Способ измерения твердости материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Заказ 2415/38 Тираж 776 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., . 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к измерению твердости.Цель изобретения - повышенйе точности измерений твердости за счет определения площади отпечатков под нагрузкой.На чертеже приведена схема устрой.ства, реализующего способ,Образец 1 покрыт защитной средой 2 и установлен на приемник 3 электромагнитного излучения. Через индентор 4 подводится электромагнитное излучение от источника 5 (не показан). Образец 1 и индентор 4 прозрачны для электромагнитного излучения, а слой 2 - непрозрачен.Способ реализуется следующим образомВдавливают под нагрузкой индентор 4 в образец 1, при этом защитная среда 2 выдавливается из образующегося на поверхности образца 1 отпечатка и он начинает служить диафрагмой для электромагнитного излучения, которое проходит через инден 2тор 4, отпечаток и образец 1 на приемник 3. Последний измеряет интенсивность электромагнитного излучения,зависящую от площади отпечатка.5 Данные с приемника 3 обрабатываются и по ним определяется твердостьобразца. После этого нагрузку с индентора снимают. Формула изобретения. Способ измерения твердости материалов, заключающийся в том, что вдавливают индентор в испытуемый образеци определяют площадь отпечатка, покоторой судят о твердости, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности, помещают индентори образец в защитную среду, послевдавливания индентора пропускают через него и образец электромагнитноеизлучение, для которого они являютсяпрозрачными, а защитная среда - непрозрачной, и измеряют интенсивностьпрошедшего излучения, по которой судят о площади отпечатка.
СмотретьЗаявка
3880596, 08.04.1985
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И КОНСТРУКТОРСКО ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИРОДНЫХ АЛМАЗОВ И ИНСТРУМЕНТА
НАЛЕТОВ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, БУЛЫГИНА ТАТЬЯНА ИЛЬИНИЧНА, ЕПИШИНА НИНА ИВАНОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 3/40
Метки: твердости
Опубликовано: 15.06.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1317319-sposob-izmereniya-tverdosti-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения твердости материалов</a>
Предыдущий патент: Установка для испытания на прочность группы образцов
Следующий патент: Образец для испытания стойкости режущего инструмента
Случайный патент: Устройство для преобразования постоянного тока