индикатор, плотности, поля, распределения, электромагнитного, энергии
Опубликовано: 30.12.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1363090-indikator-raspredeleniya-plotnosti-ehnergii-ehlektromagnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Индикатор распределения плотности энергии электромагнитного поля</a>
Способ измерения толщины слоев
Номер патента: 1495641
Опубликовано: 23.07.1989
Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский
МПК: G01B 7/06
...числа операций и отказа от регистрации аналогового тока к контуре.На чертеже представлен трехслойный объект.Между слоями 1 - 3 с соответствующими толщинами Т 1 - ТЗ и на поверхности объекта расположены линейные проводни. ки 4 - 7, а на поверхности установлен преобразователь 8 поля. Кроме того, приведены источники 9 и 10 тока.Способ реализуют следующим образом.Образуют пару электрических контуров путем объединения линейных проводников 4, 5 и 6, 7. В каждый из полученных контуров включают источники 9 и 10 тока с напряжением Е 1 и Е 2 соответственно. Затем регистрируют величину Н 1 напряженности поля в месте расположения преобразователя 8 поля. После чего изменяют ток в одном из контуров и регистрируют величину поля Н 2.Решая систему...
Способ измерения толщины слоев полупроводниковых материалов
Номер патента: 446743
Опубликовано: 15.10.1974
МПК: G01B 11/06
Метки: полупроводниковых, слоев, толщины
...таким образом, чтобы поверхности его слоев былй параллельны направ 1 о лению потока, и по выявленной границе раздела между слоями определяют их толщину.Описываемый способ прост взксплуатации и не требует химичвстб КОй ПОдГОтОВКИ ОбраэцОВ.Принципиальная схема измеренияпо предложенному способу показана на чертеже.Свет от источника 1 проходит 20 через конденсор 2, поляризатор 3,образец 4, анализатор 5, фокусирующую систему б и попадает на регистрирующее устройство 7.ИсследуемыИ образец 4 помещают 25 между скрещенными поляризатором 32 2 б 7 Составитель А, С Э ЛИ НРедактор С,ХОЙфИЦ Текред Н .СОНИНЭ Заказ 4 З Изд. И )Я Тираж Щ) Подписиое ЦНИИПИ Государствеияого комвтета Совета Мииистров СССР по делам изобретений и открытий Москва, 113...
Способ измерения толщины слоев в процессе их осаждения
Номер патента: 1202461
Опубликовано: 25.07.1995
МПК: H01L 21/66
Метки: осаждения, процессе, слоев, толщины
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ В ПРОЦЕССЕ ИХ ОСАЖДЕНИЯ, включающий регистрацию временной зависимости интенсивности собственного теплового монохроматического излучения образующейся структуры I(t) и определение толщины слоя по числу полупериодов этой зависимости и значению показателя преломления осаждаемого слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения класса контролируемых слоев, перед осаждением измеряют излучательную способность и интенсивность собственного теплового излучения нагретой до температуры процесса осаждения исходной структуры на длине волны монохроматического излучения и искомую величину определяют, используя вычисленный по следующей форме показатель преломления h:
Способ измерения толщины слоя ферромагнитного материала
Номер патента: 1374038
Опубликовано: 15.02.1988
МПК: G01B 7/06
Метки: слоя, толщины, ферромагнитного
...участок с площадью Я на торце слоя, который будет равен:Фю - К 2 В,. Я К В 61, (2) тгде К - коэфАициент, учитывающийформу образца, т.е. коэффициент размагничивания формы при намагничивании образца в другом направлении;6 - ширина элементарного участка, расположенного на торце слоя,т.е. толщина слоя ферромагнитногоматериала;1 - длина площадки на торце слоя.Разделив величину остаточного магнитного потока Ф , снимаемого стэлементарного участка площади Я наторце слоя, на величину остаточногомагнитного потока Ф с элементарного участка площади Я на поверхностиконтролируемого Аерромагнитного слоя,нанесенного на немагнитную основу,получим усредненное по длине значениетолщины слоя, т.е,Ф 1 В Я К В ..К 1где К = - --= сопят - конструкЕЪ...
Способ измерения толщины слоев многослойных изделий
Номер патента: 1490455
Опубликовано: 30.06.1989
Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский
МПК: G01B 7/06
Метки: многослойных, слоев, толщины
...улучшения контроля за качеством иэготовления.5 Формула изобретенияЗатем образуют другую комбинацию контуров (фиг.2) аналогично получают значение1 Ор4 и определяют толщины слоев 1-3 поформулам15Т 1=- ег 1 г г 1 Тз=4,гдеа Ъ 4 о а ф+в . ва, Р (1+Р ) В случае п-слойного изделия нумеруют последовательно проводники от наиболее удаленного от преобразователя, затем ныбирают четыре: первый - 30 третий и т-й, и указанным способом определяют толщины слоев Ти Т г =г- . Затем выбирают провод - ники третий - пятый и п-й, находят Тз= сз 1-4 и Т = с 4и теде 35Использование переменных магнитных полей, порождаемых переменными токами, проходящими через закладные проводники, вызывает в электропронодящих слоях появление вихревых токов, 40 магнитные поля...
Предыдущий патент: Устройство для измерения характеристики частотной избирательности радиоприемника по побочным каналам приема
Следующий патент: Способ измерения энергетических параметров апертурных антенн
Случайный патент: Самоходная машина