Устройство для градуировки тензорезисторов

Номер патента: 1226959

Авторы: Вашеткин, Горшихин, Мальгун, Патокин, Смирнов, Соболев

ZIP архив

Текст

(19) (111 ш 4 С 01 В 718 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56) Авторское свидетельство СССР В 391385, кл. С 01 В 7/18, 1971.Авторское свидетельство СССР В 485334, кл. С 01 В 718, 1973. (54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ, содержащее основание с четырьмя шарнирными опорами, две идентичные градуировочные балки, каждая из которых установлена на двух шарнирных опорах так, что продольные оси балок параллельны одна другой, четыре тяги, каждая из которых соединена соответственно с одним из концов одной из балок, нагружающий механизм, соединенный со всеми тягами, и измеритель деформации градуировочной балки, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности градуировки, оно снабжено двумя подпружиненными вставками, установленными между двумя балками перпендикулярно их продольным осям, и двумя уголковыми отражателями, каждый из которых закреплен в середине соответствующей вставки, а измеритель деформации градуировочной балки выа полнен в виде лазерного интерферометра, предназначенного для взаимодействия с уголковыми отражателями,Заказ 6497/3 Тираж 670 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий . 113035, Иосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 12269Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для прецизионной градуировкитензорезисторов, закрепляемых наградуировочной балке. 5Целью изобретения является повышение точности градуировки.На чертеже представлена кинематическая схема устройства.Устройство для градуировки тен- Оэорезисторов содержит основание 1с четырьмя шарнирными опорами 2-5;две идентичные градуировочные балки 6 и 7, каждая из которых установлена на двух шарнирных опорах (например, опоры 2 и 3 - для балки 6 иопоры 4 и 5 - для балки 7), четыретяги 8-11, каждая из которых соединена соответственно с одним концомодной из балок 6 или 7, нагружающий механизм (на чертеже не показан),соединенный со всеми тягами 8-11,две подпружиненные вставки 12 и 13,два уголковых отражателя 14 и 15,каждый из которых закреплен в середи 1 251не соответствующей вставки 12 или13, и лазерный интерферометр (начертеже не показан), предназначенный для взаимодействия с уголковымиотражателями 14 и 15. ЗОБалки 6 и 7 установлены на опорах2-5 так, что их продольные оси параллельны одна другой. Вставки 12 и 13установлены между балками 6 и 7перпендикулярно их продольным осям.Устройство работает следующимобразом,59. 3При деформации балок 6 и 7 одинаковым изгибающим моментом, создавае.мым тягами 8-11, точки контакта балок 6 и 7 и вставок 12 и 13 перемещаются в пространстве так, что точки, принадлежащие разным балкам,сближаются, сжимая подпружиненныевставки 12 и 13, а точки, принадлежащие одной балке, расходятся однаот другой на величину линейной деформации, созданной на обращенныходна к другой поверхностях балок 6и 7. Это расхождение вызывает такоеже по величине взаимное перемещениеуголковых отражателей 14 и 15, измеряемое по обычной схеме лазерныминтерферометром,Предлагаемое устройство позволяет измерять непосредственно линейнуюдеформацию градуировочных балок в аб.солютных единицах измерения и с вы"сокой точностью. Для перехода к значениям относительной деформации используют отношение измеренной абсолютной деформации к начальному расстоянию между точками контакта двухвставок 12 и 13 с одной и той жебалкой 6 или 7. Разрешающая способность устройства составляет около0,01 мкм. Использование этого устройства для градуировки опытных партий разрабатываемых тензорезисторовпозволит более точно контролироватьотклонения абсолютной чувствительности тензорезисторов в партии и тем;самым повысить качество выпускаемыхтензорезисторов.

Смотреть

Заявка

3800428, 10.10.1984

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2827

ВАШЕТКИН Н. П, ГОРШИХИН В. Н, МАЛЬГУН М. М, ПАТОКИН Е. В, СМИРНОВ Г. Г, СОБОЛЕВ М. Д

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: градуировки, тензорезисторов

Опубликовано: 23.11.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1226959-ustrojjstvo-dlya-graduirovki-tenzorezistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для градуировки тензорезисторов</a>

Похожие патенты