Способ контроля качества поверхности микропроволоки

СОЮЗ СОВГВНИХИЦВВВМЕОаРЕСПУБЛИК аиЯОав 3 1.В 7/34 Н ОБР. П:ЛЬСТВ ИД ВТОР СНОМ ГОСУДАРСТВЕННЬЭ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ОПИСАНИЕ, (71) Институт металлургии и обогащения АЯ Казахской ССР(прототип). ое свидетельство СССРЯ 01.В/34, 1975.свидетельство СССРЯ 01 В 7/32, 1976.свидетельство СССРС 01 В.7/00, 1971(54) (57) СПОСОБ КОНТРОЛЮ йСАЧИй ВА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОЮОИОЛОКИ,завпочавщийся в том, что аатуолируе мое изделие .помещаютконаентрично аауВ ри кольцевого электрода, "поаавт на электрод постоянное высокое напражевае и измеряют частоту ивщульсов тока ю ровного разряда, о т л и ч а в щ и й.- с я тем, что, с целью иааавпиа точ ности контроля, дополнительно подают на электрод переменное напряжение си иусоидальной формы, формирука авацаь сы с длительностью, равной фроитам ам пульсов, по амплнцде ажорык су 4 ят о размерак микронеровностей, а ю чао 1стюай4Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества поверавстимикропроволокиеИзвестен способ контроля качества,поверхности мнкронровода, заключакьщийся в том, что измеряемое иэделиепомещают в вакуумной камере на фиксированном расстоянии от электрода ицо величине тока. эмиссии судят а параметрах шероховатос: и13Недостатком способа является невь 3сокая точность оценки качества псаерзности,Известен также способ коитроия качества поверхности микропроволоки,заключающийся в том, что измеряемоеизделие устанавливают на фиксироваьном расстоянии относительно элещродаи создают между ними коронный разряд.и дополнительный импульсный коронныйразряд регистрируют интервал временимежду импульсами вспомогательюго иосновного разрядов и по нему сущят окачестве поверхности Г 2 .Наиболее близким к изобретению потехнической сущности является способ,контроля качества поверхности микропроволоки, заключающийся в том, чтоионтролируемое изделие помещазот Ханцентрично внутри кольцевого элен%рода,подают на электрод постоянное аысоивенапряжение и измеряют частоту импульсов тока коронного разряда, по которой судят о качестве поверхности ГЗ .Недостатком известных способовявляется невысокая точность контроля,обусловленная наложением электронныхлавин от близлежащих микронеровноотей. Бель изобретения - повышение точ ности контроля.Поставленная цель достигается тем, что, согласно способу контроля качества поверхности микропроволоки, заиаочающемуся в том, что кснтролируемое иэделие помещают концеитрично внутри кольцевого электрода, подают на элекэрод постоянное высокое напряжеиие; и измеряют частоту импульсов тока ко.ронного разряда, дополнительно подают, на электрод переменное напряжение сн:иусоидальной формы, формируют импульсы 0 длительностьюр равной фроВзеам импульсов, по амплитуде которых судмй о Раэ-ВНИИПИ Заказ 5608/433857 50 сы с длительностью, равной их фронтам,которые подаются на вход многоканального амплитудного анализатора 8,Изобретение позволяет повысить точность контроля качества поверхности мик роправолоки за счет щщьццеиия разрешаюещей способности способа,еТираж 602 Подписное 5 0 15 20 мерах микронеровностей, а по частотео плотности их распределенияеСпособ реализуется следующим обре ЭОмеПомещают контролируемое изделие концеитрвчно внутри кольцевого электро да, подают на электрод постоянное высокое напряжение и переменное напряжение сииусоидальной формы. формируют иэ импульсов тока коронного разряда импульсы с длщгельностью, равной фронтам импульсов тока коронного разряда. Измеряют амплитуду и частоту импульсов, по амплитуде которых судят о размерах микронеровностей, а по частоте - о плотности их распределения.На чертеже приведена блок схема устройства, реализующего способ.Устройство содержит источник 1 высокого напряжения, балластный 2 и нагрузочный 3 резисторы, кольцевой электрод 4, дифференцирующее звено 5, источник 6 переменного напряжения, разделительную емкость 7 и амплитуу- ный анализатор 8, включенный на выходе дифференцирующего звена 5.Устройство работает следующим образом.При подаче высокого напряжения через балластный 2 и нагрузочный 3 резисторы от источника1 на кольцевой электрод 4 вблизи последнего начинаются процессы ионизации и возбуждения атомов и молекул газа, вызывающие образование электронных лавин. На электрод 4 подается также через разделщельную емкость 7 переменное напряжение от источника 6 переменного напряженияе Амплитуда возникающих при этом импульсов коронного разряда .находится в прямой зависимости от длины разбега и продолжительности развития электронных лавин в коронирующем слое, причем, чембольше размеры микродефектов, тем больше амплитуда импульСОВеВыходной сигнал снимается с нагрузочного резистора 3 и через дифференцирующее звено 5, формирующее импульФилиал ППП фПатентфе г. Ужгород, ул. Проектная, 4