Способ определения асимметрии магнитного поля линз электронного микроскопа

Номер патента: 103408

Автор: Стоянов

ZIP архив

Текст

103408 Класс 21 е, 1221 е, 36:,СССР с,И Е И 3 О Б Р Е Т Е:Н ИЯРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ К А Стоян ПОЛЯ ЛИН ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АСИММЕТРИИ МАГНИ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПЗаявлено 32 января 1951 г. за го 06346/441459 в Го толнику СС Пзооретенис относится к слосооам измерения осевой асимметрии магнитного поля в линзак электронного микроскопа, основанным на баллистическом методе измерения разности импульсог, электродвпжущлк сил двум катушек. одна из которым - компенсационная - располо;кена на осл поля, а другая - измерительная - на периферии, на некотором расстоянии от оси линзы. Конструкция прибора обеспечивает постоянство электродвижущей силы компенсационной катушки п прямо пропорппональнусо завислмостг, элсктродвижущей силы от изменения лотокосцспленпя гсзмерсгге гьной катулл;и, служащей для лзмеренпя асимметрии поля.Потокосцеллелле изменяется, н;псрив.р, лереклгоченлем тока, лсгтасощего линзу, с прямого лалравленля ла обратное или с максимума до нуля,Способ измерения может бычч полезным при контроле качества полюснык саконечникев электромагнитным ллнэ электронного микроскопа.На чертеже показан лрлоор в разрезе л сечение ло Л.г.Катушки смонтированы на корпусе из немагнитного материала. 11 омпенсационная катушка (1) (оольшего длазсегра) соосна с отверстиями полюсного наконечника (2), ось пзмерптельной катушки (3) (меньшего диаметра) не совпадает с геометрической осьчо полюсного наконечпика, Пзлгергггельная катушка (3) ломещаегея в продольном пазу корпуса (4) так, что плоскостл витков обеик катулчек совпадагот, а измерительная катушка оказывается внутри колгленсацпонной. Обмотки обеих катушек вклссоченгя встречно, так что наводпгпяе в них алектродвижущие силы вьсчлтаются.корпус, на котором сзгонтировангл оое катуслкл, ичсеет на одном конце посадочное место. плотно входяьцее в одно вз тверстисгг полсосного наконечника, что беспечивает вращение всего прибора вокруг геометрическойс оси.Прп вращении измерительная катушка попадает в различные участки поля, отстоялсие от оси на равном расстоянли, Не лотокосцепление изменяется толька прп наличии отступлений поля от аксиальнзп спзгметрии. Потокосцепссенсге компенсационной катушки всегда остается постоянным. таг. как прп вращении она поворачивается вокруг собственной гя и, не смещаясь относительно поля.ч 1 увствительность пзмеритетьного устройства г, любым неоднородностям поля может быть резко повышена путем увеличения числа витков измерительной катушки при надчежащей компенсации пл соответствугощим .числом витков компенсационной катушки.Виткп компенсационной катушки могут быть прп желанпи подобраны так, что результиругощая элегтродвлжущая(.;ила о( ит Н) и(с; оудет иропорцио.нальна измсиегнио иотокосцепления измерительной катуи(нн, В случае стсутгтииаспчм 1 рии и ОГО(о( цсилене изыериггьнои(ету)пни Оудгт и)стояиио,су)марн 51 э;с;ть(вижуие си,и) ООеит )1 тупи.( и моменг пзан;р(ия О(1 ажет(5( РЛВНОИ. НУ,Я. ) ПРОТБИО) (.,(УЧГ. НОГЯ.1) ммстО и 51 и мест(5(, пото 1 О. цси с 1 пи ПзмеПГГОльиои нтупи(и )плум)гг и)Иаи(- иие, ц)пчеч с).м)и(р( эи(т)Одник(цянлл Обеих )аугие, ) ссвен н 51 цннп- р(О, (у;т и рНорцпоиз)(ьна;тому ирире- ) це.нио..ле(егродвижуиО 5 ,и,(. ознина 1 ОН(151В .(ОЧЕ (1 Г И:(ЧЕ РРН И Я. МО)( ЕТ )ГЛ ИЗ МРРна зе)Иаьным Оа)Псч(чсяии гз)ьнаиометргм Обьмного ипа. ргд)(е изобретенияСпособ Оп)еделеиня асимметрии иагиитпого поля линз электронного микро 1 оиа, о ли ча,(огцийся тем, что, и ЦЕЛЫО ПЗМЕРЕЕГИЯ ВЕЛИЧИНЫ аСИММЕтнен Ноля, в последнем устанаьливают две )(атуи)т: одну коакснаьио линзе, а другую эксцснтричио. и по разности э:(еЕтро)визкуппх сил атупск, измеряемк, например, ба;истическит гальва- (О)етр(щ, удят об си(метр)и в)гнгтно- (О (ОЛЯ.

Смотреть

Заявка

441459, 12.01.1951

Стоянов П. А

МПК / Метки

МПК: G01R 33/02

Метки: асимметрии, линз, магнитного, микроскопа, поля, электронного

Опубликовано: 01.01.1956

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-103408-sposob-opredeleniya-asimmetrii-magnitnogo-polya-linz-ehlektronnogo-mikroskopa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения асимметрии магнитного поля линз электронного микроскопа</a>

Похожие патенты