Способ определения шероховатости поверхности диэлектриков

Номер патента: 55174

Автор: Эпштейн

ZIP архив

Текст

ласс 42 1 с, 29 СДНИЕ ИЗОБРСт К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ,67 влено 28 ноября 1938 Опубликовано 30 и 1939 года атором для оценки ки. Нанесение таких тонких слоев можн 1 одным распылением, ров или осаждением ещества химическим лужить видик тепени полиро исключительно существить ка онденсацией па роводящего в пособом. ного с гичног сти а ностей. П редме обретени кп. арт Изобретение относится к определению шероховатости и степени полировки поверхности диэлектриков и ос новано на том общеизвестном фак- . те. что тонкий слой металла, нане-;. сенный на шероховатую поверхность,может изменяться в весьма мелкую,сетку, заполняющую лишь углубления поверхности, нли, наоборот, может скопляться преимущественно на микровозвышениях на поверхности, и зависимости от способа нанесения металла. И в том и в другом случае электрическая проводимость слоя будет отличаться от проводимости аналогичного слоя на идеальной поверхности. То же будет и относительно сопротивления. Только в случае слоев, превосходящих по толщине величину неровностей на поверхности, можно пренебрегать этими неровностями,При достаточно тонких слоях электрические сопротивления их могут внение сопротивления полученлоя с сопротивлением аналоо слоя на эталонной поверхноет шкалу для оценки неровСпособ определен ховатости поверхнос отличающийся тем, туемую поверхност верхность эталона н известных приемов проводящего элект щества и о степени судят путем сравн стей указанных пов ия степени шероти диэлектриков, что как на испыь, так и на поаносят одним из тончайший слой рический ток вешероховатости ения проводимоерхностей. я. Пея Зэкй 5071 - 55

Смотреть

Заявка

20167, 28.11.1938

Эпштейн А. Я

МПК / Метки

МПК: G01B 7/34

Метки: диэлектриков, поверхности, шероховатости

Опубликовано: 01.01.1939

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-55174-sposob-opredeleniya-sherokhovatosti-poverkhnosti-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения шероховатости поверхности диэлектриков</a>

Похожие патенты