Способ определения удельной поверхности материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 445888
Авторы: Саснаускас, Эльзбутас
Текст
Союз Советских Социалистических Республик(32) ПриоритетОпубликовано 05.10.74. Бюллетень37Дата опубликования описания 30.05.75 51) М. Кл. 6 01 п 13/ Государственныи комитет Совета Министров СССР 153)ДК 620 179(Од 8 8) о делам изобретеии и открытий72) Авторы изобретения К. И. Саснаускас и Г. П. Эльзбутас Каунасский политехнический институт(71) Заявител ЕЛЕНИЯ УДЕЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСМАТЕРИАЛОВ 4) СПОС ц поверхности я и измерения ти по авт. св.тем, что, с церений, предваал увлажняют ествс 15 - 30% измеряют диоторым судяти,Изобретение предназначено для определения тонкости помола (дисперсности) сыпучих материалов (например, строительных).По основному авт. св.290202 извсстен способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения диэлектрической проницаемости.Цель изобретения - повышение точности измерений.Это достигается тем, что предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15 - 30% от веса твердого компонента, измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.Способ осуществляют следующим образом, Некоторое количество исследуемого материала высушивают при температуре + 105 С и увлажняют определенным количеством инертной полярной жидкости. Затем помещают материал в межэлектродное пространство измерительного емкостного датчика, уплотняют до определенной степсни и измеряют диэлектрические параметры. Предварительно зная функциональные зависимости диэлектрических параметров от количества введенной инертной полярной жидкости и величины удельной поверхности высушенного твердого компонента при одинаковых прочих условиях по значениям диэлектрических параметров определяют искомое значение удельноц по верхности.Различие в температурах, при которой определена функциональная связь между диэлектрическими параметрами и удельной поверхностью и измерены диэлектрические па- О раметры (как показатель, характеризующийудельную поверхность) оценивают посредством температурных коэффициентов диэлектрических параметров. П р ед м е т изобретен и Способ определения удельно материалов путем высушивани диэлектрической проницаемос290202, отл и ч ающи йся лью повышения точности изме рительно высушенный матери инертной жидкостью в колич от веса твердого компонента электрические параметры, по о величине удельной поверхцост
СмотретьЗаявка
1411468, 09.03.1970
КАУНАССКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
САСНАУСКАС КЕСТУТИС ИОНО, ЭЛЬЗБУТАС ГЕНРИКАС ПРАНО
МПК / Метки
МПК: G01N 13/00
Метки: поверхности, удельной
Опубликовано: 05.10.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-445888-sposob-opredeleniya-udelnojj-poverkhnosti-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения удельной поверхности материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения краевых углов
Следующий патент: Способ количественного определения аминов
Случайный патент: Устройство для измерения поверхности вращающихся тел