Способ измерения параметров колебаний объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(19) (1 1)4 С 01 Н 9/О ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ ЛЬСТВУ еская82, с.тво СС/00,ТР ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(56) Вест Ч. Голографич интерферометрия, М.: Мир, 19 218-225Авторское свидетельс СР И 1208474, кл, С 01 Н 921. 06. 1985,(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ: ПАРАМЕ ОВ КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров колебаний диффузно отражающих объектов. Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и фазы и частотй колебаний. Освещают2 3е объект 4 когерентным излучением отЭлазера 1. В ориентированном фоторе-: фрактивном кристалле записывают ди- намическую голограмму и одновременно восстанавливают ее. В пучке света 3 , восстановленного с голограммы 7 опорной волной (Оп), измеряют интенсивность, по которой определяют амплитуду колебаний, В пучке света, содержащем световую волну 3 , восстановленную с голограммы 7 объект" ной волной (Пр) и прошедшую через голограмму опорную волну Л , по,средством анализатора 9 выделяют лиейно ноляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от по-ляризаций восстановленной 3 и опорной 3, волн. Затем регистрируют распределение частоты и фазы интен сивности по сечению этого .пучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебаний объекта.1254311 О 15 20 25 30 40 45 50 Подписное Изобретение относится к измерительной технике, в частности к голографическим способам определенияпараметров колебаний диффузно отражающих объектов.Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и частоты и фазы колебаний.На чертеже схематически изображена оптическая схема, реализующаяпредлагаемый способ.Схема включает лазер 1, расширитель лазерного луча 2, светоделитель3, голографируемый объект 4, собирающий объектив 5, входной поляриза"тор 6, динамическую голограмму 7,анализаторы 8 и 9, введенные соответственно в объектную и опорную ветви, объектив 10, Формирующий изображение, светорегистрирующее устройство 11, расширяющий обьектив 12, матрицу Фотоприемников 13, систему 14,измеряющую частоту и Фазу переменного электрического сигнала Оопорная и П - объектная волна света, 1 и 1, - прошедшие через голограмму части соответственно опорнойи объектной волны, 1 и 1 - восстановленные с голограммы части тех жепучков,Способ осуществляется следующимобразом,Освещают объект 4 когерентнымизлучением от лазера 1. В фоторефрактивном кристалле кубическойсингонии записывают динамическую голограмму вибрирующего объекта 4 путем экспонирования кристалла интерФеренционной картиной, образованнойопорной (О) и объектной (Пр) волнами, Кристалл выполняется в видеплоскопараллельной пластинки с оптическими гранями, совпадающими сплоскостью (110) кристалла. Кристаллустанавливается таким образом, чтоось 1 001 перпендикулярна плоскости,образованной пересечением осей опорной и объектной ветвей. Опорную иобъектную волны Формируют иэ расширенного с помощью расширителя 2 лазерного луча с помощью свегоделителя 3 и объектива 5, Направление поляризации опорной и объектной волны ВНИИПИ Заказ 471044 Произв.-полигр, пр-тие, г,света устанавливают с помощью поляризатора 6 в соответствии с условия 4ми наблюдения анизотропной дифракции, Формирующий изображение луч 1,отделяют от прошедшей части объектной волны света 1 посредством анализатора 8. Далее выделенный анализатором 8 свет с помощью объектива1 О собирается на светорегистрирующем устройстве 11, где по интенсивности света определяют амплитудуколебания,Из прошедшего через голограммупучка света, содержащего световуюволну, восстановленную с голограммы объектной волной и прошедшую через голограмму часть опорного пучка,выделяют линейно поляризованную составляющую с помощью анализатора 9,Выделенную часть пучка расширяют посредством объектива 12, а затем посредством матрицы Фотоприемных устройств 13 измеряют распределениечастоты и фазы колебаний интенсивности по сечению пучка, по которым определяют соответственно частоту иФазу колебаний объекта. Формула изобретения Способ измерения параметров колебаний объекта, заключающийся в том, что освещают объект когерентным излучением, одновременно записывают динамическую голограмму, образованную опорной и объектной волнами, и восстанавливают ее, измеряют интенсивность восстановленной с голограммы волны и по величине интенсивности определяют амплитуду колебаний,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью расширения измеряемых параметров колебаний в пучке света, содержащем световую волну, восстановленную с голограммы объектной волной,и прошедшую через голограмму опорнуюволну, выделяют линейно поляризованную составляющую с поляризацией,отличающейся от поляризации восстановленной и опорной волн, и регистрируют распределение частоты и Фазыколебаний интенсивности по сечениюпучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебанийобъекта. Ужгород ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3857467, 25.02.1985
ОРДЕНА ЛЕНИНА ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. ИОФФЕ
КАМШИЛИН АЛЕКСЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, МОКРУШИНА ЕЛЕНА ВСЕВОЛОДОВНА
МПК / Метки
МПК: G01H 9/00
Метки: колебаний, объекта, параметров
Опубликовано: 30.08.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1254311-sposob-izmereniya-parametrov-kolebanijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров колебаний объекта</a>
Предыдущий патент: Устройство для обнаружения резонансной частоты объекта
Следующий патент: Вибродозиметр
Случайный патент: Кокиль с вертикальным разъемом