Способ функционального контроля интегральных схем

Номер патента: 1285414

Авторы: Змеев, Суворинов, Тихонов, Шахбазов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ 9) (И БЛИК 31 28 ф;-"б 1) УЬб 3б ИОАН ЕН ЗСБРЕ ОМУ СОИ ЬНОГО КОНТРОЛЯ сит ся к кро- ние ь-по я. Она собе ф нкциоых схем устрой еграл ально ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(71) Московский институт электронного машиностроения(56) Практическая растровая электронная микроскопия. Сборник. Пер.с англ. - М.: Мир, 1978, с. 275.(54) СПОСОБ ФУНКЦИОНАЛИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ(57) Изобретение отнзондовой технике. Целдостоверности контролгается тем, что в спнального контроля ин(ИС) с помощью спец ства (У) из сигнала, несущего информацию о топологии и потенциалахобразца, исключается сигнал, соответствующий топографическому контрастусхемы, в результате чего на видеоконтрольное У микроскопа поступаетвидеосигнал, несущий информацию только о потенциалах образца, что повышает контрастность регистрируемойкарты логических состояний ИС. Способ реализуется в У, содержащемэлектронно-оптическую колонну РЭМс камерой образцов 1, буферный уси-.литель 2, блок (Б) 3 выборки-хранения, Б 4 вычитания, фильтр 5 низкихчастот, тактовый генератор 6, Б 7управления аналоговыми ключами ивидеоконтрольное У 8, Изобретениеможет быть испольвовеио Лля коитро- Сеыля работоспособности ИС. 1 ил.1285414 2 Тираж 730 Подписное ВНИИПИ Заказ 7 б 40/48 Произв.-полигр, пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к микроэондовой технике и может быть использовано для контроля работоспособности интегральных схем (ИС).Цель изобретения - повьппение до, - стоверности контроля за счет увели - , чения контрастности при регистрации карты логических состояний ИС,Поставленная цель достигается тем, что с помощью специального устройства из сигнала, несущего информацию о топологии и потенциалах образца, исключается сигнал, соответствующий топографическому контрасту схемы, в результате чего на видео- контрольное устройство микроскопа поступает видеосигнал, несущий информацию только о потенциалах образца, что повьппает контрастность регистрируемой карты логических состояний ИС. На чертеже приведена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ. 25 Устройство содержит электронно- оптическую колонну 1 РЭМ с камерой образцов, буферный усилитель 2, блок 3 выборки-хранения (БВХ), блок 4 вы п читания, фильтр 5 низких частот (ФНЧ)1 тактовый генератор 6, блок 7 управления аналоговыми ключами, видео- контрольное устройство (ВКУ) 8.Блок 1 электрически связан с блоком 7 и усилителем 2, последний в свою очередь связан с блоками 4 и 3. Блок 3 управляется блоком 7, который работает от тактового генератора 6 и связан с блоком 4. Сигнал с блока 4 вычитания через ФНЧ 5 поступает на ВКУ 8. Тактовый генератор 6 вырабатывает импульсы частотой на несколько порядксв больше, чем частота разверт 45 киэлектронного луча, т,е. 80-150 кГц, Они поступают на блок 7 управления, который формирует последовательность управляющих импульсов, поступающих в противофазе на БВХ 3 исхему управления режимом исследуемой ИС. В момент, когда включен аналоговый ключ блока 3, на его выходе запоминаетсявеличина видеосигнала, соответствующая отключенной ИС и на выходе блока4 вычитания формируется нулевое на -пряжение вследствие того, что вход -ные величины, поступающие на негосовпадают. На следующем такте аналоговый ключ блока 3 размыкается иуправляющее напряжение поступает наисследуемую ИС. Величина видеосигнала, поступающая на вход блока 4 вычитания, изменяется согласно картелогических состояний ИС, а величинасигнала на выходе блока 3 остаетсяравной величине видеосигнала, соответствующего отключенной ИС, Поэтому на выходе блока 4 формируется напряжение, соответствующее разностивидеосигналов отключенной и включен -ной ИС. На следующем такте картинаповторяется, Таким образом, вычитание видеосигнала происходит практи-.чески в одной точке и формируемаякарта логических состояний содержитв себе информацию лишь о потенциалах ИС. Формула изобретения Способ функционального контроля интегральных схем, заключающийся в том, что на испытуемую интегральную схему подают напряжение питания и входное тестовое воздействие, сканируют поверхность интегральной схемы острофокусированным пучком электро-нов, регистрируют интенсивность вторичной электронной эмиссии и преобразовывают ее в электрический сигнал, формируют изображение карты логических состояний и контролируют ее параметры, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью повьппения достоверности контроля, запоминаютвеличину полученного электрического сигнала в каждой точке, отключаютпитание интегральной схемы, регистрируют вторичную электронную эмиссию, преобразуют ее в электрическийсигнал, который вычитают иэ запомненного, по полученной разности формируют изображение карты логическихсостояний,

Смотреть

Заявка

3896097, 15.05.1985

МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОГО МАШИНОСТРОЕНИЯ

ЗМЕЕВ ЮРИЙ ВАЛЕНТИНОВИЧ, СУВОРИНОВ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, ТИХОНОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, ШАХБАЗОВ СЕРГЕЙ ЮРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/3177

Метки: интегральных, схем, функционального

Опубликовано: 23.01.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1285414-sposob-funkcionalnogo-kontrolya-integralnykh-skhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ функционального контроля интегральных схем</a>

Похожие патенты