Способ определения герметического коэффициента линейного расширения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 502301
Авторы: Бакутис, Барейкене, Валацка, Венисловене
Текст
р) 5023 О 1 Союз Советских Социалистических ресцблии(23) ПриоритетОпубликовано 05.02,76. Бюллетень5Дат; опубликования описания 14.04.76 25/16 Государствеиныи коми авета Министров СССРо делам изобретений 3) УДК 536.413(088.8) и открытий 2) Авторы изобретен Бакутис, Р. М, Барейкене, К, К, Валац и Р. И. Венисловене Ордена Трудового Красного Знамени институт физи полупроводников АН Литовской ССРЗаявитель 54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕРМИЧЕСКОГ КОЭФФИЦИЕНТА ЛИНЕЙНОГО РАСШИРЕНИЯ сследопловых в виде где б - отклонение свободного 5 сольно закрепленной системы, а относятся к первой и второй под При реализации способа для ТКЛР напыленных слоев полупр материала использовались подло 0 65 Г и 2 Х 13. Выравнивание моду металлических подложек может путо соответствующей термичес кой, ла изобретсн Способ опреде циента линейног го слоя матери 20 подложку с из деформации изги ка, возникающег отличающий щения точности,25 ложки с равным сти, но с различи чины деформацического коэффия (ТКЛР) тонкоанесения его наР и регистрации образец-подложнии температуры, с целью повыриал на две под модуля упруго- и измеряют велиих систем. ления терми о расширени ала путем н вестным ТКЛ ба системы о при измене ся тем, что наносят мате и значениям ыми ТКЛР и изгиба обо Изобретение относится к способам и вания материалов с помощью те средств, Оно применимо к объектам тонких слоев и пленок.Известен способ определения терми коэффициента линейного расширения тонкого слоя, нанесенного на подлож вестным ТКЛР, основанный на реги изгиба двуслойной полоски, возникающ изменении ее температуры. При этом димо знать модуль упругости иссле слоя, что ограничивает возможности сп снижает точность измерений,ческого ТКЛР) ку с изстрации его при необходуем ого особа и Согласно предложенному способу, исследуемый материал наносят на две подложки с равными значениями модуля упругости, но с различными и известными значениями ТКЛР. Изменяя одинаковым образом температуру систем образец - подложка, регистрируют изгибы систем (например, методом консольно закрепленного образца) и по полученным данным вычисляют искомый коэффициент. Для подложек одинаковой геометрии ТКЛР испытуемого материала вычисляется по фор- муле конца кон индексы 1, 2 ложкам.определения оводникового жки из сталей лей упругостибыть достигкой обработ
СмотретьЗаявка
2017950, 22.04.1974
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИКИ АН ЛИТОВСКОЙ ССР
БАКУТИС ИОНАС ПЯТРО, БАРЕЙКЕНЕ РЕНАТА МИКОЛО, ВАЛАЦКА КАЗИС КАЗИО, ВЕНИСЛОВЕНЕ РЕГИНА ИОНО
МПК / Метки
МПК: G01N 25/16
Метки: герметического, коэффициента, линейного, расширения
Опубликовано: 05.02.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-502301-sposob-opredeleniya-germeticheskogo-koehfficienta-linejjnogo-rasshireniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения герметического коэффициента линейного расширения</a>
Предыдущий патент: Многоканальный дифрактометр
Следующий патент: Тепловой зонд
Случайный патент: Устройство для детектирования сверхвысокочастотных сигналов