Способ многократного иснользованияэталонов чувствительности нри капиллярнойдефектоскопии

Номер патента: 280033

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Всесоюзный, Неразрушающих, Средств

МПК: G01N 29/10

Метки: дефектоскопа, ультразвукового, чувствительности

...будут иметь тоже постоянную амплитуду д .5 Способ ствительн заключаю приемного целью пов искателя, фектоскоп шающее ция донно ствительн жанным д чув- кона то, с палы г де- ревы- ранеИзвестен способ автоматического регулирования чувствительности ультразвукового дефектоскопа, заключающийся в изменении усиления его приемного тракта.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что сигналы искателя, поступающие в приемный тракт дефектоскопа, задерживают на время, превышающее максимальное время распространения донного эхо-сигнала, а чувствительность тракта регулируется незадержанным донным сигналом. Это повышает точность контроля.На фиг. 1 изображена блок-схема устройства, реализующего описываемый способ; на фиг. 2 - сигналы...

Номер патента: 1330550

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Власов, Кориченко, Крутов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, настройки, ультразвуковых, чувствительности

...чувстви -тельности ультразвуковых деАектоскопов содержит отражатели 1 накладноготипа и имитатор усиления сварногошва, выполненый из набора сегментов2 с отверстиями 3, которые гибкосвя-.заны посредством, например, стальныхтросиков 4, пропущенных через отверстия, между собой и с отражателями,размещенными между группами сегментов на Аиксированнам расстоянии одинот другого. Размеры сегментов определяются иэ условия соответствия предельныи размерам усиления шва.Длина хорды 1, сегмента соответствует ширине усиления шва, высота Ьсегмента соответствует высоте усилеония шва, а радиус Б. сегмента определяют из формулы2к=05 Ь+ 9 8.Позицией 5 на фиг,1 обозначено контролируемое изделие,Устройство для настройки чувствительности ультразвуковых...

Номер патента: 650001

Опубликовано: 28.02.1979

Авторы: Перов, Райхман, Урман

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопа, настройки, ультразвукового, чувствительности

...является то, что они не обеспечивают надежности настройки чувствительности дефектоскоа при контроле сварных швов деталей сложной формы, например труб малых дпак 1 ет 1 Ов и то:1 цин стеОк, П 1 зименительцо к которым изготовление эквивалентных отрагжа 1 ЕЛЕЙ ОТЛИЧав:СЯ МаЛой ТЕХПОЛОГЦЧЕСой восг риим ивостью и. и вообп;е певозо;кно.".от"ь 10 изоб)ее 1 ИЯ является тпрощенис процесса настроикц при контроле изделии сложной формы.Цель достигается за счет того, что в качестве амплитуды принятого ультразвукового сигнала выбирают среднее значение амплитуд систематических сигналов-помех, возникающих при контроле,Способ заключается в следующем.Перед контролем, например, сварных швов перемещают искатель дефектоскопа по околошовной поверхности вдоль...

Номер патента: 924500

Опубликовано: 30.04.1982

Авторы: Городецкий, Матрохина, Шульте

МПК: G01B 5/20

Метки: вращения, использованием, поверхностей, прибора, профиля, эталонного

...вращения деталей с использованием эталонного прибора,Схема содержит шпиндель 1 эталонного прибора, шпиндель 2 поворотногоустройства, электропрйвод 3, с регулируемой передачей 4, датчик 5 линейных перемещений, контролируемую деталь 6 и вычислительную приставку 7с дисплеем 8.Способ реализуется следующим образом.Устанавливают шпиндель 2 поворотного устройства соосно со шпинделем1 эталонного прибора. Закрепляют нашпинделе 2 цилиндрический калибр соосно со шпинделем 1. Затормаживаютшпиндель 2, а шпиндель 1 приводятво вращение, и с помощью датчика5 и вычислительной приставки 7 опре"деляют радиус, форму и координатыцентра окружности профиля цилиндрической поверхности калибра. При измерении детали 6 профилем неполнойокружности, например...

Номер патента: 892266

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Безпяткин, Глаговская, Козин, Ларионов, Шептухин

МПК: G01N 1/28, G01N 21/01

Метки: дефекта, дефектоскопии, капиллярной, метода, эталона

...- 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Поставленная цель достигается тем, что согласно способу получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающему нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин с глубиной, равной толщине хрупкого слоя, и деформацию образца, перед нанесением слоя хрупкого металла в образце выполняют паз, при этом ширина паза равна длине трещины, а деформацию образца производят при изготовлении эталона.Преимуществами способа являются образование трещин заданного раскрытия в металле, заполняюшем паз, направленных поперек паза, длиной и глубиной соответственно равных ширине и глубине паза и предельно допустимым...