Патентоочйенеош ececoicshafi 1 hb. nfjotleka i

Номер патента: 1825978

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Гуров

МПК: G01B 21/02

Метки: геометрических, объекта, параметров, поверхности

...блок 7 может быть ре 40 ализован на базе персональных микроЭВМ,например, типа ДВК или семейства 1 ВМ.Световые пучки 8-12 могут быть непараллельными, расположенными под некоторыми углами друг к другу для расширения45 области измерений поверхности объекта.Аттестация образцовой поверхности 4может быть предварительно проведена с ис, пользованием меры плоскостности(аттестация расположения отражателей 18 - 22вдоль осей световых пучков 8-12) и мерыкруглости (аттестация ориентации отражателей 18-22 по углу).Мера плоскостности реализуется, например, в виде оптического клина круглой55 формы (по диаметру объекта в вертикальнойплоскости), причем одна из поверхностеймеры выполняется с высокой плоскостью иаттестуется. Расстояние от...

Номер патента: 393667

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 29/00, G01N 29/10

Метки: бесконтактного, движущегося, объекта, параметров, физических

...элекгрпческий сигнал, поступающий па селокторныйусилитель 4, управляемый прямоугольным импульсом формирователя 5, который запускается генератором 2,Импульсный сигнал с усилителя 4 поступает на управляющий вход ждущего импульсного генератора б, импульсом которого возбуждается акустическая головка 7,второго канала, излучающая ультразвуковой импульс внаправлении к другой стороне конгролируемого объекта 3. Отраженный от объекта ультразвуковой импульс,принимается головкой 7,преобразуется ею в электрический сигнал, который поступает через селекторный усилитель8, у 1 правляемый импульсами формирователя 9,и формирующий каскад 10 па один из входоввремяизмерительного блока 11.На второй вход времяпзмерительпого блока поступает импульс с...

Номер патента: 1670394

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Дрозд, Поперенко, Щайкевич

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, параметров, поверхности, поляризационных, рефлектометр

...размещена в плоскости, перпендикулярной плоскости столика 1, а другая - в плоскости горизонтально расположенного столика 2.Рефлектометр работает следующим образом,Направленное вдоль оси 00 излучение1попадает на зеркало 3, при вращении которого вокруг оси, перпендикулярной оси 00, излучение поочередно направляется либо на столик 1, либо на столик 2, а затем, после отражения от эталонного и контролируемого объектов и соответственно зеркал 10 и 11, направляется на зеркало 4, направляющее поочередно (вследствие кинематической связи с зеркалом 3) излучение либо от эталонного, либо от контролируемого объекта к фотоприемнику 5, где регистрируемый сигнал переменного тока (напряжения) прямо пропорционален уровню различия коэффициентов отражения...

Номер патента: 1633260

Опубликовано: 07.03.1991

Авторы: Раманаускас, Шилюнас, Шукис

МПК: G01B 5/00

Метки: геометрических, крупногабаритного, объекта, параметров

...образуют дополнительную измерительную ортогональную систему координат, производят измерение с отсчетом показаний по координатам КИМ и дополнительной системы и по разности их показаний судят о размерах обьекта. 1 ил. мещения, выбирают на обьекте 1 не менее трех точек 3 -5, равноудаленных от поверхности 2, измеряют расстояния между ними и образуют дополнительную измерительную ортогональную систему координат с центром в одной из выбранных точек, например, в точке 3 (0), при этом первая из осей ОУ системы координат ОХУ 2 проходит через точки 3(0) и 4, вторая ось 02 - параллельно плоскости 2 и перпендикулярно оси ОУ, а третья ОХ в силу ортогональности системы координат через точки 3(0) перпендикулярно плоскости 2, Производят измерения...

Номер патента: 237291

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Жданов

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, нагрева, объектов, электронном

...10 а также относительно большой массы и поверхности патрона такие устройства инерционны и не позволяют нагревать объект до высоких температур.Предлагаемое устройство отличается тем, 15 что, с целью повышения максимальной температуры объекта и уменьшения инерционности нагрева, между патроном и сеткой расположен теплоизолирующий слой, например тонкая пленка кварца. 20На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство.Оно состоит из металлического патрона 1, укрепляемого на стандартной втулке объектоеШастс атрона держателя 2. В патроне раз с объектом, отделенная от п теплоизолирующим слоем 4.Электронный луч 5, создав тельной системой микроскопа сетку, нагревает ее, а следова ленный на ней объект. Вслед масса сетки мала и...