Ультразвуковой способ контроля качества изделий

Номер патента: 1441299

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Гурвич, Лончак, Лохов

МПК: G01N 29/04

Метки: вертикально, дефектов, наличие, ориентированных, плоскостных, ультразвуковой

...колебания и измеряют разность между временем распространения продольных колебаний итрансформированных на дефекте продольных колебаний, По амплитуде отраженных донной поверхностью изделиятрансформированных на дефекте продольных колебаний определяют наличиедефекта, а по измеренной разностивремен - высоту дефекта,УЗ способа контроля иэделий наналичие вертикально ориентированныхплоскостных дефектов реализуют следующим образом.40 На поверхности изделия 1 толщиной Н устанавливают УЗ преобразователь 2 например прямой УЗ преобразовательФиз комплекта серийного импульсного УЗ дефектоскопа, С помощью преобразователя 2 чзлучают импульсы УЗ продольных колебаний й принимают отраженные донной поверхностью изделия 1 колебания, На экране УЗ...

Номер патента: 1827620

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Захаров, Капустина

МПК: G01N 29/10

Метки: качества, покрытий, тонкостенных, ультразвукового

...наблюдать этот суммарный сигнал на экране дефектоскопа (например УД 2 - 12), который имеет резонансные усилители, настраиваемые на рабочие частоты преобразователя, то на качественном участке изделия будет наблюдаться на экране дефектоскопа импульс с минимальной амплитудой, а на дефектном участке амплитуда этого импульса будет значительно больше.На фиг. 1 приведена функциональная блок-схема устройства, реализующего способ ультразвукового контроля качества тонкостенных изделий и покрытий по и. 1; на фиг.2 приведена функциональная блок-схема устройства, реализующего этот способ по и, 2; на фиг. 3: положение частотного минимума в суммарном спектре на бездефектном участке пьезокерамики из ЦТС - 19 толщиной 0,3 мм (а) и (б) - то же, на...

Номер патента: 1315891

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Рудая, Токарев

МПК: G01N 29/00

Метки: затухания, изделия, колебаний, коэффициента, материале, упругих

...и .прошедшего иэделиеимпульсов упругих колебаний на частотах, соответствующих максимумамамплитудного спектра прошедшего материал изделия импульса, что позволяет измерять коэффициент Ы затухания упругих колебаний вне зависимости от толщины материала изделия.Способ определения коэффициента,с затухания упругих колебаний в ма 13териале изделия осуществляется следующим образом,Изделие, в материале которогонеобходимо определить коэффициент озатухания, помещают между излучающим и приемным преобразователями виммерсионную ванну, заполненную жидкостью, например водой. Предварительно определяют с помощью анализатораспектра амплитудный спектр излученного импульса упругих колебаний приотсутствии изделия, Затем нормальнок направлению,...

Номер патента: 1221590

Опубликовано: 30.03.1986

Автор: Бакулин

МПК: G01N 29/04

Метки: качества, металлических

...может быть использовано для контроля поверхности металлических изделий на наличие дефектов типа пор, трещин, коррозионных поражений, контроля отслоений неметаллических покрытий.Цель изобретения - расширение области применения способа контроля с использованием акустически активных пенетрантов.Способ контроля качества металлических изделий осуществляется следующим образом.Поверхность контролируемого изделия обрабатывают веществом-пенетрантом, активируюпим поверхность, который проникает в дефекты, полости, адсорбируется продуктами коррозии. В зависимости от вида контролируемого металла в качестве вещества-пенетранта, активирующего коНтролируемую металлическую поверхность могут быть использованы для сталей кислоты, для алюминиевых сплавов -...

Номер патента: 219844

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Ггалй

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, наличие, тонкостенных, труб

...19 и ослабитель 20 отраженного от поверхности потока излучения, Модулятор 5 выполнен с зеркальной поверхностью 21.Принцип работы предлагаемого устройства заключается в следующем.Пучок излучения от источника 1 попадает на полупрозрачное зеркало 18, причем небольшая часть пучка, отразившись от него, попадает на отражающее зеркало 19 и направляется на модулятор 5. Прошедшая через полупрозрачное зеркало основная часть219844 каз 2665/6 Тираж ЦНИИ ПИ Комитета по и открытий при Совете Москва, Центр, пр530 Подписноеделам изобретенийМинистров СССРСерова, д. 4 Типография, пр. Сапуно пучка фокусируется на поверхность контролируемого изделия 22 и нагревает его на малой площади. Отраженный от поверхности изделия поток излучения проходит через...