Устройство для измерения деформаций в твердых телах

Номер патента: 255794

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Халин

МПК: B24B 37/04

Метки: доводки, пластин, плоских, плоскопараллельных, поверхностей

...по направляющим штоком 10. Сепаратор-притир 9 имеет несколько отверстий 11, в которые вставляются приспособления 12 так, что они частично выступают за ширину рабочего диска. 25В приспособлении клеем закрепляется обрабатываемая пластина 18. Сепаратор-притир находится в зацеплении с шестерней 2 и шестерней 14, неподвижно сидящей на станине 15. Такая кинематика зацепления обеспе- Зо чивает сложное движение приспособления по рабочему диску, взаимную правку и износ рабочих поверхностей диска и приспособления. Этим достигается хорошее качество шлифуемых или притираемых плоскостей пластин.Устройство работает следующим образом. Пластины 13, рассортированные по толщине, наклеиваются на притертые поверхности штоков 10. Каждый шток перед...

Номер патента: 637241

Опубликовано: 15.12.1978

Автор: Халин

МПК: B24B 37/04

Метки: доводки, пластин, плоских, плоскопараллельных, поверхностей

...фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 - ттриспособленне для крепления обрабатываемых пластин; разрез; на фиг. 3 - то же, вид сверху.1 риспособление 6 состоит иэ штока Ь, перемещающегося по направляющим, выполненным в виде упругого опорного кольца 9, шпонки-гайки 10, винта 11 и разрезного пружинного кольца 12. Шпона- У гайка 10, введенная в продольный паэ 13 штока, с винтом 11 фиксируют положение штока по высоте относительно основания кольца 9. Упругое опорное кольцо 9 выполнено с продольными гофрами 14 на на-В ружной и внутренней поверхностях, расположенными симметрично, отверстию под.винт, и с кольцевой канавкой 15 под разрезное пружинное кольцо 12, Кольцо 12, помещенное в канавку 15 заподлицо с на- И...

Номер патента: 1499622

Опубликовано: 15.01.1993

Авторы: Волков, Котелянский

МПК: H01L 21/302

Метки: пластин, поверхностей, полирования, химико-механического

...способствует более быстрому цболее качественному выхаживан 11 юпорр ,1верхцос ти , подавляется ормир ова ни 8на 6 о в ерхнос ти твердого тела О кис ныхи гидр о О кис ных пленок з а счет пр еимущественноГО Образования р а с ТБ О )и45МЫХ КОМПХЕЕКСНЫХ СОЕДИНЕНИЙ С ЭЛЕ"ментамц обрабатываемого материала.Примеры 1-9 выполняют ИЕ)и следую"щих постоянных режимах полирования5 ОЧастота вращения,полнровальникаУдельное дантление на цлас 100-150 г/смтиныРасход полнрующего состЕРИ ПОЛИРОПКЕ(пластиныпредварцтельцообработаны сйободиьп 1 абразивом зернистостью 5 мкм) 10-15 мкм,П р и и е р 1, Для полированияпластин фосфида индия и-типа ориентации (100) используют полируюпфе 1состав, ца 1 л воцы в котором приходится 200 г Б)0)р 80 мл глицерина,60 мл...

Номер патента: 50159

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Ион

МПК: B01D 33/052

Метки: жидких, промывки, смесей, твердых, тел, фильтрования

...двигаться вперед, Таким путем новая ткань автоматически втягивается в пространство между отсасывающим ящиком и лепешкой, Когда передний конец новой ткани .пройдет мимо отсасывающего ящика и начнет двигаться в обратную сторону, его отделяют от старой ткани и скрепляют с задним концом новой ткани, При этом скорость движения ленты регулируют таким образом, чтобы произвести замену, не прерывая процесса фильтрации.На чертеже схематически показана форма выполнения изобретения (фиг. 1 и 2). Буквой а обозначена эластичная бесконечная несущая лента, сделанная, например, из резины и снабженная отверстиями и выступающими кверху бортами из того же эластичного материала. Лента движется в торизонтальной плоскости по направлению стрелок, огибая...

Номер патента: 117059

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Бахшиев

МПК: G01N 21/41

Метки: жидких, показателя, преломления, рефрактометр, способа, твердых, тел, этого

...главное сечение которого совпадает с плоскостью падения; 4 - плоская поверхность исследуемого вещества; 5 - объектив спектрографа, дающий в фокальной плоскости изображение источника света; б - щель ,"пектрографа; р - угол падения света на образец.Рефрактометр представляет собой приставку к спектрографу, яв юшуюся коллиматором с установленным перед его объективом 2 по. роидом 3. Коллиматор расположен наклонно к плоской поверхности 4 следуемого вещества. Пучки параллельных поляризованных лучей объектива коллиматора, отразившись от поверхности 4 под углом гр, гаис;.Ннот в обьектив э спскгрографа и создалот изображение спектра па фотопластинке. Лучи, падающие под углом Брюстсра (различном для разных длин волн) не отразятся от...