Устройство для определения размеров дефекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 935756
Автор: Бобков
Текст
Союз СоветскикСоциалистическииРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕ ТЕЛЬ СТ 8 У пи 935756(51) М. Кл,С О 1 Х 23/ОЙ с присоелинениеи заявкиГасударственный квинтет СССР во делзи изобретений и открытий(23) ПрнорнтетОпубликовано 1506 82 Бюллетень22 Дата опубликования описания 15. 06,82(5 Й) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТАИзобретение относится к неразрушающим методам контроля качества материалов и изделий и может использоваться для определения преимущественно размеров дефекта в направлениипросвечивания при радиографическомконтроле,Известны устройства для определения размеров дефекта в материале илиизделии, содержащие источник излуче 1 Ония, дефектометр и рентгеновскую пленС 13Недостаток таких устройств - низкая точность определения размеров малых дефектов.15Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому является устройство для определения размера дефекта, содержащее источник ионизирующего излучения, дефектометр, регистратор теневого изображения контролируемого объекта и дефектометра, выполненный в виде набора рентгеновскихпленок одинаковой чувствительности,узлы обработки пленок и анализа полученных иэображений 2 1.Недостатком известного устройства является значительное время определения размера дефекта в направлении просвечивания, которое осуществляется при многократном просвечивании объекта и эталона на разные рентгеновские пленки с последовательно уменьшающимися экспозициями до исчезновения иэображения на радиографической пленке, либо дефекта, либо канавки дефектометра, по величине которой судят о размере дефекта.Цель изобретения - сокращение времени измерения.Эта цель достигается тем, что в устройстве, содержащем истоцник ионизирующего излучения, дефектометр, регистратор теневого иэображения контролируемого объекта и дефектометра, выполненный в виде набора рентгеновских пленок одинаковой чувствительности, узлы обработки пленок и анализа9357 Формула изобретения Составитель Н.ВалуевРедактор Й.Петрова Техред Т. Наточка Корректор И.Демчик Заказ 4196/42 Тираж 887 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, гаушская наб.,д. 4/5Подписное Ф 11 ю 1 ал ППП "Патенг", г. Ужгород, ул. Проектная,полученных изображений, рентгеновские пленки расположены по ходу потока излучения друг за другом и между пленками установлены ослабители потока излучения. 5Устройство работает следующим образом.Радиографирование объекта и дефектометра производят за одну экспозицию на несколько пленок одинаковой чувст вительности, предварительно проложив между ними ослабители потока ионизи" рующего излучения, Количество пленок, как правило,. не превышает 4-5 штук. Толщина и материал ослабителей, 5 1подбирается таким образом, чтобы интенсивность излучения при прохождении их уменьшалась наполовину. Например, при радиографировании излучением с энергией 80 кэВ применяются свинцо" вые фольги толщиной 0,04 мм. Экспони" рованные пленки должны обязательно подвергаться одновременной обработке, Размер дефекта определяется по рент" генограмме, на которой коэффициент 25 контрастности изображения либо канавок дефектометра, либо дефекта равен нулю.Таким образом, если на выбранной рентгенограмме сохранилось только ЗВ иэображение канавок дефектометра, можно заключить, что размер дефекта в направлении излучения меньше глубины канавки дефектометра и наоборот,56 4В частном случае, при равенстве размеров дефекта и канавок дефектометра, исчезают оба изображения,Предлагаемое устройство позволяет ускорить процесс измерения размеров дефекта за счет однократного экспонирования объекта и дефектометра на разные пленки, получающие разные дозы облученияУстройство для определения размеров дефекта, содержащее источник ионизирующего излучения, дефектометр,регистратор теневого изображенияконтролируемого объекта и дефектометра. выполненный в виде наборарентгеновских пленок одинаковой чувствительности, узлы обработки пленоки анализа полученных изображений,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,с целью сокращения времени измерения,рентгеновские пленки расположены походу потока излучения друг за другоми между пленками установлены ослабители потока излучения.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Румянцев С,В. Радиационная дефектоскопия. И Атомиздат, 1974,с, 260.2. Авторское свидетельство СССР11 1 б 8744, кл. 6 01 И 23/04, 1973
СмотретьЗаявка
2995311, 23.10.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4725
БОБКОВ ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 23/04
Опубликовано: 15.06.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-935756-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-razmerov-defekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения размеров дефекта</a>
Предыдущий патент: Конденсационный фотоэлектрический гигрометр
Следующий патент: Способ контроля изделий из многофазных материалов
Случайный патент: 278081